SEM-Scanparameter

Für die SEM-Scanparameter gibt es insgesamt 343 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst SEM-Scanparameter die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Baumaterial, erziehen, Wortschatz, Längen- und Winkelmessungen, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Luftqualität, Elektronische Anzeigegeräte, Mechanischer Test, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Farben und Lacke, Prüfung von Metallmaterialien, Textilfaser, Optoelektronik, Lasergeräte, Nichteisenmetalle, Physik Chemie, Elektronenröhre, Stahlprodukte, Keramik, Fischerei und Aquakultur, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Schnittstellen- und Verbindungsgeräte, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Fernsehsendungen und Radiosendungen, Zutaten für die Farbe, Umwelttests, Textilprodukte, Elektronische Geräte, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Datenspeichergerät.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM-Scanparameter

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

International Organization for Standardization (ISO), SEM-Scanparameter

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
ISO/FDIS 17751-2 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2014 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM-Scanparameter

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04(2024) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2041-99 Standardmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM E2041-03 Standardmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2041-01 Standardmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM E2041-08e1 Standardmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2070-13(2018) Standardtestmethode für kinetische Parameter durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung isothermer Methoden
ASTM E2041-13e1 Standardtestmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM E2041-23 Standardtestmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM E2070-23 Standardtestmethoden für kinetische Parameter durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung isothermer Methoden
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2041-13(2018) Standardtestmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM D605-82(1996)e1 Standardspezifikation für Magnesiumsilikatpigment (Talk)
ASTM D6059-96(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
ASTM E698-23 Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien unter Verwendung der dynamischen Differenzkalorimetrie und der Flynn/Wall/Ozawa-Methode
ASTM E2090-06 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12(2020) Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2890-12 Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger-Methode
ASTM E698-18 Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien unter Verwendung der dynamischen Differenzkalorimetrie und der Flynn/Wall/Ozawa-Methode
ASTM E698-16 Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien unter Verwendung der dynamischen Differenzkalorimetrie und der Flynn/Wall/Ozawa-Methode
ASTM E2890-12e1 Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger-Methode
ASTM E2890-12(2018) Standardtestmethode für kinetische Parameter thermisch instabiler Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger-Methode
ASTM E2890-21 Standardtestmethode zur Bestimmung kinetischer Parameter und Reaktionsordnung für thermisch instabile Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger- und Farjas-Methode
ASTM E3309-21 Standardhandbuch für die Berichterstattung über die Analyse von forensischen Primer-Schussrückständen (pGSR) mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie (SEM/EDS)

Group Standards of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/CNIA 0161-2023 Methode zur Untersuchung der Mikrostruktur und Morphologie von verformtem Aluminium und Aluminiumlegierungen. Rasterelektronenmikroskopie-Methode
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren
T/CIESC 0002-2020 Standardpraxis zur Bewertung von Methoden zur Bestimmung kinetischer Parameter durch Kalorimetrie und dynamische Differenzkalorimetrie
T/CES 183-2022 Spezifikation der Datenerfassung durch unbemanntes Starrflügel-Laserscanning für Freileitungen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Professional Standard - Machinery, SEM-Scanparameter

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM-Scanparameter

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 36052-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM-Scanparameter

KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS K ISO 17751-2:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM-Scanparameter

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM
SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: Röntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM-Scanparameter

GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 43661-2024 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung der elektrischen Rastersondenmikroskopie (ESPM, wie SSRM und SCM) für Anwendungen wie die 2D-Dotierstoffbildgebung
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
GB/T 40905.2-2022 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

KR-KS, SEM-Scanparameter

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem
KS K ISO 17751-2-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Education, SEM-Scanparameter

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

GSO, SEM-Scanparameter

GSO ISO 22493:2015 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
BH GSO ISO 22493:2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
GSO ISO 28600:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BH GSO ISO 28600:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
GSO ISO 11775:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Auslegers
BH GSO ISO 11775:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Auslegers
GSO ISO 25498:2015 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
GSO ISO 16000-27:2017 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
OS GSO ISO 16000-27:2017 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
GSO ISO 17751-2:2021 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
BH GSO ISO 17751-2:2022 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

SCC, SEM-Scanparameter

BS ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
ASTM E2781-24 Standardpraxis zur Bewertung von Methoden zur Bestimmung kinetischer Parameter durch Kalorimetrie und dynamische Differenzkalorimetrie
BS PD IEC/TR 61967-1-1:2010 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen – Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans
DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
DANSK DS/EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
DIN EN ISO 9220 E:2021 Entwurfsdokument – Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), SEM-Scanparameter

