KS B ISO 10110-7-2017(2022)
光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差

Optics and optical instruments－Preparation of drawings for optical elements and systems－Part 7：Surface imperfection tolerances


KS B ISO 10110-7-2017(2022) 发布历史

KS B ISO 10110-7-2017(2022)由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2017-11-27。

KS B ISO 10110-7-2017(2022)的历代版本如下：

  • 0000年 KS B ISO 10110-7-2017(2022)
  • 2017年 KS B ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差
  • 2007年 KS B ISO 10110-7:2007 光学和光学仪器.光学元件和设备制图准备.第7部分:表面缺陷公差
  • 0000年 KS B ISO 10110-7:2002

 

标准号
KS B ISO 10110-7-2017(2022)
发布
2017年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS B ISO 10110-7-2017(2022)
 
 

KS B ISO 10110-7-2017(2022)相似标准

KS B ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差 KS B ISO 10110-7-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差 NF S10-008-7:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第7部分:表面缺陷公差 NF S10-008-7:2008 光学和光学仪器.光学元件和设备用图纸制备.第7部分:表面缺陷公差 KS B ISO 10110-7:2007 光学和光学仪器.光学元件和设备制图准备.第7部分:表面缺陷公差

推荐

了解表面质量

光学组件的表面质量是对可能会在制造和处理过程中产生的表面缺陷（划痕和凹坑或麻点）的评估。表面质量对激光应用比对成像应用更重要，因为表面缺陷可能会引发激光诱导损伤。需要大功率的敏感系统也可能会因为表面缺陷而形成光通量变化和散射的增加。比起适用于可见光或 IR 系统的光学元件，适用于 UV 波长的光学元件对表面质量公差的要求更严格，因为波长越短，接受的散射量越高。...

KS B ISO 10110-7-2017(2022) 中可能用到的仪器设备

其它在线仪器仪表


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号