Стереомикроскоп против обычного микроскопа

Стереомикроскоп против обычного микроскопа, Всего: 47 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Стереомикроскоп против обычного микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Строительные материалы, Текстильные волокна, Приложения для обработки изображений документов, Линейные и угловые измерения, Метрология и измерения в целом, Словари, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

GB/T 22058-2008 Микроскопы-Маркировка стереомикроскопов
GB/T 19864.1-2005 Стереомикроскопы.Часть 1: Стереомикроскопы общего назначения.
GB/T 19864.2-2005 Стереомикроскопы.Часть 2:Высокопроизводительные микроскопы.
GB/T 19864.1-2013 Стереомикроскопы.Часть 1: Стереомикроскопы общего назначения.
GB/T 19864.2-2013 Стереомикроскопы.Часть 2: Высокопроизводительные микроскопы.
GB/T 19863-2005 Тестирование стереомикроскопов

British Standards Institution (BSI), Стереомикроскоп против обычного микроскопа

BS 7012-10.1:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS 7012-14:1997 Световые микроскопы. Маркировка стереомикроскопов
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов

Professional Standard - Machinery, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

JB/T 7816-1995 Стереомикроскоп

International Organization for Standardization (ISO), Стереомикроскоп против обычного микроскопа

ISO 11883:1997 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Маркировка стереомикроскопов
ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 11884-1:1998 Оптика и оптические инструменты. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 11884-2:1997 Оптика и оптические инструменты. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
ISO 20705:2019 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы испытаний.
ISO 15362:1998 Оптика и оптические приборы - Стереомикроскопы - Информация, предоставляемая пользователю

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Стереомикроскоп против обычного микроскопа

KS B ISO 15227:2013 Оптика и оптические приборы ― микроскопы ― испытания стереомикроскопов
KS B ISO 15227:2003 Оптика и оптические приборы-Микроскопы-Испытание стереомикроскопов
KS M 2617-2007(2022) Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 11884-2-2021 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B ISO 19012-1-2021 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 15362:2006 Оптика и оптические приборы-Стереомикроскопы-Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 15362:2016 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 15362-2021 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю

Association Francaise de Normalisation, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

X11-660:1983 Анализ размера частиц методом оптического микроскопа. Общие показания к микроскопу.
NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
NF S10-132-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1: словарь и общие свойства.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

GB/T 36529-2018 Стереомикроскопы — информация, предоставляемая пользователю.

Group Standards of the People's Republic of China, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

T/CSIQ 3101-2015 Метод стереомикроскопа для исследования микроструктуры поверхности керамических произведений искусства

European Committee for Standardization (CEN), Стереомикроскоп против обычного микроскопа

EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы испытаний (ISO 20705:2019)

RU-GOST R, Стереомикроскоп против обычного микроскопа

GOST 13.1.601-1989 Репрография. Микрография. Объектив. Общие технические требования
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки