ZH
EN
ES

Кристаллическая форма и фаза

Кристаллическая форма и фаза, Всего: 500 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Кристаллическая форма и фаза, являются: Стекло, Полупроводниковые материалы, Цветные металлы, Изделия цветных металлов, Изделия из железа и стали, Электронные устройства отображения, Фотография, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Системы дорожного транспорта, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Детали трубопроводов и трубопроводы, Черные металлы, Электронные компоненты в целом, Режущие инструменты, Солнечная энергетика, Организация и управление компанией, Материалы для армирования композитов, Полупроводниковые приборы, Качество воздуха, Анализ размера частиц. просеивание, Оптическое оборудование, Испытание металлов, Медицинское оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Керамика, Неразрушающий контроль, Продукция химической промышленности, Производство металлов, Неорганические химикаты, Элементы зданий, Компоненты для электрооборудования, Магнитные материалы, Электрические фильтры, Сварка, пайка и пайка, Защита зданий и внутри зданий, Часовое искусство, Корма для животных, Оптика и оптические измерения, Космические системы и операции, Энергетика и теплопередача в целом, Краски и лаки, Крепежи, Условия и процедуры испытаний в целом, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Ювелирные изделия, Аналитическая химия, Коррозия металлов, Изоляционные жидкости, Кожаные технологии, Словари, Двигатель внутреннего сгорания.

International Organization for Standardization (ISO), Кристаллическая форма и фаза

PRF IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
ISO 419:1972 Тиосульфат натрия фотографической чистоты, кристаллический; Спецификация
ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы

Professional Standard - Electron, Кристаллическая форма и фаза

SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
SJ/Z 9154.2-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристаллического блока. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения динамической емкости кварцевых кристаллических элементов.
SJ 51648/5-1997 Тип ZC 503, генераторы, кристалл, подробная спецификация для
SJ 51648.4-1995 Генератор, кварцевый, тип ZC505E, подробная спецификация для
SJ 2816.1-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J1
SJ 2816.3-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J3
SJ 20639-1997 Спецификация черного жидкокристаллического гостевого хоста
SJ 51648/1-1994 Генератор, кварцевый, тип ZF507, подробная спецификация для
SJ 51648/2-1994 Генератор, тип кристалла ZD509, подробная спецификация для
SJ/T 11864-2022 Полуизолирующая монокристаллическая подложка из карбида кремния
SJ 2592-1985 Кварцевые монолитные фильтры для типа LSP10.7MA(～E)
SJ 2816.2-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J1A
SJ 2816.4-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J3A
SJ 2816.5-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (холодной сварки) для типа J3B
SJ 52138.1-1995 Кристаллический элемент, кварц, тип JA 538, подробная спецификация для
SJ/T 31108-1994 Требования к готовности и методы проверки и оценки монокристаллических печей CG3000
SJ/T 10015-1991 Кварцевые камертоны 32 кГц для часов типа JU38 и JU26
SJ/Z 9154.1-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристалла. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических элементов.
SJ 20110-1992 Фильтры, кварцевый, тип LST60MA, подробная спецификация для
SJ 51508/1-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST60.02M, подробная спецификация для
SJ 51508/2-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST42.02M, подробная спецификация для
SJ 51508/6-1996 Фильтры кварцевые, тип LST21.4M, подробная спецификация для
SJ 51508/7-1996 Фильтры кварцевые, тип LST25.0425M, подробная спецификация для
SJ 51648/3-1994 Генератор, кварцевый, тип ZC505 (A ~ D), подробная спецификация для
SJ 2701-1986 Подробная спецификация кремниевых PNP-транзисторов малой мощности типа 3DX673

Association Francaise de Normalisation, Кристаллическая форма и фаза

NF B30-004:1974 СТЕКЛО.КРИСТАЛЛ,ХРУСТАЛЬНОЕ СТЕКЛО,КРИСТАЛЛИН.
NF C93-547-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
NF T29-002:1968 Химические продукты, предназначенные для фотографии – кристаллизованный тиосульфат натрия.
NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
NF A04-102:2003 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
NF A04-102:2013 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные паяные вставки – размеры, типы
NF C93-547-30-1*NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
NF C93-547-6-2*NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Рефлекторного типа
NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
NF C93-616:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
NF E66-314:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы.
NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
NF C96-611/A1:1972 Полупроводники Переходные транзисторы. Особые стандарты.
NF C93-547-2*NF EN 61747-2:1999 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2: Модули жидкокристаллического дисплея. Секционная спецификация.
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3: приборы.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2: процедуры.
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
NF ISO 18535:2016 Аморфные углеродные покрытия - Определение характеристик трения и износа аморфных углеродных покрытий методом шарика на диске
NF EN 61747-2:1999 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2: жидкокристаллические модули отображения. Промежуточная спецификация.
NF EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов.
NF EN 61747-4:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 4. Модули и ячейки жидкокристаллического дисплея. Предельные значения и существенные характеристики

