ZH
EN
ES

фотоэлектрическая спектроскопия

фотоэлектрическая спектроскопия, Всего: 39 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к фотоэлектрическая спектроскопия, являются: Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Цветные металлы, Неразрушающий контроль, Ферросплавы, Испытание металлов, Медицинское оборудование, Обработка поверхности и покрытие, Коррозия металлов, Изделия из железа и стали.

American Society for Testing and Materials (ASTM), фотоэлектрическая спектроскопия

ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

International Organization for Standardization (ISO), фотоэлектрическая спектроскопия

ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 19318:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 19318:2021 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

British Standards Institution (BSI), фотоэлектрическая спектроскопия

BS ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
BS ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), фотоэлектрическая спектроскопия

KS D ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
KS D ISO 19272:2018 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), фотоэлектрическая спектроскопия

JIS K 0162:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Professional Standard - Non-ferrous Metal, фотоэлектрическая спектроскопия

YS/T 631-2007 Методы анализа цинка. Оптическая эмиссионная спектрометрия.
YS/T 482-2005 Методы анализа меди и медных сплавов. Атомно-эмиссионная спектрометрия.

Association Francaise de Normalisation, фотоэлектрическая спектроскопия

NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.

GOSTR, фотоэлектрическая спектроскопия

GOST 9716.2-1979 Медно-цинковые сплавы. Метод спектрального анализа металлических эталонов с фотоэлектрической регистрацией спектра

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, фотоэлектрическая спектроскопия

GB/T 26042-2010 Методы анализа цинка и цинковых сплавов. Оптическая эмиссионная спектрометрия.
GB/T 7999-2000 Стандартный метод прямого считывающего спектрометрического анализа алюминия и его сплавов

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, фотоэлектрическая спектроскопия

CNS 10006-1984 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа железа и стали
CNS 9706-1984 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа железа и стали
CNS 13921-1997 Метод атомно-эмиссионного спектрофотоэлектрического анализа литья под давлением цинкового сплава
CNS 10005-1984 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов

Standard Association of Australia （SAA）, фотоэлектрическая спектроскопия

AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Professional Standard - Commodity Inspection, фотоэлектрическая спектроскопия

SN/T 2260-2010 Определение химических соединений меди катодно-фотоэмиссионным спектроскопическим методом.
SN/T 2489-2010 Определение содержания Cr、Mn、P、Si в чугунах-метод фотоэлектрической эмиссионной спектроскопии

KR-KS, фотоэлектрическая спектроскопия

KS D ISO 19272-2018(2023) Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)
KS D ISO 19272-2018 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)