ZH
EN
ES

Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Всего: 223 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Электронные компоненты в целом, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Медицинское оборудование, Обработка поверхности и покрытие, Коррозия металлов, Металлоносные полезные ископаемые, Геология. Метеорология. Гидрология, Продукция химической промышленности, Огнеупоры, Атомная энергетика, СРЕДА. ОХРАНА ЗДОРОВЬЯ. БЕЗОПАСНОСТЬ, Физика. Химия, Керамика, Нерудные полезные ископаемые, Бумага и картон, Цветные металлы, Нефтепродукты в целом.

German Institute for Standardization, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке
DIN EN ISO 21587-3:2007-12 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3. Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии (ISO 21587-3:2007); Немецкая версия EN ISO 21587-3:2007.
DIN EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3. Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии (ISO 21587-3:2007); Английская версия DIN EN ISO 21587-3:2007-12.
DIN EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-
DIN EN ISO 10058-3:2009 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES) (ISO 10058-3:20)
DIN 51577-4:1994 Испытания углеводородов нефтепродуктов и аналогичных продуктов; определение содержания хлора и брома; анализ методом энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии с использованием недорогих приборов
DIN 51577-4:2023-07 Тестирование углеводородов минерального масла и аналогичных продуктов. Определение содержания хлора и брома. Анализ методом энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии с использованием недорогих приборов.

International Organization for Standardization (ISO), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 22489:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность о пределах обнаружения элементов в однородных материалах.
ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 10058-3:2008 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
ISO 20565-3:2008 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-
ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация, полученная в режиме, близком к реальному времени, при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации и коррекции загрязнения поверхности углеродосодержащими веществами.

British Standards Institution (BSI), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
BS ISO 22489:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
BS ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
BS ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
BS ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность по пределам обнаружения элементов в однородных материалах
23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
20/30423741 DC BS ISO 19318. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 15632:2012 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе
BS ISO 15632:2021 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров (EDS) для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM) или электронно-зондовым микроанализатором (EPMA)
BS ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
BS ISO 19318:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS 6043-2.4:2000 Методы отбора проб и испытаний углеродсодержащих материалов, используемых в производстве алюминия. Электродный кокс. Анализ методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии.
BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS EN ISO 10058-3:2009 Химический анализ магнезитовых и доломитовых огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Атомно-абсорбционная спектрофотометрия в пламени (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
BS EN ISO 10058-3:2008 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
19/30394914 DC BS ISO 15632. Микролучевой анализ. Отдельные рабочие параметры прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроскопе или электронно-зондовом микроанализаторе (ЭПМА)
BS EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии
BS EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Атомно-абсорбционная спектрометрия в пламени (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
BS EN ISO 20565-3:2008 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-A).
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация практически в реальном времени, получаемая при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила выявления и устранения загрязнения поверхности углеродсодержащими соединениями
23/30409204 DC БС ЕН МЭК 62321-3-1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ НЕКОТОРЫХ ВЕЩЕСТВ В ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ ПРОДУКЦИИ - Часть 3-1. Элементный скрининг методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
IEC 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. - Часть 6-21: Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 19500-2004 Общие правила метода рентгенофотоэлектронно-спектроскопического анализа
GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
GB/T 31470-2015 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в регистрируемый сигнал в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах.
GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
GB/T 28633-2012 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.
GB/T 20726-2015 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
GB/T 30702-2014 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
GB/T 30701-2014 Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонов кремниевых пластин и их определение методом рентгенофлуоресцентной (TXRF) спектроскопии полного отражения.
GB/T 2679.11-2008 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод SEM/EDAX.
GB/T 2679.11-1993 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод СЭМ/EDAX

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 22489:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
KS D ISO 22489:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 15472:2003 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры-Калибровка энергетических шкал
KS D ISO 15472-2003(2018) Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — коррекция калибровки по энергии
KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 18118-2005(2020) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа h.
KS D ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
KS D ISO 15632:2018 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
KS L ISO 20565-3-2012(2017) Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) – Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и индуктивный метод.
KS L ISO 20565-3-2012(2022) Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) – Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и индуктивный метод.
KS L ISO 10058-3-2012(2022) Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) – Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и индуктивно-связанный атом плазмы.
KS L ISO 10058-3:2012 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) – Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
KS L ISO 10058-3-2012(2017) Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) – Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и индуктивно-связанный атом плазмы.
KS L ISO 20565-3:2012 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)

