ZH
EN
ES

Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов, Всего: 94 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов, являются: Полупроводниковые приборы, Проведение материалов, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Механические конструкции электронного оборудования, Электромагнитная совместимость (ЭМС), Полупроводниковые материалы, Электрические провода и кабели, Керамика, Обработка поверхности и покрытие, Продукция химической промышленности.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

KS C 6520-2021 Компоненты и материалы полупроводникового производства. Измерение характеристик износа с помощью плазмы.
KS C 6520-2019 Компоненты и материалы полупроводникового производства. Измерение характеристик износа с помощью плазмы.
KS C 6111-3-2007(2022) Измерения электронных характеристик: собственный поверхностный импеданс пленок высокотемпературного сверхпроводника на микроволновых частотах.
KS C IEC 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
KS L ISO 27447:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
KS L ISO 27448-2011(2021) Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
KS C IEC 60749-39-2006(2021) Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
KS L ISO 10676-2012(2022) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения формообразующей способности активного кислорода.
KS L ISO 10676:2012 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода.
KS L ISO 27448-2011(2016) Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
KS L ISO 10676-2012(2017) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения формообразующей способности активного кислорода.
KS L ISO 22197-4:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.

British Standards Institution (BSI), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

BS EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость - Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на СВЧ частотах
BS EN 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
BS EN IEC 60749-39:2022 Отслеживаемые изменения. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для изготовления полупроводниковых компонентов.
BS ISO 27448:2009 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
BS ISO 10676:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода
BS PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерение этих условий
20/30425840 DC БС ЕН МЭК 60749-39. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых деталей
BS ISO 18061:2014 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов. Метод испытания с использованием бактериофага Q-бета
BS ISO 19810:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой
PD IEC TS 62607-3-3:2020 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Люминесцентные наноматериалы. Определение времени жизни флуоресценции полупроводниковых квантовых точек с использованием коррелированного по времени подсчета одиночных фотонов (TCSPC)
BS ISO 19722:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытаний для определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода
BS ISO 18071:2016 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов при освещении помещений. Метод испытания с использованием бактериофага Q-бета
BS ISO 19810:2023 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой
BS ISO 22601:2019 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытаний для определения эффективности окислительного разложения фенола полупроводниковых фотокаталитических материалов путем количественного анализа общего органического углерода (ТОС)

International Electrotechnical Commission (IEC), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

IEC 61788-7:2020 RLV Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах
IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах
CISPR 11-2015+AMD1-2016+AMD2-2019 CSV Требования к полупроводниковым преобразователям мощности (СПП)/ Повышение повторяемости измерений в диапазоне частот 1–18 ГГц
CISPR 11:2015+AMD1:2016+AMD2:2019 CSV Требования к полупроводниковым преобразователям мощности (СПП)/ Повышение повторяемости измерений в диапазоне частот 1–18 ГГц
IEC 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
CISPR 11:2015/AMD2:2019 Поправка 2 – Требования к полупроводниковым преобразователям мощности (SPC)/Повышение повторяемости измерений в диапазоне частот 1–18 ГГц
CISPR 11-2015/AMD2-2019 Поправка 2 – Требования к полупроводниковым преобразователям мощности (SPC)/Повышение повторяемости измерений в диапазоне частот 1–18 ГГц
IEC 60749-39:2021 RLV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
IEC 60749-39:2021 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
IEC TS 62607-3-3:2020 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 3-3. Люминесцентные наноматериалы. Определение времени жизни флуоресценции полупроводниковых квантовых точек с использованием коррелированного по времени подсчета одиночных фотонов.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах
EN IEC 60749-39:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.

ES-UNE, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

UNE-EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2020 г.)
UNE-EN IEC 60749-39:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для изготовления полупроводниковых компонентов (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в марте 2022 г.).
UNE-EN 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 60749-39:2006). (Одобрено AENOR в ноябре 2006 г.)

IX-CISPR, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

CISPR 11:2015/AMD1:2016/AMD2:2019 CSV Требования к полупроводниковым преобразователям мощности (СПП)/ Повышение повторяемости измерений в диапазоне частот 1–18 ГГц

Association Francaise de Normalisation, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

NF EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высококритических температурных сверхпроводников на микроволновых частотах
NF C96-022-39*NF EN 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
NF EN IEC 60749-39:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых в полупроводниковых компонентах.
NF C96-022-39*NF EN IEC 60749-39:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов.
XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
NF T70-331:2004 Энергетические материалы для обороны. Физико-химический анализ и свойства. Измерение изменения объема при испытании на растяжение газовым дилатометром Фарриса.
NF T70-331:1995 Энергетические материалы для обороны. Физико-химический анализ и свойства. Измерение изменения объема при испытании на растяжение с помощью газового дилатометра Фарриса.
NF EN 15591:2016 Испытания керамических и основных материалов. Прямое определение массовой доли примесей в порошках и гранулах карбида кремния методом высокочастотной оптико-эмиссионной спектроскопии с наведенной плазмой (ICP OES...
NF ISO 18560-1:2014 Техническая керамика. Метод испытаний для измерения характеристик полупроводниковых фотокаталитических материалов для очистки воздуха методом испытательной камеры в условиях внутреннего освещения. Часть 1. Устранение...

