Parameter des Rasterelektronenmikroskops

Für die Parameter des Rasterelektronenmikroskops gibt es insgesamt 31 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Parameter des Rasterelektronenmikroskops die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, analytische Chemie, Luftqualität, Elektronenröhre, Fernsehsendungen und Radiosendungen.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-06 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12(2020) Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS

International Telecommunication Union (ITU), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

ITU-R BT.1358-1-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BT.1358-1 SPANISH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BT.1358-1 FRENCH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

ITU-R BT.1358-1998 Studioparameter von 625- und 525-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

SMPTE RP 86-1991 Videoaufzeichnungsparameter für die Aufzeichnung von 1-Zoll-Fernsehbandaufzeichnungen mit Helical-Scan Typ C
SMPTE 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE ST 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter

International Organization for Standardization (ISO), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1

British Standards Institution (BSI), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie

BELST, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

RU-GOST R, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

GOST 19438.21-1979 Elektronische Röhren und Röhren mit geringem Stromverbrauch für Ausgangskaskaden der TV-Leitungsabtastung. Methoden zur Messung elektrischer Parameter und Prüfung der Betriebszeit
GOST R 53536-2009 Fernsehen mit verbesserter Auflösung. Grundparameter des digitalen Systems mit progressiver Abtastung. Darstellung analoger und digitaler Signale. Parallele digitale Schnittstelle

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Parameter des Rasterelektronenmikroskops

SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 – SMPTE-Standard – Für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE RP 86:1991 RP 86:1991 – Empfohlene SMPTE-Praxis – Videoaufzeichnungsparameter für die 1-Zoll-Typ-C-Helical-Scan-Fernsehbandaufzeichnung

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

GB/T 35097-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrosmetrie – Bestimmung der zahlenmäßigen Konzentration anorganischer Faserpartikel in der Umgebungsluft

KR-KS, Parameter des Rasterelektronenmikroskops

KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem