ZH
EN
ES

XP AES+

XP AES+, Всего: 6 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к XP AES+, являются: Аналитическая химия.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XP AES+

• GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

International Organization for Standardization (ISO), XP AES+

• ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.
• ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

British Standards Institution (BSI), XP AES+

• BS ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
• 19/30399949 DC BS ISO 16531. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
• BS ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.

Другие:   XPS, xps怎么分峰, å¦‚ä½•ç ¨XPSè°±å›¾ç¡ ®å®šå…ƒç´ çšä»·æ€, хпс, хпс, аес+ электроника, аес+, хпс, aes+ атомная флуоресценция, AES+шнек, айс+icp, ICP AES+, XP AES+, aes+ атом, aes+ анализ, AES+потоковая передача, aes+ контент, хпс хпс, хпс + хпс, xps против xps с высокой энергией.