American National Standards Institute （ANSI), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

ANSI/ASTM D6095:2012 Метод испытаний для продольного измерения объемного сопротивления экструдированных сшитых и термопластичных полупроводниковых проводников и изоляционных экранирующих материалов

German Institute for Standardization, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

DIN 50443-1:1988 Испытание материалов для использования в полупроводниковой технике; обнаружение кристаллических дефектов и неоднородностей в монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии
DIN 53483-3:1969-07 Испытание изоляционных материалов; Определение диэлектрических свойств; Измерительные ячейки для жидкостей на частотах до 100 МГц
DIN EN 60749-39:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 60749-39:2006); Немецкая версия EN 60749-39:2006.
DIN EN 60749-39:2007-01 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 60749-39:2006); Немецкая версия EN 60749-39:2006 / Примечание: Быть...
DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Фотокатализ - Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий; Немецкая версия CEN/TS 16599:2014.
DIN 50451-7:2018-04 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 7. Определение 31 элемента в соляной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 50451-3:2014-11 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в азотной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 50451-6:2014-11 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 6. Определение 36 элементов в растворе фторида аммония высокой чистоты (NH<(Index)4>F) и в травильных смесях аммония высокой чистоты. ..
DIN 50455-1:1991 Испытание материалов для полупроводниковой техники; методы характеристики фоторезистов; определение толщины покрытия оптическими методами
DIN EN IEC 60749-39:2021-07 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 47/2652/CDV:2020).
DIN 50456-3:1999 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей.
DIN EN IEC 61788-7:2021 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах (IEC 61788-7:2020); Немецкая версия EN IEC 61788-7:2020
DIN EN IEC 60749-39:2021 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 47/2652/CDV:2020); Английская версия prEN IEC 60749-39:2020
DIN EN IEC 60749-39:2023-10 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 60749-39:2021); Немецкая версия EN IEC 60749-39:2022 / Примечание: DIN...
DIN 50451-3:2014 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в азотной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС.
DIN 50456-2:1995 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 2. Определение ионных примесей с использованием испытания в скороварке.
DIN 50451-6:2014 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение следов элементов в жидкостях. Часть 6. Определение 36 элементов в особо чистом растворе фторида аммония (NH4F) и в травильных смесях особо чистого раствора фторида аммония.
DIN 50451-5:2010 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение микроэлементов в жидкостях. Часть 5. Руководство по выбору материалов и проверке их пригодности для аппаратуры для отбора проб и подготовки проб для определения t.

PL-PKN, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах (IEC 61788-7:2020)

International Organization for Standardization (ISO), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

ISO 27447:2009 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
ISO 18061:2014 Тонкая керамика (Advanced Ceramics, Advanced Техническая керамика) - Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов - Метод испытаний с использованием бактериофага Q-бета
ISO 10676:2010 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода.
ISO 19810:2017 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик самоочистки полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой.
ISO 19722:2017 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода.
ISO 22601:2019 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения эффективности окислительного разложения фенола полупроводниковых фотокаталитических материалов количественным путем.
ISO 18071:2016 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Метод испытаний с использованием бактериофага Q-бета.
ISO 22551:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение степени уменьшения количества бактерий с помощью полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Полусухой метод.
ISO 19810:2023 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик самоочистки полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой.

European Committee for Standardization (CEN), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

ASTM D6095-12(2018) Стандартный метод испытаний для продольного измерения объемного сопротивления экструдированных сшитых и термопластичных полупроводниковых проводников и изоляционных экранирующих материалов
ASTM D6095-12(2023) Стандартный метод испытаний для продольного измерения объемного сопротивления экструдированных сшитых и термопластичных полупроводниковых проводников и изоляционных экранирующих материалов
ASTM D6095-06 Стандартный метод испытаний для продольного измерения объемного сопротивления экструдированных сшитых и термопластичных полупроводниковых проводников и изоляционных экранирующих материалов
ASTM D6095-12 Стандартный метод испытаний для продольного измерения объемного сопротивления экструдированных сшитых и термопластичных полупроводниковых проводников и изоляционных экранирующих материалов

Danish Standards Foundation, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

DS/EN 60749-39:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов

Standard Association of Australia （SAA）, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

AS/NZS 1660.2.3:1998 Методы испытаний электрических кабелей, шнуров и проводников. Изоляция, экструдированные полупроводниковые экраны и неметаллические оболочки. Методы, специфичные для ПВХ и термопластических материалов, не содержащих галогенов.

Lithuanian Standards Office , Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

LST EN 60749-39-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 60749-39:2006)

AT-OVE/ON, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

OVE EN IEC 60749-39:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для полупроводниковых компонентов (IEC 47/2652/CDV) (английская версия)
OVE EN IEC 61788-7:2021 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах ((IEC 61788-7:2020) EN IEC 61788-7:2020) (немецкая версия)

KR-KS, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

KS L ISO 22197-4-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.

AENOR, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

UNE-ISO 22197-1:2012 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1: Удаление оксида азота

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

JIS R 1708:2016 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытаний для определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода.

FI-SFS, Высокочастотное измерение свойств полупроводниковых материалов

SFS-IEC 811-4-1:1989 Методы испытаний изоляционных и оболочек кабелей. Специальные методы для смесей полиэтилена и смесей полипропилена. Прочность под высоким давлением, испытание на центрифугирование в высокотемпературном газе, индекс расплава и содержание частиц полиэтилена.