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Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

Für die Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops gibt es insgesamt 5 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

  • GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS

American Society for Testing and Materials (ASTM), Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

  • ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

BELST, Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

  • STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

  • SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 – SMPTE-Standard – Für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter

KR-KS, Über die Parameter des Rasterelektronenmikroskops

  • KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem




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