ZH

EN

ES

электронный спектр

электронный спектр, Всего: 90 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный спектр, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Неразрушающий контроль, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Медицинское оборудование, Обработка поверхности и покрытие, Коррозия металлов, Электронные компоненты в целом.


International Organization for Standardization (ISO), электронный спектр

  • ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • ISO/TR 18394:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
  • ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • ISO 24236:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO 15471:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO/TR 23173:2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Измерение толщины и состава покрытий наночастиц.
  • ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • ISO 17973:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 17974:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Association Francaise de Normalisation, электронный спектр

  • NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
  • NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Химический анализ поверхности - Электронные оже-спектрометры среднего разрешения - Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.

British Standards Institution (BSI), электронный спектр

  • BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BS PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
  • BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • BS PD ISO/TR 23173:2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Измерение толщины и состава покрытий наночастиц
  • BS ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • BS ISO 24236:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • BS ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • BS ISO 17973:2003 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • BS ISO 17974:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный спектр

  • ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E1217-11 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
  • ASTM E1217-00 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
  • ASTM E1217-05 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
  • ASTM E996-04 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E996-10 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E995-97 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E827-08 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E1127-03 Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E1016-07(2020) Стандартное руководство по литературе, описывающей свойства электростатических электронных спектрометров
  • ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E902-05 Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
  • ASTM E2735-14 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии 40;XPS41; Эксперименты
  • ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • ASTM E827-07 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E983-94(1999) Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E983-10(2018) Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E983-05 Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E983-19 Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E827-95 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E827-02 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
  • ASTM E996-10(2018) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E996-19 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный спектр

  • KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • KS D ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности-Электронная оже-спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры среднего разрешения-Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • KS D ISO 17973:2011 Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры среднего разрешения-Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • KS D ISO 17974-2011(2021) Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры высокого разрешения-Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
  • KS D 1852-2005 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа алюминия и алюминиевых сплавов
  • KS D ISO 17974:2011 Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры высокого разрешения-Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
  • KS D 2518-2005 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического кадмия
  • KS D 2518-1982 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического кадмия

Standard Association of Australia (SAA), электронный спектр

  • AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • AS ISO 24237:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • AS ISO 18118:2006 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный спектр

  • JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • JIS K 0161:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • JIS K 0165:2011 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • JIS K 0166:2011 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, электронный спектр

  • GB/T 41072-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Рекомендации по анализу ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии.
  • GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

German Institute for Standardization, электронный спектр

  • DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке

Professional Standard - Electron, электронный спектр

  • SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный спектр

  • GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.

未注明发布机构, электронный спектр

  • BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.