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Кристаллическая форма и фаза

GB/T 5238-2019 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 38907-2020 Водосберегающие предприятия — Поликремниевая промышленность
GB/T 18910.62-2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
GB/T 37405-2019 Устройство плавного пуска высокого напряжения с тиристорным управлением фазой.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

GB/T 5238-2009 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 6430-1986 Правила обозначения типа кристаллодержателей (корпусов)
GB 6430-1986 Номенклатура моделей хрустальных коробок
GB/T 21952-2023 Типы и размеры поликристаллических алмазных дисков
GB/T 16468-1996 Серийные программы для статических индукционных транзисторов
GB/T 3351-1982 Обозначения синтетических кристаллов кварца
GB/T 11295-1989 Правило обозначения стержней лазерных кристаллов
GB 18445-2001 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
GB/T 3951-1983 Правило обозначения типа жидкокристаллических устройств отображения
GB 18445-2012 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
GB/T 9532-2012 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов
GB/T 17007-1997 Методы измерения биполярного транзистора с изолированным затвором
GB/T 12275-1990 Правила обозначения типа кварцевых генераторов
GB 12275-1990 Номенклатура моделей кварцевых генераторов
GB/T 18910.3-2008 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Спецификация по секциям ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖК-дисплея).
GB/T 29057-2023 Практика оценки стержней из поликристаллического кремния методом зонного вытягивания и спектроскопического анализа.
GB/T 29057-2012 Практика оценки стержней из поликристаллического кремния методом выращивания кристаллов в плавающей зоне и спектроскопии
GB/T 9535-1998 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния — квалификация конструкции и одобрение типа
GB/T 18910.2-2003 Устройства жидкокристаллического и твердотельного отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
GB/T 6627-1986 Обозначение громоздкого кристалла синтетического кварца.
GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
GB　6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
GB/T 19421.1-2003 Методы испытаний кристаллического слоистого дисиликата натрия. Качественный анализ дельта-кристаллического слоистого дисиликата натрия. Метод рентгеновской дифрактометрии.
GB/T 14999.7-2010 Методы определения размеров зерен, расстояния между первичными дендритами и микроусадки отливок из суперсплавов

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Кристаллическая форма и фаза

YS/T 225-2010 Микрокристаллическая цинковая пластина для цинкографии.
YS/T 225-1994 Микрокристаллический цинковый лист для фотогравировки
YS/T 785-2012 Определение относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции

YU-JUS, Кристаллическая форма и фаза

JUS N.R9.031-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Измерение параметров кристалла кварца методом нулевой фазы в n-сети. Фазовый метод измерения подвижной емкости кварцевого кристалла
JUS N.R9.071-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя двух кристаллов mre, тип 18
JUS N.R9.074-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 19
JUS N.R9.070-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухштырьковый держатель кристалла, outlfne, type09
JUS N.R9.072-1986 Пьезо/электрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур держателя для двух кристаллов, тип 16
JUS N.R9.073-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристалл кварца не используется. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 17
JUS N.R9.077-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 20
JUS N.R9.076-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухконтактный кристаллический нагреватель Outllne, type08
JUS N.R9.075-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухштырьковый держатель кристалла, тип 10
JUS N.R9.069-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя для двух кристаллов Пири, тип 07
JUS N.R9.078-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя кристаллов из проволоки Turo, тип 21
JUS N.R9.064-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур двухпроволочного держателя кристалла. Типы 11, 14 и 15
JUS N.R1.373-1980 Полупроводниковые иоды. Основные характеристики и характеристики. Сигнальные диоды малой мощности
JUS N.R1.390-1979 Биполярное расстройство. Основные номиналы и характеристики: сигнальные транзисторы bw-power

Professional Standard - Machinery, Кристаллическая форма и фаза

JB/T 6307.5-1994 Методы испытаний силовых полупроводниковых модулей. Биполярные транзисторы. Однофазный мост и трехфазный мост.
JB/T 8951.1-1999 Биполярный транзистор с изолированным затвором
JB/T 7826.2-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTQ (MFQ)
JB/T 7826.3-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTS（MFS）
JB/T 7826.3-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTS (MFS)
JB/T 7826.2-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTQ (MFQ)
JB/T 8951.2-1999 Плечо и пара плеч биполярных транзисторных модулей с изолированным затвором
JB/T 6324-1992 Тиристоры предназначены для использования в сварочных аппаратах КЕ модели 50А-500А.
JB/T 7946.4-1999 Металлография литых алюминиевых сплавов. Литейные алюминиево-медные сплавы－Зернистость
JB/T 8892-1999 Двигатели внутреннего сгорания. Металлографический контроль поршня из эвтектического сплава Al-Si-RE.
JB/T 8892-2011 Двигатели внутреннего сгорания. Поршень из эвтектического сплава Al-Si-Re. Металлографический контроль.

