ZH
EN
ES

Спектральные пики основаны на

Спектральные пики основаны на, Всего: 85 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Спектральные пики основаны на, являются: Аналитическая химия, Оптоволоконная связь, сеть, Интерфейсное и соединительное оборудование, Взаимосвязь открытых систем (OSI), Самолеты и космические аппараты в целом, Неразрушающий контроль, Наборы символов и кодирование информации, Астрономия. Геодезия. География, Полупроводниковые приборы, Применение информационных технологий, Цветные металлы, Электронные компоненты в целом, Гальванические элементы и батареи, Измерения радиации, Солнечная энергетика, Словари, ХИМИЧЕСКАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, Оптика и оптические измерения, Качество воды.

International Organization for Standardization (ISO), Спектральные пики основаны на

ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO/IEC 9314-4:1999 Информационные технологии. Интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI). Часть 4. Зависимый от среды физический уровень одномодового оптоволокна (SMF-PMD).
ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 22029:2012 Микролучевой анализ — стандартный формат файлов EMSA/MAS для обмена спектральными данными.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 22029:2022 Микролучевой анализ — стандартный формат файла EMSA/MAS для обмена спектральными данными.
ISO/IEC 19794-3:2006 Информационные технологии. Форматы обмена биометрическими данными. Часть 3. Спектральные данные отпечатков пальцев.
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Спектральные пики основаны на

GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GB/T 38026-2019 Стандарт градации для продуктов мультиспектральных данных спутника дистанционного зондирования Земли
GB/T 36301-2018 Уровни продукта предварительной обработки данных космической гиперспектральной визуализации

British Standards Institution (BSI), Спектральные пики основаны на

BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 22029:2013 Микролучевой анализ. Стандартный формат файла EMSA/MAS для обмена спектральными данными
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
20/30394911 DC BS ISO 22029. Микролучевой анализ. Стандартный формат файла EMSA/MAS для обмена спектральными данными
BS ISO 22029:2022 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Стандартный формат файла EMSA/MAS для обмена спектральными данными

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Спектральные пики основаны на

KS X ISO/IEC 9314-4-2001(2016) Информационные технологии. Волоконно-распределенный интерфейс данных (FDDI). Часть 4. Одномодовое оптоволокно, зависящее от физического уровня физического уровня (SMF-PMD).
KS X ISO/IEC 19794-3:2008 Информационные технологии. Форматы обмена биометрическими данными. Часть 3. Спектральные данные шаблонов пальцев.
KS X ISO/IEC 19794-3-2008(2018) Информационные технологии－Форматы обмена биометрическими данными－Часть 3: Спектральные данные шаблонов пальцев
KS C IEC 60904-3-2010(2020) Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных пороков с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
KS C IEC 60904-3:2010 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных пороков с использованием эталонных данных о спектральном излучении.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Спектральные пики основаны на

CNS 13896-3-1997 Системы обработки информации – оптоволоконный распределенный интерфейс данных (FDDI) – часть 3: физический уровень, зависящий от среды (PMD)

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Спектральные пики основаны на

YB/T 4142-2006 Статистические правила обработки данных спектрального анализа

SE-SIS, Спектральные пики основаны на

SIS SS-ISO 9314-3:1991 Системы обработки информации. Оптоволоконный распределенный интерфейс данных (FDDI). Часть 3. Физический уровень, зависящий от среды (PMD).

American National Standards Institute （ANSI), Спектральные пики основаны на

ANSI X3.263-1995 Информационные технологии - Интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI) - Витая пара Token Ring, зависящий от среды на физическом уровне (TP-PMD)
ANSI X3.237-1995 Информационные технологии - Интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI) - Token Ring Недорогой оптоволоконный физический уровень, зависящий от среды (LCF-PMD)
ANSI/INCITS 166-1990 Информационные системы - Распределенный интерфейс передачи данных по оптоволокну (FDDI) - Зависимый от среды физического уровня Token Ring (PMD) Заменяет ANSI X3.166:1900
ANSI/IEEE 1214:1993 Формат обмена данными гистограммы MCA для ядерной спектроскопии
ANSI/INCITS/ISO/IEC 19794-3:2007 Информационные технологии. Форматы обмена биометрическими данными. Часть 3. Спектральные данные отпечатков пальцев.
ANSI/INCITS 237-1995 Информационные технологии — интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI) — недорогое оптоволоконное соединение, зависящее от среды физического уровня (LCF-PMD), заменяет ANSI X3.237-1995
ANSI/INCITS 263-1995 Информационные технологии — интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI) — витая пара Token Ring, физический уровень, зависящий от среды (TP-PMD) Заменяет ANSI X3.263:1995 [Заменено: ANSI X3.263, ANSI X3.263]

American Society for Testing and Materials (ASTM), Спектральные пики основаны на

ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E386-90(1999) Стандартная практика представления данных, касающихся спектроскопии ядерного магнитного резонанса (ЯМР) высокого разрешения
ASTM E2310-04(2009) Стандартное руководство по использованию спектрального поиска с помощью алгоритмов сопоставления кривых с данными, записанными с использованием спектроскопии среднего инфракрасного диапазона
ASTM E1336-11 Стандартный метод испытаний для получения колориметрических данных с устройства визуального отображения методом спектрорадиометрии
ASTM E204-98 Стандартные методы идентификации материала с помощью инфракрасной абсорбционной спектроскопии с использованием полосы, закодированной ASTM, и индекса химической классификации
ASTM E204-98(2002) Стандартные методы идентификации материала с помощью инфракрасной абсорбционной спектроскопии с использованием полосы, закодированной ASTM, и индекса химической классификации
ASTM E204-98(2007) Стандартные методы идентификации материала с помощью инфракрасной абсорбционной спектроскопии с использованием полосы, закодированной ASTM, и индекса химической классификации

Danish Standards Foundation, Спектральные пики основаны на

DS/ISO/IEC 9314-3:1991 Системы обработки информации. Распределенный интерфейс данных по оптоволокну (FDDI). Часть 3. Зависимый от среды физического уровня (PMD).
DS/EN 60904-3:1994 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
DS/EN 60904-3:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.

