ZH
EN
ES

Мультимодальная микроскопия

Мультимодальная микроскопия, Всего: 44 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Мультимодальная микроскопия, являются: Оптическое оборудование, Горное оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Условия и процедуры испытаний в целом, Электрооборудование для работы в особых условиях, Строительные материалы, Обработка поверхности и покрытие, Линейные и угловые измерения, Бесчиповое рабочее оборудование, Оптоволоконная связь, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Мультимодальная микроскопия

KS B 5619-2019 Микроскопы — Сетки окуляров
KS E 4005-2007(2012) Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS E 4005-1981 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS E 4005-2007 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS E 4005-2013 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Мультимодальная микроскопия

JIS B 7132:1986 Биологические микроскопы для иммерсионных объективов
JIS B 7133:1986 Биологические микроскопы для сухих объективов
JIS M 7301:1968 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.

HU-MSZT, Мультимодальная микроскопия

MSZ 3282-1968 Определение температуры плавления микроскопическими и микроскопическими методами.

British Standards Institution (BSI), Мультимодальная микроскопия

BS ISO 8255-2:2013 Микроскопы. Накройте стаканы. Качество материалов, стандарты отделки и способ упаковки.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS EN ISO 25178-607:2019 Геометрические характеристики изделия (GPS). Текстура поверхности: Площадь - Номинальные характеристики инструментов для бесконтактной (конфокальной микроскопии)

TIA - Telecommunications Industry Association, Мультимодальная микроскопия

TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств
EIA/TIA-546AA00-1990 Бланк подробной спецификации полевых портативных оптических микроскопов для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Мультимодальная микроскопия

CNS 6600-1980 Портативный поляризационный микроскоп для отбора и определения негорючих веществ в угольной и горно-пылевой смеси
CNS 12114-1987 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения

International Organization for Standardization (ISO), Мультимодальная микроскопия

ISO 8255-2:2013 Микроскопы.Покровные очки.Часть 2: Качество материалов, стандарты отделки и способ упаковки.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 Оптика и оптические приборы - Микроскопы; Слайды – Часть 2: Качество материала, стандарты отделки и способ упаковки; Техническое исправление 1

American National Standards Institute （ANSI), Мультимодальная микроскопия

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Мультимодальная микроскопия

DB23/T 1525-2013 Основные требования к отражательной флуоресцентной конфокальной микроскопии

Group Standards of the People's Republic of China, Мультимодальная микроскопия

T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Мультимодальная микроскопия

GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Мультимодальная микроскопия

GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

ZA-SANS, Мультимодальная микроскопия

SANS 6154:2006 Стеклосодержание гранулированного металлургического шлака (метод микроскопии в проходящем свете)

Defense Logistics Agency, Мультимодальная микроскопия

DLA SMD-5962-94758 REV F-2011 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ, КРЕМНИевый
DLA SMD-5962-94758 REV G-2012 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ, КРЕМНИевый
DLA SMD-5962-94758 REV H-2013 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ, КРЕМНИевый
DLA SMD-5962-94663 REV H-2009 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, КМОП, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ И ТРАНСИВЕР, КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-94663 REV J-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, КМОП, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ И ТРАНСИВЕР, КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-92035 REV C-2004 МИКРОсхема, ЛИНЕЙНАЯ, ВЫСОКОСКОРОСТНАЯ, АНАЛОГОВЫЙ МУЛЬТИПЛЕКСОР 2:1, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97620-1998 МИКРОсхема, ЛИНЕЙНАЯ, 4-КАНАЛЬНАЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНАЯ, АНАЛОГОВЫЙ МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-94663 REV K-2013 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, КМОП, РАДИАЦИОННО УСТОЙЧИВАЯ, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ МИКРОКОДИРОВАННЫЙ МНОГОРЕЖИМНЫЙ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ ТЕРМИНАЛ И ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ.

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Мультимодальная микроскопия

TIA-455-220-A-2003 FOTP-220 Измерение задержки дифференциальной моды многомодового волокна во временной области

Professional Standard - Machinery, Мультимодальная микроскопия

JB/T 14528-2023 Экструзионные матрицы для микро-многопортового профиля. Типы и размеры конструкции.