RU-GOST R, Кристаллическая форма и фаза

GOST R ISO 14250-2013 Сталь. Металлографическая характеристика размера и распределения зерен дуплекса.
GOST 17466-1980 Транзисторы биполярные и полевые. Основные параметры
GOST R ISO 643-2011 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
GOST R ISO 643-2015 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
GOST 27264-1987 Силовые биполярные транзисторы. Методы измерения
GOST 18604.22-1978 Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер
GOST 18604.10-1976 Транзисторы биполярные. Методика измерения входного сопротивления
GOST 18604.26-1985 Биполярные транзисторы. Методы измерения временных параметров
GOST 20003-1974 Биполярные транзисторы. Термины, определения и символы параметров

British Standards Institution (BSI), Кристаллическая форма и фаза

BS EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
BS EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
BS EN 50513:2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
BS EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов
BS EN 13925-2:2003(2008) Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005(2009) Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
BS EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
BS EN 61747-2:1999 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Жидкокристаллические дисплейные модули. Спецификация сечения
BS ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
BS ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы
BS EN 61747-3:2000 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Технические характеристики секций ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД)
BS DD ENV 14273:2002 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.
BS EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы - Биосовместимость
BS IEC 61747-3-1:1998 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация
BS EN 61747-3-1:2000 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация.
BS EN 13925-1:2003(2008) Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
BS EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
BS EN 61747-3-1:2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация
BS EN 60444-1:1993 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в $Gp-сети
BS EN 61747-4:1998 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Модули и ячейки жидкокристаллических дисплеев. Основные номинальные характеристики и характеристики.
BS EN 61747-4:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Модули и ячейки жидкокристаллических дисплеев. Основные рейтинги и характеристики
BS EN ISO 3378:2002 Кожа. Физико-механические испытания. Определение устойчивости зерна к растрескиванию и индекса растрескивания зерна.
BS EN 60444-2:1993 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.

AENOR, Кристаллическая форма и фаза

UNE 43603:1979 СТЕКЛО, НОМЕНКЛАТУРА И ТЕРМИНОЛОГИЯ. КРИСТАЛЛ. ХРУСТАЛЬНОЕ СТЕКЛО
UNE-EN 50513:2011 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
UNE-EN 13925-2:2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
UNE-EN 13925-3:2006 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.

Professional Standard - Aviation, Кристаллическая форма и фаза

HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
HBm 66.33-1989 Реле мигалки транзистора минивэна
HB 7762-2005 Технические условия на лигатуры направленно-затвердевания и монокристаллические суперсплавы для авиационных двигателей.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

CNS 5152-1980 Кристаллический тиосульфат натрия (фотографический класс)
CNS 3009-1994 Транзисторные радиоприемники простого типа
CNS 3010-1994 Транзисторные радиоприемники общего типа
CNS 5389-1980 Додекагидрат сульфата алюминия и калия (фотографический класс)
CNS 5390-1980 Метод определения додекагидрата сульфата алюминия-патассия фотографического качества

RO-ASRO, Кристаллическая форма и фаза

STAS 10139-1984 Глясины КРИСТАЛЛ ТИПА
STAS 1817/1-1975 НАТРИЯ ТИОСУЛЬФАТ КРИСТАЛЛИЗОВАННЫЙ ФОТОГРАФИЧЕСКОЙ И КИНЕМАТОГРАФИЧЕСКОЙ ЧАСТИ
STAS 10026-1975 Испытания на ударный удар с U-образным и V-образным надрезом. ОПРЕДЕЛЕНИЕ кристаллической LINILLY И фибросткости FRAGIIRE.

