JEDEC JESD22A121A-2008由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2008-07-01。
JEDEC JESD22A121A-2008 在中国标准分类中归属于: H04 基础标准与通用方法。
JEDEC JESD22A121A-2008 测量锡和锡合金表面装饰晶须生长的试验方法的最新版本是哪一版?
JEDEC JESD22A121A-2008已经是当前最新版本。
本文件中介绍的方法(工艺流程见附录 A)适用于研究主要含有锡 (Sn) 的饰面中锡晶须的生长。该测试方法可能不足以满足有特殊要求的应用,例如军事或航空航天。附加要求可以在适当的要求文件中指定。该标准的目的是: • 提供一套行业标准化的测试,用于测量和比较不同电镀或表面处理化学品和工艺的晶须倾向。 • 为锡晶须检查提供一致的检查协议。 • 提供标准报告格式。
锡镀层有如下特点和用途﹕1﹐化学稳定性高﹔2﹐在电化序中锡的标准电位纰铁正﹐对钢铁来说是阴极性镀层﹐只有在镀层无孔隙时才能有效地保护基体﹔3﹐锡导电性好﹐易焊﹔4﹐锡从-130C起结晶开始开始发生变异﹐到-300C将完全转变为一种晶型的同素异构体﹐俗称”锡瘟”﹐此时已完全失去锡的性质﹔5﹐锡同锌﹑镉镀层一样﹐在高温﹑潮湿和密闭条件下能长成晶须﹐称为长毛﹔6﹐镀锡后在2320C以上的热油中重溶处理﹐可获得有光泽的花纹锡层...
锡镀层有如下特点和用途﹕1﹐化学稳定性高﹔2﹐在电化序中锡的标准电位纰 铁正﹐对钢铁来说是阴极性镀层﹐只有在镀层无孔隙时才能有效地保护基体﹔3﹐锡导电性好﹐易焊﹔4﹐锡从-130C起结晶开始开始发生变异﹐到-300C 将完全转变为一种晶型的同素异构体﹐俗称”锡瘟”﹐此时已完全失去锡的性质﹔5﹐锡同锌﹑镉镀层一样﹐在高温﹑潮湿和密闭条件下能长成晶须﹐称为长毛 ﹔6﹐镀锡后在2320C以上的热油中重溶处理...
XRF技术下的金属表面精整与镀层分析 X射线荧光技术相较同类技术更具穿透深度,因此X射线荧光测厚仪X-Strata非常适合金属电镀分析。镀层由各种金属混合物和可分解成化学成分的化合物组成。测厚仪也可通过控制镀层厚度以符合质量规定。 厚度测量和金属表面精整 一般来讲,金属镀层可作为单层或多层为原始部件提供不同的使用方式。...
一、上海交大在二维晶体新材料锡烯研究获重大突破原文链接近日,上海交通大学物理与天文系博士生经反复实验,终于找到了合适的基底材料和生长条件,利用分子束外延生长技术在国际上首次实现了锡烯二维晶体薄膜。该研究团队主要突破了两大难题:确定单个锡烯薄膜中双原子层的相对高度(buckling)以及外延薄膜的电子能带结构。...
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