ZH
EN
ES

Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны, Всего: 40 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны, являются: Словари, Аналитическая химия, Защита от огня, Испытание металлов, Сварка, пайка и пайка, Электромагнитная совместимость (ЭМС), Аудио, видео и аудиовизуальная техника.

International Organization for Standardization (ISO), Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара

工业和信息化部, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Association Francaise de Normalisation, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

German Institute for Standardization, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)

British Standards Institution (BSI), Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

RU-GOST R, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
GOST R 50842-1995 Электромагнитная совместимость радиоэлектронной аппаратуры. Радиопередающие устройства народнохозяйственного назначения. Предельные значения побочных излучений. Методы измерений и мониторинга

American Society for Testing and Materials (ASTM), Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

ASTM E2627-13 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах

KR-KS, Вторичные электроны и обратно рассеянные электроны

KS C ISO 5828-2016 Оборудование для контактной сварки－Вторичные соединительные кабели с клеммами, подключенными к наконечникам с водяным охлаждением－Размеры и характеристики