ZH
EN
ES

Особенности измерительного микроскопа

Особенности измерительного микроскопа, Всего: 117 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Особенности измерительного микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Материалы для аэрокосмического строительства, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Электрические провода и кабели, Жидкостные энергетические системы, Аналитическая химия, Сырье для резины и пластмасс, Испытание металлов, Качество воздуха, Строительные материалы, Физика. Химия, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие, Приложения для обработки изображений документов, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Микробиология, Пластмассы, Коррозия металлов, Стекло, Текстильные волокна, Условия и процедуры испытаний в целом.

British Standards Institution (BSI), Особенности измерительного микроскопа

BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 18221:2016 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик обработки изображений
18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
BS ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Объемные материалы. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
BS IEC 62629-12-2:2019 Устройства 3D-дисплея. Методы измерения стереоскопических дисплеев с использованием очков. Размытость
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
PD IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия
BS ISO 14648-1:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения
BS ISO 14648-1:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS EN ISO 20706-1:2019 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых лубяных волокон (льна, конопли, рами) и их смесей. Идентификация волокон методами микроскопии.

International Organization for Standardization (ISO), Особенности измерительного микроскопа

ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 14648-1:2001 Микрографика. Контроль качества устройств записи COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 1. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.

CZ-CSN, Особенности измерительного микроскопа

CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Особенности измерительного микроскопа

JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик

American Society for Testing and Materials (ASTM), Особенности измерительного микроскопа

ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM C1356-96(2001) Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B651-83(2019) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
ASTM D5770-02 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-96 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-02(2007) Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM F3294-18 Стандартное руководство по проведению количественных измерений интенсивности флуоресценции в клеточных анализах с помощью широкопольной эпифлуоресцентной микроскопии
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM B651-83(2001) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(1995) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2006) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2015) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM C1356-07 Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM C1356-07(2012) Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM C978-04(2019) Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Особенности измерительного микроскопа

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

HU-MSZT, Особенности измерительного микроскопа

MSZ 3227/2-1980 Метод обнаружения шерсти использует микроскоп для определения диаметра шерсти.
MSZ 14340/3-1979 Закрытый радиоактивный источник. Технические требования и классификация радиоактивных источников 60Co, используемых в микроскопах.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Особенности измерительного микроскопа

KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
KS C IEC 62629-12-1:2022 Устройства 3D-дисплея. Часть 12-1. Методы измерения стереоскопических дисплеев с использованием очков. Оптика
KS D 0204-2007(2022) Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D 0204-2002 Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D 0204-2007(2017) Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS I ISO 8672:2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.
KS I ISO 8672-2006(2017) Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).
KS X ISO 14648-1-2007(2022) Микрографика. Контроль качества устройств записи COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 1. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Особенности измерительного микроскопа

SPB-M6-1-2010 Апрель 08: Межфазные и реологические свойства асфальтенов, исследованные с помощью АСМ.
SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)

German Institute for Standardization, Особенности измерительного микроскопа

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN 58959-4:1997-06 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов

IT-UNI, Особенности измерительного микроскопа

UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
UNI 6500-1969 Анодирование накладок из алюминия и его сплавов. Измерение толщины футеровки оптическим микроскопом

RU-GOST R, Особенности измерительного микроскопа

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
GOST R ISO 4967-2009 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.

PL-PKN, Особенности измерительного микроскопа

PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.
PN Z04097 Arkusz 01-1974 Защита чистоты воздуха Испытания гранулометрического состава пыли Измерение количественного распределения проективных частиц размером ^2 (им с помощью микроскопа без использования иммерсионной жидкости)

TIA - Telecommunications Industry Association, Особенности измерительного микроскопа

TIA/EIA-455-45-B-1992 Метод FOTP-45 для измерения геометрии оптического волокна с помощью лабораторного микроскопа (отозвано в мае 2003 г.)

未注明发布机构, Особенности измерительного микроскопа

DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
DIN EN ISO 8503-3:1995 Характеристики шероховатости поверхности стальных поверхностей, прошедших струйную очистку. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения профиля поверхности DIN с использованием фокусирующего микроскопа.

International Electrotechnical Commission (IEC), Особенности измерительного микроскопа

IEC 63145-22-10:2020 Дисплей для очков. Часть 22-10. Специальные методы измерения для типа AR. Оптические свойства
IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Часть 9-1. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия

RO-ASRO, Особенности измерительного микроскопа

SR ISO 4407:1991 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами методом подсчета с использованием микроскопа.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Особенности измерительного микроскопа

GB/T 34879-2017 Геометрические характеристики изделия (GPS). Метрологические характеристики и руководство по неопределенности измерений для оптических конфокальных микроскопов.

Association Francaise de Normalisation, Особенности измерительного микроскопа

NF T70-360:2007 Энергетические материалы для обороны. Физико-химические анализы и свойства. Измерение глубины проникновения пластификаторов и/или сдерживающих веществ. Метод микроскопии.
NF X43-066-2*NF ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF A04-115:1987 Железо и сталь. Характеристика форм сульфидов в автоматных сталях с использованием стандартных диаграмм. Микрографический метод.
NF T51-621:2000 Пластмассы. Определение поведения плавления (температуры плавления или интервала плавления) полукристаллических полимеров методами капиллярной трубки и поляризационного микроскопа.
NF EN 60556/A1:2016 Гиромагнитные материалы для микроволнового применения. Методы измерения свойств.

BE-NBN, Особенности измерительного микроскопа

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

KR-KS, Особенности измерительного микроскопа

KS C IEC 62629-12-1-2022 Устройства 3D-дисплея. Часть 12-1. Методы измерения стереоскопических дисплеев с использованием очков. Оптика
KS I ISO 8672-2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.

BELST, Особенности измерительного микроскопа

STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии
STB 2209-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Методика определения элементного состава с помощью измерений сканирующей электронной микроскопии.

CH-SNV, Особенности измерительного микроскопа

VSM 34130-1934 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии
VSM 18653.1-1965 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Особенности измерительного микроскопа

GB/T 20494.1-2006 Микрографика. Контроль качества COM-регистраторов, генерирующих изображения с помощью одного внутреннего дисплея. Часть 1: Характеристики объекта тестирования
GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)