Professional Standard - Electron, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1217-11(2019) Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-11 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-00 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-05 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1588-16 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-16a Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-17 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM C1110-03(2008) Стандартная практика подготовки проб для рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа урана в рудах методом плавления стекла или методом прессованного порошка
ASTM C1110-88(1997)e1 Стандартная практика подготовки проб для рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа урана в рудах методом плавления стекла или методом прессованного порошка
ASTM D7343-07 Стандартная практика оптимизации, обработки проб, калибровки и валидации методов рентгенофлуоресцентной спектрометрии для элементного анализа нефтепродуктов и смазочных материалов
ASTM D7343-18 Стандартная практика оптимизации, обработки проб, калибровки и валидации методов рентгенофлуоресцентной спектрометрии для элементного анализа нефтепродуктов и смазочных материалов
ASTM D7343-20 Стандартная практика оптимизации, обработки проб, калибровки и валидации методов рентгенофлуоресцентной спектрометрии для элементного анализа нефтепродуктов и смазочных материалов
ASTM D7343-12(2017) Стандартная практика оптимизации, обработки проб, калибровки и валидации методов рентгенофлуоресцентной спектрометрии для элементного анализа нефтепродуктов и смазочных материалов
ASTM C1110-03 Стандартная практика подготовки проб для рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа урана в рудах методом плавления стекла или методом прессованного порошка
ASTM D7343-12 Стандартная практика оптимизации, обработки проб, калибровки и валидации методов рентгенофлуоресцентной спектрометрии для элементного анализа нефтепродуктов и смазочных материалов
ASTM B982-12 Стандартные спецификации для отбора и подготовки проб свинца и свинцовых сплавов для оптически-эмиссионного спектрометрического или ICP-анализа
ASTM B982-14 Стандартные спецификации для отбора и подготовки проб свинца и свинцовых сплавов для оптического эмиссионного спектрометрического или ICP-анализа
ASTM B982-14e1 Стандартные спецификации для отбора и подготовки проб свинца и свинцовых сплавов для оптического эмиссионного спектрометрического или ICP-анализа
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)

Association Francaise de Normalisation, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
NF X21-006:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
NF X21-055:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал.
NF X21-003:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
NF EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (метод, альтернативный рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: методы атомно-абсорбционной спектрометрии (ААС) и атомно-эмиссионной спектрометрии с плазмой...
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF B49-329-3*NF EN ISO 10058-3:2009 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)
NF EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (метод, альтернативный рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: методы атомно-абсорбционной спектрометрии в...
NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии
NF B49-435-3*NF EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP)

Standard Association of Australia （SAA）, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
AS ISO 18118:2006 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
AS ISO 24237:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.
GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
GB/T 39560.301-2020 Определение некоторых веществ в электрических и электронных изделиях. Часть 3-1. Скрининг свинца, ртути, кадмия, общего хрома и общего брома методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

未注明发布机构, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

KR-KS, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.
KS D ISO 22489-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 22489-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 15632-2018 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

JIS K 0152:2014 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
JIS K 0145:2002 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
JIS K 0162:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
JIS K 0189:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Определение экспериментальных параметров для волнодисперсионной рентгеновской спектроскопии.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Professional Standard - Geology, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DZ/T 0279.10-2016 Методы анализа региональных геохимических проб. Часть 10. Определение содержания хлора и брома. Количественное сжатие порошка. Рентгенофлуоресцентная спектрометрия.
DZ/T 0279.1-2016 Аналитические методы региональных геохимических проб. Часть 1. Определение 24 компонентов, таких как оксид алюминия и другие компоненты, методом сжатия порошка — рентгенофлуоресцентная спектрометрия.
DZ/T 0279.9-2016 Методы анализа региональных геохимических проб. Часть 9. Определение содержания таллия в пене - атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
DZ/T 0279.2-2016 Аналитические методы региональных геохимических проб. Часть 2. Определение 27 компонентов, таких как оксид кальция, методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DB34/T 2127.2-2014 Методы анализа проб для региональных геохимических исследований. Часть 2. Определение содержания мультиэлементов методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

Danish Standards Foundation, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DS/EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3. Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии
DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
DS/EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-
DS/EN ISO 10058-3:2009 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES)

Professional Standard - Commodity Inspection, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

SN/T 2003.4-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 4. Качественный скрининг энергодисперсионным рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.
SN/T 2003.5-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 5. Количественный скрининг энергодисперсионным рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.
SN/T 2003.1-2005 Определение свинца, ртути, кадмия, хрома и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 1: Качественный скрининг с помощью рентгенофлуоресцентного спектрометрического метода с дисперсией по длине волны.
SN/T 2003.3-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 3. Качественный скрининг рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.

Lithuanian Standards Office , Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

LST EN ISO 20565-3:2009 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-
LST EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии (ISO 21587-3:2007)
LST EN ISO 10058-3:2009 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES) (ISO 10058-3:20)

RU-GOST R, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

AENOR, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

UNE-EN ISO 21587-3:2008 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии (ISO 21587-3:2007)

European Committee for Standardization (CEN), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

EN ISO 20565-3:2008 Химический анализ хромсодержащих огнеупорных изделий и хромсодержащего сырья (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (ICP-
EN ISO 10058-3:2008 Химический анализ огнеупорных изделий из магнезита и доломита (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP-AES) (ISO 10058-3:20)

International Electrotechnical Commission (IEC), Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

IEC TS 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-21. Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.