ZH
EN
ES
Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в, Всего: 18 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Физика. Химия.
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
International Organization for Standardization (ISO), Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
Association Francaise de Normalisation, Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
British Standards Institution (BSI), Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Сканирующая электронная микроскопия и анализ изображений в
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.