ZH
EN
ES

Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms

Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms, Всего: 10 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms, являются: Полупроводниковые материалы, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

Association Francaise de Normalisation, Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms

XP ISO/TS 13278:2018 Нанотехнологии - Определение примесей в образцах углеродных нанотрубок (УНТ) методом масс-спектроскопии с индуцированной плазмой (ICP-MS)
NF EN 17050:2017 Корма для животных. Методы отбора проб и анализа. Определение йода в кормах для животных методом высокочастотной масс-спектрометрии с индуцированной плазмой (ICP-MS).

German Institute for Standardization, Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms

DIN 50451-3:2014-11 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в азотной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 50451-7:2018-04 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 7. Определение 31 элемента в соляной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 50451-4:2007-02 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение микроэлементов в жидкостях. Часть 4. Определение 34 элементов в сверхчистой воде методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-МС).
DIN 50451-3:2014 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в азотной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 51456:2013-10 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Анализ поверхности кремниевых пластин методом многоэлементного определения в водных аналитических растворах с использованием масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-МС)
DIN 51456:2013 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Анализ поверхности кремниевых пластин методом многоэлементного определения в водных аналитических растворах с использованием масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-МС)

HU-MSZT, Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms

MNOSZ 700-3.lap-1955 Подготовка проб в испытательной лаборатории для анализа моделей полупроводников

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Подготовка образцов полупроводниковых приборов icp-ms

DB35/T 895-2009 Определение метилртути, этилртути и неорганической ртути в пробах окружающей среды методом высокоэффективной жидкостной хроматографии и спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ВЭЖХ-ИСП-МС)