SMPTE 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE RP 86-1991 Videoaufzeichnungsparameter für die Aufzeichnung von 1-Zoll-Fernsehbandaufzeichnungen mit Helical-Scan Typ C
SMPTE 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE ST 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE ST 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE RP 84-1996 Referenzträgerfrequenzen und Preemphasis-Eigenschaften für die analoge 1-Zoll-Helical-Scan-Fernsehaufzeichnung vom Typ B

British Standards Institution (BSI), SEM-Scanparameter

18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung der Normalfederkonstanten des Auslegers
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans
BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
BS EN ISO 17751-2:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

Professional Standard - Petroleum, SEM-Scanparameter

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben
SY/T 0545-2012 Bestimmung der thermischen Eigenschaftsparameter der Wachsausfällung in Rohöl. Testmethode durch dynamische Differenzkalorimetrie
SY 0545-2012 Bestimmung thermischer charakteristischer Parameter der Wachsfällung in der Rohöl-Differenzkalorimetrie
SY/T 0545-1995 Bestimmung thermischer charakteristischer Parameter der Wachsfällung in der Rohöl-Differenzkalorimetrie

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Association of German Mechanical Engineers, SEM-Scanparameter

VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家能源局, SEM-Scanparameter

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

International Telecommunication Union (ITU), SEM-Scanparameter

ITU-R BT.1358-1-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BT.1358-1 SPANISH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BT.1358-1 FRENCH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BT.1362-1998 Schnittstellen für digitale Komponentenvideosignale in 525- und 625-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen
ITU-R BT.1362 FRENCH-1998 Schnittstellen für digitale Komponentenvideosignale in 525- und 625-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen. Schnittstellen für die Anzahl der Videosignale und Komponenten in den Übertragungssystemen: 525 Linien und 625 Linien mit Balayage-Programmierung

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, SEM-Scanparameter

ITU-R BT.1358-1998 Studioparameter von 625- und 525-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen
ITU-R BT.1362 SPANISH-1998 Schnittstellen für digitale Komponentenvideosignale in 525- und 625-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen

国家质量监督检验检疫总局, SEM-Scanparameter

SN/T 4704-2016 Isotherme Erfassung kinetischer Parameter Dynamische Differenzkalorimetrie

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, SEM-Scanparameter

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM-Scanparameter

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft
GB/T 35097-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrosmetrie – Bestimmung der zahlenmäßigen Konzentration anorganischer Faserpartikel in der Umgebungsluft

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, SEM-Scanparameter

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie
GJB 8683.10-2015 Prüfverfahren für physikalische Parameter der Pyrotechnik Teil 10: Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit mittels dynamischer Differenzkalorimetrie
GJB 8683.8-2015 Prüfverfahren für physikalische Parameter der Pyrotechnik Teil 8: Kontinuierliche Bestimmung der spezifischen Wärmekapazität Dynamische Differenzkalorimetrie
GJB 8683.11-2015 Prüfverfahren für physikalische Parameter der Pyrotechnik Teil 11: Bestimmung der Selbstentzündungstemperatur Differenzthermoanalyse und dynamische Differenzkalorimetrie

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, SEM-Scanparameter

VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method
VDI 3861 Blatt 2-1994 Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-1996 Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-2006 Messen von Emissionen - Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3877 Blatt 1-2009 Luftverschmutzung in Innenräumen – Messung von Staubablagerungen auf Oberflächen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2011 Messen von Innenraumluftverunreinigungen - Messen von Immissionen - Messen anorganischer faserförmiger Partikeln - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI/VDE 2617 Blatt 6.1-1998 Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Charakteristische Parameter und deren Überprüfung - Koordinatenmessgeräte mit optischen Tastern - Sensoren für die 2D-Messung
VDI/VDE 2617 Blatt 6.2-1999 Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Charakteristische Parameter und deren Überprüfung - Koordinatenmessgeräte mit optischen Tastern - Optische Sensoren zur eindimensionalen Abstandsmessung

SE-SIS, SEM-Scanparameter

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), SEM-Scanparameter

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, SEM-Scanparameter

NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberflächen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

RU-GOST R, SEM-Scanparameter

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST 19438.21-1979 Elektronische Röhren und Röhren mit geringem Stromverbrauch für Ausgangskaskaden der TV-Leitungsabtastung. Methoden zur Messung elektrischer Parameter und Prüfung der Betriebszeit
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 53536-2009 Fernsehen mit verbesserter Auflösung. Grundparameter des digitalen Systems mit progressiver Abtastung. Darstellung analoger und digitaler Signale. Parallele digitale Schnittstelle
GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Danish Standards Foundation, SEM-Scanparameter

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

German Institute for Standardization, SEM-Scanparameter

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-2 (2022-09) ersetzt.
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO/DIS 17751-2:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-2:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*I...
DIN ISO 16000-27:2014 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)

ES-UNE, SEM-Scanparameter

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO 17751-2:2016)