Defense Logistics Agency, Кристаллическая форма и фаза

DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Транзистор PNP германиевый тип 2N2273
DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N2631 и 2N2876
DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, NPN, кремниевый тип 2N2015, 2N2016
DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор транзисторного типа 2N744
DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, германиевые типы 2N499 и 2N499A
DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N389 и 2N424 (ВМФ)
DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор типов 2N1173 и 2N1174 (ВМФ)
DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, кремниевый тип 2N3904
DLA SMD-5962-91738 REV A-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЙ ТИП D, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97593 REV B-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ШЕСТИГРАННЫЕ ИНВЕРТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, ПОВЕРХНОСТНЫЙ МОНТАЖ
DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР NPN КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N1051
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
DLA MIL-S-19500/69 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые, типы JAN-2N337 и JAN-2N338
DLA MIL-S-19500/16 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые типы 2N342, 2N342A и 2N343
DLA SMD-5962-86842 REV E-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, И ЗАБИТА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97591 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННЫЕ ТТЛ ШОТКИ, 8-БИТНЫЕ КОМПАРАТОРЫ ИДЕНТИЧНОСТИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА JAN-2N1119
DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N2377
DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N2377
DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый тип 2N1499A
DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N1234
DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый тип 2N1051
DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводник, транзистор, NPN, германий, тип питания 2N326
DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ТРОЙНАЯ 3-ВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ И ЗАТВОРА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97588 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, ЧЕТЫРЕХВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ ИЛИ С 2 ВХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 2-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, PN, КРЕМНИЙ, ОДНОПЕРЕХОД JAN2N5431 И JANTX2N5431
DLA MIL-PRF-19500/198 E-2008 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ, ТИРИСТОРЫ ТИПА 2N1870A, 2N1871A, 2N1872A И 2N1874A, ЯНВАРЬ
DLA MIL-PRF-19500/287 G-2008 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN КРЕМНИевый, КОММУТАЦИОННЫЙ, ТИПА 2N3013, JAN И JANTX
DLA MIL-S-19500/76 C VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, типы питания 2N1412 и 2N1412A
DLA MIL-S-19500/268 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые переключатели типов 2N2481 и TX2N2481
DLA MIL-S-19500/373 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые переключатели типов 2N914 и TX2N914
DLA SMD-5962-86719 REV A-2007 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ TTL, СЧЕТВЕРНЫЙ РЕГИСТР D-ТИПА МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-99532 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, 10-БИТЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ ТТЛ, ШИФТЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ЧЕТЫРЕХРУСТНОЙ ШИННЫЙ БУФЕР, TTL-СОВМЕСТИМАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86841 REV D-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ И ВЕНТИЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ДВОЙНОЙ 4-ВХОДНЫЙ ЗАТВОР ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ-И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, ДВОЙНОЙ МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86069-1986 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, КОМПАРАТОР ВЕЛИЧИНЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ, ТТЛ ШОТКИ, АРИФМЕТИКО-ЛОГИЧЕСКИЙ БЛОК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, БУФЕРНАЯ, ТРЕХСОСТОЯННАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, БУФЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87517 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ДВОИЧНЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, КРЕПЛЕНИЕ ПЕЧАТНОЙ СХЕМЫ
DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ФОТО ТИПА 2N986
DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 МИКРОсхема, ЛИНЕЙНАЯ, ТРАНЗИСТОРНАЯ МАССИВ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-S-19500/219 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, PNP, германиевый, силовое переключение, типы 2N1651, 2N1652, 2N1653
DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, типы 2N464, 2N465, 2N467
DLA MIL-S-19500/38 C (1)-1988 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, PNP, ГЕРМАНИЕВЫЙ ТИПА МОЩНОСТИ 2N539 И 2N539A
DLA MIL-PRF-19500/74 E NOTICE 1-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ, ТРАНЗИСТОРЫ, NPN, КРЕМНИЕВЫЕ, СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ, ТИПЫ 2N497, 2N498, 2N656 И 2N657
DLA MIL-PRF-19500/369 G-2009 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИевый, СИЛОВОЙ, ТИПА 2N3441, JAN, JANTX И JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/402 F-2009 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИевый, СИЛОВОЙ, ТИПА 2N3739, JAN, JANTX И JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/369 H-2010 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИевый, СИЛОВОЙ, ТИПА 2N3441, JAN, JANTX И JANTXV
DLA MIL-S-19500/20 C VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, германиевые, маломощные типы 2N404 и 2N40A
DLA MIL-S-19500/277 D VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые, типы питания 2N2150 и 2N2151 JANTX
DLA MIL-PRF-19500/526 H-2012 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИевый, СИЛОВОЙ, ТИПА 2N3879, JAN, JANTX И JANTXV
DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, БУФЕРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 МИКРОсхема, цифровая, транслятор TTL-ECL, монолитный кремний
DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ ПЕРЕВОДЧИК ECL-TO-TTL, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ ПРОЗРАЧНЫЕ ЗАЩЕЛКИ ТИПА D С 3-ХОСТОВЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНО-КРЕМНИЕВЫЕ ШЛЕПАНЦЫ D-ТИПА С ТРЕМЯ ГОСУДАРСТВЕННЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-19500/466 C VALID NOTICE 1-2012 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, кремниевые, силовые, типы 2N5683 и 2N5684, JAN, JANTX и JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/528 B VALID NOTICE 1-2013 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые, силовые, типы 2N6032 и 2N6033 JAN, JANTX и JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/560 J-2009 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИевый, КОММУТАЦИОННЫЙ, ТИПА 2N5339 И 2N5339U3, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANHC И JANKC
DLA MIL-S-19500/126 C VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN типов 2N1302, 2N1304, 2N1306, 21308 и PNP типов 2N1303, 2N1305, 2N1307 и 2N1309

