Rasterelektronenmikroskop

Für die Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 164 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Baumaterial, erziehen, Längen- und Winkelmessungen, Wortschatz, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Luftqualität, Elektronische Anzeigegeräte, Sprache für die Informationstechnologie, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, fotografische Fähigkeiten, Farben und Lacke, Prüfung von Metallmaterialien, Textilfaser, Optoelektronik, Lasergeräte, Labormedizin, Drucktechnik, Schuhwerk, Tierheilkunde, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik.

International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16067-2:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messungen der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
ISO/IEC 17991:2021 Informationstechnologie – Büroausstattung – Methode zur Messung der Scanproduktivität digitaler Scangeräte

British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskop

18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS ISO 16067-2:2004 Fotografie. Elektronische Scanner für fotografische Bilder. Messungen der räumlichen Auflösung. Filmscanner
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 16067-1:2003 Fotografie. Ortsauflösungsmessungen für elektronische Scanner für fotografische Bilder. Scanner für reflektierende Medien
BCI Horizon Scan Report 2021:2022 BCI Horizon Scan-Bericht 2021
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 7542:1993 Abmessungen von Fotofilmen für die Verwendung in elektronischen Scannern
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

U.S. Military Regulations and Norms, Rasterelektronenmikroskop

ARMY MIL-PRF-49177 B VALID NOTICE 1-2013 SCAN-INTERLACE, PL-1408/UA
ARMY MIL-PRF-49168 C NOTICE 1-2013 SCAN-INTERLACE, PL-1403/UA, PL-1403A/UA
ARMY MIL-PRF-49168C-1997 SCAN-INTERLACE, PL-1403/UA, PL-1403A/UA
ARMY MIL-PRF-49177 B-1997 SCAN-INTERLACE, PL-1408/UA
ARMY MIL-PRF-49168 C-1997 SCAN-INTERLACE, PL-1403/UA, PL-1403A/UA

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

Professional Standard - Machinery, Rasterelektronenmikroskop

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode
JB/T 5478-1991 Manuell scannendes, fotoelektrisches, direkt ablesbares Spektrometer

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops
JJG 936-2012 Dynamische Differenzkalorimeter

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Rasterelektronenmikroskop

GJB 2666-1996 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
GJB 2666A-2018 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie
GJB 8288-2014 Verifizierungsvorschrift für ein Ultrahochgeschwindigkeits-Rotationsspiegel-Streifenkamerasystem

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskop

KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2021 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D 2713-2021 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS A ISO 16067-2-2020 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)

Group Standards of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/ZZB 0608-2018 3D-Dentalscanner
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CMAIA 002-2023 Intelligenter 3D-Hautscanner
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/CVMA 58-2020 Vorgehensweise bei der CT-Untersuchung von Hunden und Katzen

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben

Professional Standard - Commodity Inspection, Rasterelektronenmikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM

KR-KS, Rasterelektronenmikroskop

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

Professional Standard - Education, Rasterelektronenmikroskop

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskop

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung

IN-BIS, Rasterelektronenmikroskop

IS 6451-1972 Scan-Spezifikation
IS 9782-1981 Spezifikation für Fernseh-Scan-Generatoren

Professional Standard - Petroleum, Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben
SY/T 6748-2008 Spezifikation für den Kernscan von Öl- und Gasquellen

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskop

VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode

国家能源局, Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Rasterelektronenmikroskop

IEEE 1450.6.1-2009 Beschreibung der On-Chip-Scan-Komprimierung

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Rasterelektronenmikroskop

SMPTE 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE 294M-2001 Fernseher 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Bit-serielle Schnittstellen
SMPTE ST 2016-2-2014 Format für Pan-Scan-Informationen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskop

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Rasterelektronenmikroskop

VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method

工业和信息化部/国家能源局, Rasterelektronenmikroskop

JB/T 13176-2017 Dynamisches Differenzkalorimeter

Professional Standard - Chemical Industry, Rasterelektronenmikroskop

HG/T 3640-1999 Fotografie.Filmdimension.Film für den Einsatz in elektronischen Scannern

American National Standards Institute （ANSI), Rasterelektronenmikroskop

ANSI/IEEE 1450.6.1:2009 Standard zur Beschreibung der On-Chip-Scan-Komprimierung

SE-SIS, Rasterelektronenmikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Rasterelektronenmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

Association Francaise de Normalisation, Rasterelektronenmikroskop

NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe

RU-GOST R, Rasterelektronenmikroskop

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope

Danish Standards Foundation, Rasterelektronenmikroskop

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

German Institute for Standardization, Rasterelektronenmikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN IEC 60602:1989 Spiralvideorecorder vom Typ B; Identisch mit IEC 60602:1980 (Stand 1987)

BE-NBN, Rasterelektronenmikroskop

NBN Z 01-002-1991 Klassifizierung und Typisierung von Dokumenten

Professional Standard - Medicine, Rasterelektronenmikroskop

YY 91098-1999 Radionuklidscanner
YY/T 1154-2009 Konfokaler Laserscanner

SAE - SAE International, Rasterelektronenmikroskop

SAE J2201-1999 Universelle Schnittstelle für den OBD II-Scan

工业和信息化部, Rasterelektronenmikroskop

JB/T 13390-2018 Infrarot-Scan-Thermometer
YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie

Alliance of Telecommunications Industry Solutions （ATIS), Rasterelektronenmikroskop

ATIS 0300102-2011 Scanner-Testergebnisse gemäß ATIS-0300085, BCSC-Testspezifikation für das Scannen von Produktetiketten

ATIS - Alliance for Telecommunications Industry Solutions, Rasterelektronenmikroskop

0300102-2011 Scanner-Testergebnisse gemäß ATIS-0300085@ BCSC-Testspezifikation für das Scannen von Produktetiketten

ES-UNE, Rasterelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Public Safety Standards, Rasterelektronenmikroskop

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Rasterelektronenmikroskop

HD 574 S1-1990 Helical-Videorecorder vom Typ B

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop

DB35/T 1778-2018 Scanning-Analysemethode zur Messung der Fußform

Professional Standard - Energy, Rasterelektronenmikroskop

NB/T 11139-2023 Mein 3D-Laserscanner