G04 基础标准与通用方法 标准查询与下载
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本指导性技术文件规定了利用扫描隧道显微镜检测八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的原理、术语及定义、探针和基底制备、样品制备、测试条件、测试步骤、图像分析及结果表示等。 本指导性技术文件适用于在常温(10℃～35℃)和1个大气压环境条件下，用扫描隧道显微镜测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构。
Determination for Copper(Ⅱ) octaakoxyl-substituted phthalocyanine on graphite surface(scanning tunneling microscope)
- ICS
- 17.040.20
- CCS
- G04
- 发布
- 2011-01-10
- 实施
- 2011-10-01
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of methods used for charge control and charge correction
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2010-09-26
- 实施
- 2011-08-01
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。 本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
Surface chemical analysis.Secondary-ion mass spectrometry.Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2010-09-26
- 实施
- 2011-08-01
本标准规定了一种准确测量硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的方法，即X射线光电子能谱法（XPS）。本标准适用于热氧化法在硅晶片表面制备的超薄氧化硅层厚度的准确测量；通常，本标准适用的氧化硅层厚度不大于6nm。
Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2010-09-26
- 实施
- 2011-08-01
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
- ICS
- 71.010.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2010-09-26
- 实施
- 2011-08-01
本标准表述了如何描述一台俄歇电子能谱仪的特定性能.
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy.Description of selected instrumental performance parameters
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2010-09-26
- 实施
- 2011-08-01
本标准规定了氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物(PFOS)的高效液相色谱-串联质谱测定方法。 本标准适用于氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物(PFOS)的测定。氟化工产品包括含氟水性涂料、泡沫灭火材料、洗涤剂、织物整理剂；消费品特指不粘炊具。 本标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计，氟化工产品为质量分数0.0002％，消费品为0.4μg/㎡。
Determination of perfluorooctane sulfonates(PFOS)in the fluorine-containing products and consumer products.High performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2009-06-25
- 实施
- 2010-04-01
本标准规定了单成分物质、多成分物质和UVCB物质的命名通则。 本标准适用于REACH法规框架下的单成分物质、多成分物质和UVCB物质的命名。
General principle for naming of chemicals
- ICS
- 71.020;71.040
- CCS
- G04
- 发布
- 2009-06-02
- 实施
- 2010-02-01
本标准规定了化工产品使用说明书（以下简称使用说明书）的基本内容与编写方法。 本标准适用于除军事、化工机械与设备类的化工产品外的使用说明书的编写。
Rules for preparation of instructions for use of chemical products
- ICS
- 01.040.71
- CCS
- G04
- 发布
- 2009-06-02
- 实施
- 2010-02-01
本标准规定了一种用于一般分析目的时校准X射线电子能谱仪结合能标尺的方法，该谱仪使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线。它仅适于带有溅射清洁用的离子枪的仪器。本标准还进一步规定了一种方法，用以建立校准程序、在中间某一能量值测试结合能标尺线性度、在高低结合能区各取一点确认标尺校准的不确定度、对标尺的小漂移作修正以及规定在95%置信度时该结合能标尺校准的扩展不确定。这个不确定度包括来自实验室际研究中观察到的现象的贡献，但不涵盖所有可能发生的缺陷。本标准不适用于有下述情况的仪器：结合能标尺的误差随能量明显非线性变化、工作在固定减速比模式且减速比小于10、谱仪的分辨率差于1.5eV或者要求公差极限为±0.03eV或更小。本标准不提供全标尺校准检验，该检验要对每一个在能量标尺上能找到的点加以验证，必须按仪器制造商的推荐程序进行。
Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectrometers.Calibration of energy scales
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-12-11
- 实施
- 2009-10-01
本标准采用辉光放电原子发射光谱法用于定量测定钢表面纳米、亚微米尺度薄膜（金属镀膜和氧化膜）中膜厚、镀层质量（单位面积）和薄膜中的元素深度分布。 本方法适用于测定3nm~1000nm厚度的钢表面薄膜，适用的元素包括：铁、铬、镍、铜、钛、锰、铝、碳、磷、氧、氮和硅。
Nano,Sub-micron scale film on steel.Quantitative depth profile analysis.Glow discharge atomic emission spectrometry
- ICS
- 17.180
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-10-30
- 实施
- 2009-06-01
本标准规定一种通过测定质量变化来判定工业用化学品的蒸气压的方法。 它适用于固体、液体在蒸气压为10Pa～1 Pa的范围内。 测量时杂质对化学品性质有一定的影响，例如溶剂的挥发性。
Chemical products for industrial use.Determinaton of vapour pressure of solids and liquids at range 10
- ICS
- 13.300
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-19
- 实施
- 2009-02-01
本标准主要采用静态法测定工业用化学品的蒸气压。 本标准适用于蒸气压值在10Pa～10Pa范围内的所有固体和液体。 测量时杂质对化学品性质有一定的影响，例如溶剂的挥发性。
Chemical products for industrial use.Determination of vapour pressure of solids and liquids in the rang 10
- ICS
- 13.300
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-19
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了气相色谱法的一般术语、仪器、固定相和流动相、色谱参数、色谱图及其他、符号。 本标准适用于气相色谱法。
Terms of gas chromatography
- ICS
- 71.040
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了化学品安全技术说明书(SDS)的结构、内容和通用形式。 本标准适用于化学品安全技术说明书的编制。 本标准不规定SDS的固定格式，也不提供SDS的实际样例。
Safety data sheet for chemical products.Content and order of sections
- ICS
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了分子吸收光谱的术语。 本标准适用于分子吸收光谱法。
Molecular absorption spectrometry.Terminology
- ICS
- 01.040.71;71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了使用高效液相色谱法进行的定性定量分析和提纯精制的通用规则。 本标准适用于使用高效液相色谱法对无机、有机化合物的定性定量分析及提纯精制，以及对高分子化合物的分子量的测定的一般要求。
General rules for high performance liquid chromatography
- ICS
- 71.040.40;71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准适用于测定砷含量在（1～20）µg范围内的试液。
Chemical products for industrial use.General method for the determination of arsenic
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了用卡尔.费休目测法和电量法测定样品游离水或结晶水含量的通用方法。 本标准适用于大部分有机和无机固、液体化工产品中游离水或结晶水含量的测定。 本标准不适用于能与卡尔.费休试剂的主要成分反应并生产 水的样品以及能还原碘或氧化碘化物的样品中水分的测定。 在某些情况下，样品需要预处理措施，它们均在相应的国家标准中作了规定。 当没有电量法的仪器时，可使用目测法，它是一种直接滴定法，但只能用于无色的溶液。电量法包括直接滴定和反滴定两种方法，无论采用哪一种，都是较为准确的，因此，推荐用电量法。
Chemical products.Determination of water Karl.fischer method(general method)
- ICS
- 71.020;71.040
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-18
- 实施
- 2009-02-01
本标准规定了用原子吸收光谱仪进行定量分析的通用规则。 本标准适用于利用原子吸收光谱仪对从常量到痕量化学元素的定量分析。
General rules for atomic absorption spectrometric analysis
- ICS
- 71.040.40;71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2008-06-04
- 实施
- 2008-12-01