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Кристаллическая форма и фаза

KS B 2813-2019 Дисковые затворы с резиновым седлом вафельного типа
KS D ISO 14250:2003 Сталеметаллографическая характеристика размеров и распределения дуплексного гриана.
KS D ISO 14250:2014 Сталь - Металлографическая характеристика размеров и распределения дуплексного грана.
KS C IEC 61747-6:2005 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
KS D 2715-2006 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
KS D 2715-2017 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
KS C IEC 61747-6-2:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Отражательного типа.
KS M ISO 1619:2013 Криолит природный и искусственный. Подготовка и хранение образцов для испытаний.
KS C IEC 61747-2:2002 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
KS C IEC 61215:2006 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния – Квалификация конструкции и одобрение типа
KS C 0256-2002(2017) Метод испытания удельного сопротивления кристаллов и кремниевых пластин четырехточечным зондом
KS C IEC 61747-2-2002(2017) Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
KS C IEC 61747-2-2002(2022) Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Технические характеристики ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).
KS C IEC 60444-2-2002(2017) Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в p-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
KS C IEC 61215-2006(2016) Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния – Квалификация конструкции и одобрение типа
KS C IEC 61215-2006(2021) Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния – Квалификация конструкции и одобрение типа
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Технические характеристики ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).

U.S. Military Regulations and Norms, Кристаллическая форма и фаза

ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГц ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 50 Гц ДО 50 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, ПРЯМОПОДАВНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,01 Гц ДО 15,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, КМОП
ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR119/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR78/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR91/U
ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR97/U
ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR5/U
ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR6/U
ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR73/U
ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR85/U
ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR81/U
ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR82/U
ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR83/U
ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR89/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR61/U
ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, CR62/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR64/U
ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR65/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR72/U
ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR74/U
ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR75/U
ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR76/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR45/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR56/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,544 МГЦ ДО 125 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЙ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,2 МГЦ ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ УПЛОТНЕНИЕ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ ГЕНЕРАТОР, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 450 кГц до 100 МГц, герметичный, низковольтный КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 ГЕНЕРАТОР С КРИСТАЛЛИЧЕСКИМ УПРАВЛЕНИЕМ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-C-60459 NOTICE 1-1996 ПАТРОН, 105ММ, HE, РАКЕТНЫЙ С ПОМОЩЬЮ, XM548, РАКЕТНОЕ ПОРОШКОВОЕ ЗЕРНО ДЛЯ
ARMY MIL-C-60459-1967 ПАТРОН, 105ММ, HE, РАКЕТНЫЙ С ПОМОЩЬЮ, XM548, РАКЕТНОЕ ПОРОШКОВОЕ ЗЕРНО ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,0 МГЦ ДО 85 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, высокоскоростной КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 ГЕНЕРАТОР С КРИСТАЛЛИЧЕСКИМ УПРАВЛЕНИЕМ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO), 1 ДО 133 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 2,5 В КМОП

Professional Standard - Agriculture, Кристаллическая форма и фаза

331药典四部-2020 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
316药典四部-2015 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
877兽药典一部-2015 Содержание приложения Руководящие принципы 9000. Руководящие принципы 9015 для исследования кристаллических форм ветеринарных препаратов и контроля качества кристаллических форм.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Кристаллическая форма и фаза

YB/T 4290-2012 Метод определения наибольшей крупности зерна (зерен АЛК) на поверхности металлографического контроля

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Кристаллическая форма и фаза

EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей Передающего типа
EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
EN 61215:1995 Квалификация проектирования и одобрение типа наземных фотоэлектрических (PV) модулей из кристаллического кремния
EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

International Electrotechnical Commission (IEC), Кристаллическая форма и фаза

IEC PAS 62084:1998 Внедрение технологий Flip Chip и Chip Scale.
IEC 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.
IEC 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
IEC 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
IEC 61747-3:1998 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3. Спецификация секций ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).
IEC 61215:1993 Наземные фотоэлектрические (ФЭ) модули из кристаллического кремния; квалификация конструкции и одобрение типа
IEC 61215:2005 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа
IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети - Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети; Поправка
IEC 61747-2:1998 Устройства жидкокристаллического и твердотельного отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа; Исправление 1
IEC 61747-4:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 4. Модули и ячейки жидкокристаллического дисплея. Основные номинальные характеристики и характеристики.

CZ-CSN, Кристаллическая форма и фаза

CSN 70 8010-1988 Хрустальное стекло формовано на машине типа ЛИНКУЗ.

