ZH
EN
ES

Как измерить плотность носителей

Как измерить плотность носителей, Всего: 59 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как измерить плотность носителей, являются: Строительные материалы, Испытание металлов, Полупроводниковые материалы, Неорганические химикаты, Оборудование непрерывного действия, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Электромагнитная совместимость (ЭМС), Измерения радиации, Атомная энергетика, Аналитическая химия, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Проведение материалов.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как измерить плотность носителей

KS F 2234-2004(2014) Метод измерения массы на единицу объема (плотности) и массы на единицу площади поверхности полистирольных композитных древесноволокнистых цементных плит.
KS M ISO 283-1:2011 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.
KS M ISO 283-1:2007 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.
KS C IEC 60512-5-2:2003 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик при температуре тока.
KS C IEC 60512-5-2:2014 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик при температуре тока.
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) Разъемы для электронного оборудования - Испытания и измерения - Часть 5 - 2: Ток - испытания несущей способности - Испытание 5b: Ток - снижение номинальных характеристик при температуре
KS C IEC 61788-17:2020 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как измерить плотность носителей

GB/T 8757-1988 Определение концентрации носителей заряда в арсениде галлия по минимуму плазменного резонанса
GB/T 8757-2006 Определение концентрации носителей заряда в арсениде галлия по минимуму плазменного резонанса
GB/T 37543-2019(英文版) Метод измерения общей напряженности электрического поля и плотности ионного тока линии электропередачи постоянного тока и преобразовательной подстанции
GB/T 11068-1989 Эпитаксиальный слой арсенида галлия. Определение концентрации носителей заряда. Вольт-емкостный метод.
GB/T 11068-2006 Эпитаксиальный слой арсенида галлия. Определение концентрации носителей тока вольт-емкостным методом.
GB 11068-1989 Вольт-емкостный метод измерения концентрации носителей в эпитаксиальном слое GaAs

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как измерить плотность носителей

ASTM F1392-00 Стандартный метод испытаний для определения профилей чистой плотности носителей заряда в кремниевых пластинах путем измерения напряжения-емкости с помощью ртутного зонда
ASTM F1393-92(1997) Стандартный метод испытаний для определения чистой плотности носителей заряда в кремниевых пластинах путем измерений профилировщиком обратной связи Миллера с помощью ртутного зонда
ASTM E265-98 Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
ASTM E265-98(2002) Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
ASTM E265-07e1 Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
ASTM E265-07 Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
ASTM F398-92(1997) Стандартный метод определения концентрации основных носителей заряда в полупроводниках путем измерения волнового числа или длины волны минимума плазменного резонанса
ASTM F391-96 Стандартные методы определения диффузионной длины неосновных носителей заряда в внешних полупроводниках путем измерения стационарной поверхностной фотоэдс

KR-KS, Как измерить плотность носителей

KS M ISO 283-1-2007 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.
KS C IEC 61788-17-2020 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

RO-ASRO, Как измерить плотность носителей

STAS 11071/21-1990 Иерархия средств измерений. Структурная схема иерархии средств измерения плотности потока тепловых нейтронов

British Standards Institution (BSI), Как измерить плотность носителей

BS EN 60512-5-2:2002 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик тока при температуре
PD IEC TS 62607-5-3:2020 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Тонкопленочные органические/наноэлектронные устройства. Измерения концентрации носителей заряда
BS ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
BS ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
19/30399949 DC BS ISO 16531. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
BS EN IEC 61788-17:2021 Отслеживаемые изменения. Сверхпроводимость. Электронные характеристики измерения. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
19/30391554 DC БС ЕН 61788-17. Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Как измерить плотность носителей

GB/T 37543-2019 Метод измерения общей напряженности электрического поля и плотности ионного тока линии электропередачи постоянного тока и преобразовательной подстанции
GB/T 39843-2021 Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

AENOR, Как измерить плотность носителей

UNE-EN 60512-5-2:2002 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания нагрузочной способности по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик тока при изменении температуры.

RU-GOST R, Как измерить плотность носителей

GOST 8.105-1980 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный специальный стандарт и Общесоюзный график поверки средств измерения плотности и флюенса потока нейтронов на ядерных установках
GOST 8.033-1984 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный первичный эталон и общесоюзный график поверки средств измерения активности нуклидов

International Electrotechnical Commission (IEC), Как измерить плотность носителей

IEC 60512-5-2:2002 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания нагрузочной способности по току; Тест 5b: Снижение номинальных характеристик при текущей температуре
IEC TS 62607-5-3:2020 Нанопроизводство. Ключевые характеристики контроля. Часть 5-3. Тонкопленочные органические/наноэлектронные устройства. Измерения концентрации носителей заряда.
IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
IEC 61788-17:2021 RLV Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

Association Francaise de Normalisation, Как измерить плотность носителей

NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик при изменении температуры тока.
NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
NF EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17: измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках с большой поверхностью.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как измерить плотность носителей

JIS C 5402-5-2:2005 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания нагрузочной способности по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик тока при изменении температуры

Professional Standard - Electron, Как измерить плотность носителей

SJ 3244.1-1989 Методы измерения холловской подвижности и концентрации носителей арсенида галлия и фосфида индия

Lithuanian Standards Office , Как измерить плотность носителей

LST EN 60512-5-2-2003 Разъемы для электронного оборудования. Тесты и измерения. Часть 5-2: Испытания допустимой токовой нагрузки. Тест 5b: Снижение номинальных характеристик при изменении температуры (IEC 60512-5-2:2002)

German Institute for Standardization, Как измерить плотность носителей

DIN EN 60512-5-2:2003-01 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания нагрузочной способности по току; Тест 5b: Снижение номинальных характеристик при изменении температуры (IEC 60512-5-2:2002)
DIN EN 60512-5-2:2003 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания нагрузочной способности по току; Испытание 5b: Снижение номинальных характеристик при изменении температуры (IEC 60512-5-2:2002); Немецкая версия EN 60512-5-2:2002.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как измерить плотность носителей

GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

Danish Standards Foundation, Как измерить плотность носителей

DS/EN 60512-5-2:2002 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик тока при изменении температуры.
DS/EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
DS/EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

International Organization for Standardization (ISO), Как измерить плотность носителей

ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.
ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Как измерить плотность носителей

EN 60512-5-2:2002 Разъемы для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 5-2. Испытания допустимой нагрузки по току. Испытание 5b. Снижение номинальных характеристик тока при изменении температуры.
EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

ES-UNE, Как измерить плотность носителей

UNE-EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июле 2021 г.)
UNE-EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади (одобрено AENOR в мае 2013 г.).