ZH
EN
ES

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Всего: 92 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Неразрушающий контроль, Электронные компоненты в целом, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Линейные и угловые измерения, Цветные металлы, Физика. Химия.

German Institute for Standardization, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке

International Organization for Standardization (ISO), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность о пределах обнаружения элементов в однородных материалах.
ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

British Standards Institution (BSI), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность по пределам обнаружения элементов в однородных материалах
20/30423741 DC BS ISO 19318. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
BS ISO 19318:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
IEC 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. - Часть 6-21: Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

GB/T 25184-2010 Метод поверки рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
GB/T 19500-2004 Общие правила метода рентгенофотоэлектронно-спектроскопического анализа
GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
GB/T 31470-2015 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в регистрируемый сигнал в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах.
GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
GB/T 25188-2010 Измерение толщины сверхтонких слоев оксида кремния на кремниевых пластинах. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
GB/T 28633-2012 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.
GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
GB/T 30702-2014 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-04 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-10 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-10(2018) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-19 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2735-14(2020) Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2108-16 Стандартная практика калибровки шкалы энергии связи электронов рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
ASTM E902-94(1999) Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
ASTM E1523-97 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1523-15 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1217-11(2019) Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах

Professional Standard - Electron, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
SJ/T 10714-1996 Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.

Association Francaise de Normalisation, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

未注明发布机构, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

KR-KS, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 18118-2005(2020) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа h.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

JIS K 0152:2014 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

YS/T 644-2007 Метод определения пленки сплава Pt-Rn. Определение содержания легированной Pt и содержания легированного Rn методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

RU-GOST R, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

International Electrotechnical Commission (IEC), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

IEC TS 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-21. Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.