ZH
EN
ES

Оже-электрон АЭС Спектр 2

Оже-электрон АЭС Спектр 2, Всего: 94 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Оже-электрон АЭС Спектр 2, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Испытание металлов, Электронные компоненты в целом, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения.

Association Francaise de Normalisation, Оже-электрон АЭС Спектр 2

NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхностей – регистрация и отчетность данных оже-электронной спектроскопии (AES)
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
NF ISO 24236:2006 Химический анализ поверхностей. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство энергетической шкалы.
NF ISO 17973:2006 Химический анализ поверхности — электронные оже-спектрометры среднего разрешения — калибровка энергетических шкал для элементного анализа
NF ISO 29081:2010 Химический анализ поверхностей - Электронная оже-спектроскопия - Указание реализуемых методов контроля и коррекции заряда.
NF ISO 17974:2009 Химический анализ поверхности - Оже-электронные спектрометры высокого разрешения - Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.

International Organization for Standardization (ISO), Оже-электрон АЭС Спектр 2

ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO/DIS 17973:2023 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 15471:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO/CD 17973 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

German Institute for Standardization, Оже-электрон АЭС Спектр 2

DIN ISO 16242:2020-05 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке
DIN ISO 16242:2020 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Оже-электрон АЭС Спектр 2

GB/T 35158-2017 Метод поверки электронных оже-спектрометров (АЭС)
GB/T 32565-2016 Химический анализ поверхности — запись и отчетность данных с помощью электронной оже-спектроскопии (AES).
GB/T 32998-2016 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия — отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Оже-электрон АЭС Спектр 2

GB/T 26533-2011 Общие правила электронного оже-спектроскопического анализа
GB/Z 32494-2016 Анализ поверхности. Химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Интерпретация химической информации.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 25187-2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание некоторых параметров работы прибора.
GB/T 31470-2015 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в регистрируемый сигнал в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах.
GB/T 29558-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
GB/T 29732-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
GB/T 29731-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
GB/T 30702-2014 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

Professional Standard - Machinery, Оже-электрон АЭС Спектр 2

JB/T 6976-1993 Метод идентификации элементов оже-электронной спектроскопии

Professional Standard - Electron, Оже-электрон АЭС Спектр 2

SJ/T 10457-1993 Стандартное руководство для оже-электронной спектроскопии с определением профиля глубины
SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Оже-электрон АЭС Спектр 2

GB/T 36504-2018 Руководство по анализу загрязнения поверхности печатной платы — электронная оже-спектроскопия.
GB/T 36533-2018 Определение химического состояния микрожелеза в силикате методом электронной оже-спектроскопии.
GB/T 29732-2021 Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Оже-электрон АЭС Спектр 2

ASTM E1127-91(1997) Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
ASTM E1127-08(2015) Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
ASTM E1127-08 Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
ASTM E996-10(2018) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-19 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-04 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-10 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E984-95(2001) Стандартное руководство по идентификации химических эффектов и матричных эффектов в электронной оже-спектроскопии
ASTM E984-95 Стандартное руководство по идентификации химических эффектов и матричных эффектов в электронной оже-спектроскопии
ASTM E984-12(2020) Стандартное руководство по идентификации химических эффектов и матричных эффектов в электронной оже-спектроскопии
ASTM E984-06 Стандартное руководство по идентификации химических эффектов и матричных эффектов в электронной оже-спектроскопии
ASTM E984-12 Стандартное руководство по идентификации химических эффектов и матричных эффектов в электронной оже-спектроскопии
ASTM E1217-11(2019) Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах

British Standards Institution (BSI), Оже-электрон АЭС Спектр 2

PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
BS ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BS ISO 15471:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 17973:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Оже-электрон АЭС Спектр 2

KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 15471-2005(2020) Химический анализ поверхности－Электронная оже-спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 17973-2011(2016) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности－Электронная оже-спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 17973-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 17974-2011(2016) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
KS D ISO 18118-2005(2020) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа h.
KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 17974-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния

未注明发布机构, Оже-электрон АЭС Спектр 2

BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 17974:2002(2010) Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

RU-GOST R, Оже-электрон АЭС Спектр 2

GOST R ISO 16242-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Оже-электрон АЭС Спектр 2

JIS K 0161:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

Standard Association of Australia （SAA）, Оже-электрон АЭС Спектр 2

AS ISO 18118:2006 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.