Aerospace Industries Association, Кристаллическая форма и фаза

AIA NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Кристаллическая форма и фаза

NAS4117-1996 Теплоотвод-изолятор @ Тип пластины
NAS4117-2012 ТЕПЛООТВОД@ ИЗОЛЯТОР@ ВАФЕЛЬНОГО ТИПА (Ред. 1)

Group Standards of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Кварцевый генератор постоянной температуры
T/SDZBZZ 001-2022 Пресс-форма для медной трубы дуговой машины для разливки заготовок
T/JSSIA 0006-2021 Габаритные размеры корпуса уровня пластины с разветвлением
T/CSTM 00463-2023 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
T/CSTM 00463-2022 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
T/CASME 487-2023 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния для автономных сетей
T/SDTL 09-2022 Художественное покрытие с толстым покрытием Argentite для архитектуры
T/SBX 046-2021 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ коэффициента упругости нематического термотропного жидкого кристалла
T/SBX 040-2020 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НЕМАТИЧЕСКИХ ТЕРМОТРОПНЫХ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ
T/JSSIA 0003-2017 Серийные программы для пакета масштабирования чипов уровня пластины

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

DB35/T 1914-2020 Определение содержания β-кристаллов в β-кристаллических полипропиленовых трубах и фитингах (рентгеноструктурный метод)
DB35/T 1126-2011 Солнечная батарея из аморфного кремния для слабого освещения

IN-BIS, Кристаллическая форма и фаза

IS 4570 Pt.3-1984 Технические характеристики держателей хрусталя. Часть 3. Трубчатые держатели хрусталя (стекла) типов AP, AR, AS, AT и AU.
IS 4570 Pt.7-1985 Спецификация поддержки кварцевого блока, часть 7. Микро, металлический, запаянный, двухпроводной, поддержка кварцевого блока, тип DJ
IS 4570 Pt.12-1989 Спецификация опор кристаллического модуля. Часть 12. Микрометаллические двухпроволочные опоры кристаллического модуля холодной сварки типа EB.
IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.
IS 4570 Pt.5-1984 Спецификация держателя кристаллического блока, часть 5 ftfiETAL, запаянный, двухпроводной держатель кристаллического блока типов BF, EF/1 и BG, BG 1
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.

HU-MSZT, Кристаллическая форма и фаза

MNOSZ 5709-1952 Кристаллизатор непрерывного литья. формование резервуара из коры
MNOSZ 973-1950 Кристаллический цинк, очистка и промышленность
MSZ 22510/1-1981 Размер зерна алмаза или нитрида бора. Укажите и гранулометрический состав крупных зерен.
MSZ 22510/2-1982 Размер зерна алмаза или нитрида бора. Крупнозернистый контроль обозначения и гранулометрического состава

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, Кристаллическая форма и фаза

AIA/NAS NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа
AIA/NAS NAS4117-2012 РАДИАТОР, ИЗОЛЯТОР, ВАФЕЛЬНОГО ТИПА (Ред. 1)
AIA/NAS NAS 67-1973 Направляющая-застежка, низкая форма, капот, тип Дзус (Ред. 4)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Кристаллическая форма и фаза

JIS R 7651:2007 Измерение параметров решетки и размеров кристаллитов углеродных материалов
JIS C 8990:2004 Наземные фотоэлектрические (ФЭ) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа
JIS H 7803:2005 Общие правила определения размера частиц и размера кристаллитов в металлических катализаторах
JIS C 6760:2014 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.

German Institute for Standardization, Кристаллическая форма и фаза

DIN EN 60444-2:1997 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980); Немецкая версия EN 60444-2:1997.
DIN 4000-19:1988-12 Табличные схемы характеристик изделий для транзисторов и тиристоров
DIN EN 60444-1:2000 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети (IEC 60444).
DIN IEC 60122-2:1993-09 Кварцевые блоки регулировки и выбора частоты; часть 2: руководство по использованию кварцевых блоков для регулирования и выбора частоты; идентичен IEC 60122-2:1983
DIN EN 61747-30-1:2013-03 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012); Немецкая версия EN 61747-30-1:2012 / Примечание: DIN EN 61747-6 (2004-12) остается действительным наряду с этим стандартом до 2...
DIN EN 61747-6-2:2012-02 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа (IEC 61747-6-2:2011); Немецкая версия EN 61747-6-2:2011
DIN EN 61747-2:1999-07 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллических дисплеев; спецификация сечения (МЭК 61747-2:1998); Немецкая версия EN 61747-2:1999 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN 61747-2 (2013-04).
DIN 52341:1993 Тестирование стекла; химический анализ свинцового хрусталя и хрусталя
DIN EN 61215:2006 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа (IEC 61215:2005); Немецкая версия EN 61215:2005.
DIN EN 61747-3:2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация по разделам (IEC 61747-3:2006); Немецкая версия EN 61747-3:2006.
DIN EN 61747-2:1999 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллических дисплеев; спецификация сечения (МЭК 61747-2:1998); Немецкая версия EN 61747-2:1999.
DIN ISO 16463:2005 Поликристаллические алмазные вставки, с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2004);Английская версия DIN ISO 16463:2005.
DIN ISO 16463:2015-08 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2014)
DIN EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Методики; Немецкая версия EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы; Немецкая версия EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 62276:2017-08 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2016); Немецкая версия EN 62276:2016 / Примечание: DIN EN 62276 (2013-08) остается действительным наряду с этим стандартом до 28 ноября 2019 г.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 49/1401/CD:2022); Текст на немецком и английском языках / Примечание: Дата выпуска 28 апреля 2023 г. *Предназначено для замены стандарта DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 13925-3:2005-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 13925-2:2003-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.

