KS B ISO 10110-7-2017(2022)
光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
Optics and optical instruments－Preparation of drawings for optical elements and systems－Part 7：Surface imperfection tolerances
KS B ISO 10110-7-2017(2022) 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- KS B ISO 10110-7-2017(2022)
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 当前最新
- KS B ISO 10110-7-2017(2022)
KS B ISO 10110-7-2017(2022)相似标准
推荐
了解表面质量
适用于表面质量评级的规定包括：1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009，针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7：2008，光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分：表面缺陷公差*3、ISO14997：2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B；管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
LAYERTEC镀膜和生产检测技术
LAYERTEC已开发出一种自动化测量系统，用于检测和分析光学表面上的缺陷和划痕。该系统使LAYERTEC能够根据ISO 10110-7对缺陷大小进行分类。因此，质量控制程序（如最终检验）得以简化，特别是对于规定缺陷尺寸低于25微米的高质量光学元件。镀膜测量工具04简介精密光学，光学涂层，常见激光器类型的光学元件选择对于生产和研发而言，质量控制非常重要。...