工业和信息化部, SEM-Scanparameter

YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM-Scanparameter

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie
GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, SEM-Scanparameter

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie
GJB 5382.10-2005 Prüfmethoden physikalischer Parameter für die Pyrotechnik. Teil 10: Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit. DSC-Methode
GJB 5382.8-2005 Prüfmethoden physikalischer Parameter für die Pyrotechnik. Teil 8: Bestimmung der spezifischen Wärmekapazität. DSC-Methode
GJB 5382.11-2005 Prüfmethoden physikalischer Parameter für die Pyrotechnik. Teil 11: Bestimmung der Selbstentzündungstemperatur. DTA- und DSC-Methode

AENOR, SEM-Scanparameter

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , SEM-Scanparameter

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

未注明发布机构, SEM-Scanparameter

JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ASTM RR-E37-1029 2003 E2070-Testmethoden für kinetische Parameter durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung isothermer Methoden
SEMI F73-0309-2009 TESTVERFAHREN ZUR RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE (SEM)-BEWERTUNG DES BENETZTEN OBERFLÄCHENZUSTANDS VON EDELSTAHLKOMPONENTEN
ASTM RR-E37-1028 2003 E2041-Testmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM RR-E37-1045 2012 E2890-Testmethode für kinetische Parameter für thermisch instabile Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger-Methode
ASTM RR-E27-1002 2001 E0698-Testmethode für kinetische Parameter für thermisch instabile Materialien unter Verwendung der dynamischen Differenzkalorimetrie und der Flynn/Wall/Ozawa-Methode
DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
DIN EN ISO 17751-2 E:2014-08 Quantitative Analyse von Textilien, Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie (Entwurf)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

AT-ON, SEM-Scanparameter

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

GOST, SEM-Scanparameter

GOST R ISO 14966-2022 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
GOST ISO 17751-2-2021 Textile Materialien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und Mischungen daraus. Teil 2. Rasterelektronenmikroskopie-Methode

BE-NBN, SEM-Scanparameter

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), SEM-Scanparameter

SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 – SMPTE-Standard – Für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE RP 86:1991 RP 86:1991 – Empfohlene SMPTE-Praxis – Videoaufzeichnungsparameter für die 1-Zoll-Typ-C-Helical-Scan-Fernsehbandaufzeichnung
ST 293:2003 ST 293:2003 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 720 × 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE ST 293:2003 ST 293:2003 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 720 × 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE RP 84:1996 RP 84:1996 – Empfohlene SMPTE-Praxis – Referenzträgerfrequenzen und Preemphasis-Eigenschaften für die analoge 1-Zoll-Helical-Scan-Fernsehaufzeichnung vom Typ B

BELST, SEM-Scanparameter

STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

未注明发布机构, SEM-Scanparameter

JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ASTM RR-E37-1029 2003 E2070-Testmethoden für kinetische Parameter durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung isothermer Methoden
SEMI F73-0309-2009 TESTVERFAHREN ZUR RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE (SEM)-BEWERTUNG DES BENETZTEN OBERFLÄCHENZUSTANDS VON EDELSTAHLKOMPONENTEN
ASTM RR-E37-1028 2003 E2041-Testmethode zur Schätzung kinetischer Parameter durch dynamisches Differenzkalorimeter unter Verwendung der Borchardt- und Daniels-Methode
ASTM RR-E37-1045 2012 E2890-Testmethode für kinetische Parameter für thermisch instabile Materialien durch dynamische Differenzkalorimetrie unter Verwendung der Kissinger-Methode
ASTM RR-E27-1002 2001 E0698-Testmethode für kinetische Parameter für thermisch instabile Materialien unter Verwendung der dynamischen Differenzkalorimetrie und der Flynn/Wall/Ozawa-Methode
DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
DIN EN ISO 17751-2 E:2014-08 Quantitative Analyse von Textilien, Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie (Entwurf)

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM-Scanparameter

DB37/T 420.2-2004 Diagnoseprotokoll für die Skorpionfingerkrankheit bei Marikulturfischen, Teil 2: Rasterelektronenmikroskopische Diagnosemethode

American National Standards Institute （ANSI), SEM-Scanparameter

ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ANSI/INCITS 267-1996 Informationstechnologie – Helical-Scan-Digital-Computerbandkassette, 12,65 mm (0,498 Zoll), für den Informationsaustausch, ersetzt ANSI X3.267-1996

Defense Logistics Agency, SEM-Scanparameter

DLA SMD-5962-93239 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, SCAN-Pfad-Linker mit 4-Bit-ID-Bus, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTAL-D-TYP-LATCH, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, SCAN-Pfad-Linker mit 4-Bit-ID-Bus, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTALPUFFER, INVERTIERENDE DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
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