American National Standards Institute （ANSI), Кристаллическая форма и фаза

ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии
ANSI/ASTM A901:1997 Спецификация для полуобработанных типов аморфных сплавов с магнитным сердечником

American Society for Testing and Materials (ASTM), Кристаллическая форма и фаза

ASTM E930-99 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
ASTM E930-99(2007) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
ASTM E930-18 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
ASTM E930-99(2015) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
ASTM E1181-87(1998)e1 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
ASTM E1181-02 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
ASTM D6057-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
ASTM D5357-03 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
ASTM D5357-19 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
ASTM D6057-96(2001)e1 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
ASTM D6057-96 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
ASTM D6057-96(2006) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии

Professional Standard - Medicine, Кристаллическая форма и фаза

YY 0290.5-1997 Интраокулярные линзы.Часть 5: Биосовместимость

Lithuanian Standards Office , Кристаллическая форма и фаза

LST EN 61747-6-2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6: Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающий тип (IEC 61747-6:2004)
LST EN 50513-2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
LST EN 13925-3-2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
LST EN 13925-2-2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
LST EN 61747-6-2-2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (IEC 61747-6-2:2011)
LST EN 61747-30-1-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012)

Danish Standards Foundation, Кристаллическая форма и фаза

DS/EN 50513:2009 Солнечные пластины. Технический паспорт и информация о пластинах кристаллического кремния для производства солнечных элементов.
DS/EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
DS/EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
DS/EN 61215:2005 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа.
DS/EN 61747-2:2001 Устройства жидкокристаллического и твердотельного отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
DS/EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
DS/EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
DS/EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

Professional Standard - Building Materials, Кристаллическая форма и фаза

JC/T 2146-2012 Кристалл ниобата лития, сильно легированный MgO, для применения в квазисинхронизме

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Кристаллическая форма и фаза

EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
EN 61747-2:1999 Устройства жидкокристаллического и твердотельного отображения. Часть 2. Модули жидкокристаллического дисплея. Спецификация в разрезе.
EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

未注明发布机构, Кристаллическая форма и фаза

BS EN 61747-6-2:2011(2012) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6–2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.

ES-UNE, Кристаллическая форма и фаза

UNE-EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (одобрено AENOR в ноябре 2011 г.)
UNE-EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (одобрено AENOR в октябре 2012 г.)
UNE-EN 60444-2:1997 ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА ПО НУЛЕВОЙ ФАЗЕ В ПИ-СЕТИ. ЧАСТЬ 2: МЕТОД СМЕЩЕНИЯ ФАЗ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВИЖИТЕЛЬНОЙ ЕМКОСТИ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА (Одобрено AENOR в октябре 1997 г.)
UNE-EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в январе 2017 г.)
UNE-EN 61747-2:1999 ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ И ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ УСТРОЙСТВА ОТОБРАЖЕНИЯ. ЧАСТЬ 2: МОДУЛИ ЖИДКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ДИСПЛЕЕВ. РАЗРЕЗНАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ. (Одобрено AENOR в июне 1999 г.)

