ZH
EN
ES

Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

Метод анализа сканирующей электронной микроскопии, Всего: 12 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Метод анализа сканирующей электронной микроскопии, являются: Образование, Оптическое оборудование, Аналитическая химия, Текстильные волокна.

Professional Standard - Education, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
• JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
• GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
• GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
• GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии

• GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Другие:   Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа, СЭМ-анализ, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа, метод СЭМ, SEM-анализ, метод СЭМ, Аналитические методы для SEM, СЭМ-анализ, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии, Метод СЭМ-анализа, Как анализировать сканирование электронного микроскопа, СЭМ-анализ, Метод анализа сканирующей электронной микроскопии, Аналитический метод сканирующего электронного микроскопа, Аналитический SEM, Как анализирует сканирующая электронная микроскопия, Аналитический SEM, СЭМ-анализ, Сканирующая электронная микроскопия. Элементный анализ, Как анализировать сканирование электронного микроскопа.