Association Francaise de Normalisation, Спектральные пики основаны на

NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
NF A06-001:1979 Анализ легких металлов методом спектрографии. Обработка результатов испытаний. Статистическая интерпретация.
NF C57-323:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3: принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными о спектральном излучении.
NF C57-323:1994 Фотоэлектрические устройства. Часть 3: принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
NF EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения солнечных фотоэлектрических (ФЭ) устройств для наземного использования, включая эталонные данные по спектральному излучению.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
NF C57-323*NF EN 60904-3:2016 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности.
NF C57-323*NF EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности.
NF M60-805-5:2005 Ядерная энергия. Измерение радиоактивности окружающей среды. Вода. Часть 5. Измерение активности и концентрации урана в воде методом альфа-спектрометрии.

Canadian Standards Association (CSA), Спектральные пики основаны на

CSA ISO/IEC 9314-4-02-CAN/CSA:2002 Информационные технологии. Интерфейс распределенных данных по оптоволокну (FDDI). Часть 4. Одномодовое оптоволокно, зависящее от среды физического уровня (SMF-PMD).

Professional Standard - Electron, Спектральные пики основаны на

SJ/T 2658.12-2015 Метод измерения полупроводниковых инфракрасных диодов. Часть 12: Пиковая длина волны излучения и спектральная полоса излучения.
SJ/Z 3206.14-1989 Общие правила ошибок при спектральном химическом анализе и обработке данных в лабораториях

Group Standards of the People's Republic of China, Спектральные пики основаны на

T/CARSA 1.6-2022 Проверка подлинности продуктов спутникового дистанционного зондирования высокого разрешения на основе маловысотных дронов. Часть 6. Мультиспектральные, гиперспектральные данные изображений дистанционного зондирования Земли и предварительная обработка лидарных данных.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Спектральные пики основаны на

GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
GB/T 6495.3-1996 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.

CZ-CSN, Спектральные пики основаны на

CSN 42 0600 Cast.1-1975 Сурьма высокой чистоты. Методы химического и спектрального анализа. Общие данные.

International Telecommunication Union (ITU), Спектральные пики основаны на

ITU-R SM.667 SPANISH-1990 НАЦИОНАЛЬНЫЕ ДАННЫЕ УПРАВЛЕНИЯ СПЕКТРОМ

German Institute for Standardization, Спектральные пики основаны на

DIN ISO 22029:2014-05 Микролучевой анализ — стандартный формат файлов EMSA/MAS для обмена спектральными данными (ISO 22029:2012)
DIN ISO 22029:2014 Микролучевой анализ — стандартный формат файлов EMSA/MAS для обмена спектральными данными (ISO 22029:2012)
DIN EN 60904-3:2009 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными по спектральному излучению (IEC 60904-3:2008); Немецкая версия EN 60904-3:2008.
DIN EN 60904-3:2017 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными по спектральному излучению (IEC 60904-3:2016); Немецкая версия EN 60904-3:2016, с CD-ROM
DIN 51899:2010 Газовый анализ. Программы измерений и процедуры оценки данных для газовой хроматографии и других методов сравнения; только на компакт-диске

RU-GOST R, Спектральные пики основаны на

GOST 17038.2-1979 Сцинтилляционные детекторы ионизирующего излучения. Метод измерения световыхода детектора пика полного поглощения или края комптоновского распределения
GOST R IEC 60904-3-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических устройств по наземным эталонным данным спектральной освещенности
GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

GOSTR, Спектральные пики основаны на

GOST R 58648.2-2019 Фотоэлектрический модуль. Тестирование производительности и энергетический рейтинг. Часть 2. Определение спектральной чувствительности, зависимости характеристик от угла падения и коэффициентов для расчета рабочей температуры

European Committee for Standardization (CEN), Спектральные пики основаны на

prEN 60904-3-1993 Фотоэлектрические устройства; часть 3: принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности (IEC 904-3:1989)

International Electrotechnical Commission (IEC), Спектральные пики основаны на

IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
IEC 60904-3:1989 Фотоэлектрические устройства; часть 3: принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности
IEC 60904-3:2019 RLV Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
IEC 60904-3:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Спектральные пики основаны на

EN 60904-3:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Спектральные пики основаны на

EN 60904-3:1993 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральной освещенности.

BE-NBN, Спектральные пики основаны на

NBN-EN 2591-B9-1994 Аэрокосмическая серия. Фотоэлектрические соединительные детали. метод эксперимента. Часть B9: Расчет коэффициентов снижения интенсивности на основе тепла, выделяемого электрическим током

AENOR, Спектральные пики основаны на

UNE-EN 60904-3:2009 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности.

ES-UNE, Спектральные пики основаны на

UNE-EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральной освещенности (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в сентябре 2019 г.)

未注明发布机构, Спектральные пики основаны на

ANSI/INCITS 263-1995(R2000) Информационные технологии. Оптоволоконный распределенный интерфейс данных (FDDI). Среда, зависящая от физического уровня Token Ring витой пары (TP-PMD) заменяет ANSI X3.263-1995 (заменяет: ANSI X3.263, ANSI X3.263)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Спектральные пики основаны на

GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

Lithuanian Standards Office , Спектральные пики основаны на

LST EN 60904-3-2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности (IEC 60904-3:2008).