SAE - SAE International, Кристаллическая форма и фаза

SAE AMS2316A-1991 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ

Society of Automotive Engineers (SAE), Кристаллическая форма и фаза

SAE AMS2316-1989 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ
SAE AMS7857B-2008 Прутки, стержни и профили из колумбиевого (ниобиевого) сплава 10Hf - 1,0Ti, рекристаллизационный отжиг
SAE AMS7857A-1995 Прутки, стержни и профили из Колумбиевого сплава 10Hf - 1,0Ti, рекристаллизационный отжиг
SAE AMS7857C-2017 Прутки, стержни и профили из колумбиевого (ниобиевого) сплава 10Hf - 1,0Ti, рекристаллизационный отжиг

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Кристаллическая форма и фаза

GJB 2138/4-2011 Подробная спецификация кварцевого блока типа JA500
GJB 1648/1-2011 Детальная спецификация кварцевого генератора типа ЗА511(ЗПБ-5)

Professional Standard - Aerospace, Кристаллическая форма и фаза

QJ 2979-1997 Подробная спецификация для кварцевых компонентов типа XJ33
QJ 2980-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ36
QJ 2981-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ39
QJ 2978-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ17
QJ 2929-1997 Подробная спецификация кварцевого кристаллического элемента типа XJ42
QJ 3047-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z602, управляемых напряжением
QJ 3046-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z601, управляемых напряжением

机械工业部, Кристаллическая форма и фаза

JB 6324-1992 Тиристор КЕ типа от 50А до 500А для электросварочного аппарата
JB/T 7625.1-1994 Общие методы испытаний пар плеч тиристорных модулей и пар встречно-параллельных плеч. Однофазный мост и трехфазный мост.
JB/T 7625.3-1994 Метод испытания тиристорного модуля: обычная пара плеч и пара встречно-параллельных плеч, однофазный мост и трехфазный мост, см. 8.

Indonesia Standards, Кристаллическая форма и фаза

SNI IEC 61215:2013 Квалификация проектирования и одобрение типа фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

DB22/T 1617-2012 Определение малахитового зеленого, лейкомалахитового зеленого, кристаллического фиолетового и лейкокристаллфиолетового в сырье методом жидкостной хроматографии-масс-спектрометрии/масс-спектрометрии.

CU-NC, Кристаллическая форма и фаза

NC 33-67-1987 Нефтяная промышленность. Топлива для двигателей. Определение температуры прокатки, начала кристаллизации и кристаллизации.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

DB13/T 5222-2020 Определение чистоты нематического термотропного жидкокристаллического мономера методом газовой хроматографии
DB13/T 2789-2018 Общие технические требования к нематическим термотропным жидким кристаллам для отображения.

TR-TSE, Кристаллическая форма и фаза

TS 1866-1975 НАТРИЯ СУЛЬФАТ БЕЗВОДНЫЙ И КРИСТАЛЛ

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Кристаллическая форма и фаза

GJB 2138/1-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA533
GJB 2138/2-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA547.
GJB 2138/3-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA557.
GJB 2138.1-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA533
GJB 2138.2-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA547
GJB 2138.3-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA557

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

JJG(电子) 04045-1995 Правила поверки тестера транзисторов JS-7B

中国石油化工总公司, Кристаллическая форма и фаза

SH 2002-1991 Технические условия кристаллизатора корпуса испарения аммиака

European Committee for Standardization (CEN), Кристаллическая форма и фаза

EN ISO 643:2020 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна (ISO 643:2019, исправленная версия 2020-03)
EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.

IEC - International Electrotechnical Commission, Кристаллическая форма и фаза

PAS 62276-2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройств на поверхностных акустических волнах - характеристики и метод измерения (редакция 1.0)

Professional Standard - Geology, Кристаллическая форма и фаза

DZ/T 0294-2016 Скрининг и идентификация бесцветных монокристаллических алмазов, синтезированных методом химического осаждения из газовой фазы

United States Navy, Кристаллическая форма и фаза

NAVY MIL-I-22110 C-1985 ИНГИБИТОРЫ КОРРОЗИИ, ЛЕТУЧИЕ, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ПОРОШОК
NAVY QPL-22110-10 NOTICE 1-2007 ИНГИБИТОРЫ КОРРОЗИИ, ЛЕТУЧИЕ, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ПОРОШОК
NAVY QPL-22110-10-1989 ИНГИБИТОРЫ КОРРОЗИИ, ЛЕТУЧИЕ, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ПОРОШОК

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

DB44/T 1219-2013 Редкоземельный β-кристаллический зародышеобразователь для полипропилена (ПП)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Кристаллическая форма и фаза

JJF(电子) 20-1982 Методика поверки транзисторного цифрового омметра CR1A

Professional Standard - Labor and Labor Safety, Кристаллическая форма и фаза

LD/T 94-1996 Оборудование с разрывным диском сотового типа для хрустального чайника

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Кристаллическая форма и фаза

IEEE 180-1962 СТАНДАРТЫ НА Пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические кристаллы: определения терминов для сегнетоэлектрических кристаллов 1962 г. (62 IRE 14.S1)

国家质量监督检验检疫总局, Кристаллическая форма и фаза

SN/T 4563-2016 Металлографический метод определения ориентации зерен листов (полос) электротехнической стали.

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Кристаллическая форма и фаза

QC 720200-1998 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3. Технические характеристики секций для ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД)