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Parameter des Rasterelektronenmikroskops

Für die Parameter des Rasterelektronenmikroskops gibt es insgesamt 15 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Parameter des Rasterelektronenmikroskops die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS

BELST, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

American Society for Testing and Materials (ASTM), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Group Standards of the People's Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
• T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie

International Organization for Standardization (ISO), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Professional Standard - Machinery, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
• JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen

Professional Standard - Commodity Inspection, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

• KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie

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