ZH
EN
ES
ближнепольная микроскопия отверстий
ближнепольная микроскопия отверстий, Всего: 33 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к ближнепольная микроскопия отверстий, являются: Оптическое оборудование, Цветные металлы, Аналитическая химия, Материалы для армирования композитов, Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Микробиология.
British Standards Institution (BSI), ближнепольная микроскопия отверстий
- BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
- BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- 18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
- PD IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия
- BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ближнепольная микроскопия отверстий
- KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS B ISO 19012-1:2011 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 1. Неравномерность поля/План.
- KS B ISO 19012-1:2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
- KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
International Organization for Standardization (ISO), ближнепольная микроскопия отверстий
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
- ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
- ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
Professional Standard - Machinery, ближнепольная микроскопия отверстий
- JB/T 7398.10-1994 Микроскоп - прибор темного поля
- JB/T 8230.7-1999 Микроскопы. Размеры и расположение отверстий для зажимов предметного столика и прикрепляемого механического предметного столика на предметном столике микроскопа.
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, ближнепольная микроскопия отверстий
RU-GOST R, ближнепольная микроскопия отверстий
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
RO-ASRO, ближнепольная микроскопия отверстий
- STAS 1456/3-1974 Стали для подшипников качения ОПРЕДЕЛЕНИЕ МИГРОПОРИСТОСТИ Микроскопический метод
TIA - Telecommunications Industry Association, ближнепольная микроскопия отверстий
- TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
- TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
- EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств
- EIA/TIA-546AA00-1990 Бланк подробной спецификации полевых портативных оптических микроскопов для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств
CZ-CSN, ближнепольная микроскопия отверстий
- CSN 73 1331-1974 Микроскопический анализ системы воздух-пустоты в затвердевшем бетоне
American National Standards Institute （ANSI), ближнепольная микроскопия отверстий
KR-KS, ближнепольная микроскопия отверстий
- KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ближнепольная микроскопия отверстий
- GB/T 3365-1982 Метод испытания на содержание пустот в углепластике с помощью микроскопа
American Society for Testing and Materials (ASTM), ближнепольная микроскопия отверстий
- ASTM D7200-06 Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, в шахтах и карьерах с помощью фазово-контрастной и просвечивающей электронной микроскопии
- ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM F3294-18 Стандартное руководство по проведению количественных измерений интенсивности флуоресценции в клеточных анализах с помощью широкопольной эпифлуоресцентной микроскопии
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, ближнепольная микроскопия отверстий
- GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.