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RUTotalreflexions-Röntgenspektrum
Für die Totalreflexions-Röntgenspektrum gibt es insgesamt 12 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Totalreflexions-Röntgenspektrum die folgenden Kategorien: analytische Chemie.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Totalreflexions-Röntgenspektrum
- GB/T 42360-2023 Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopische Analyse von Wasser für die chemische Oberflächenanalyse
- GB/T 30701-2014 Chemische Oberflächenanalyse. Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Totalreflexions-Röntgenspektrum
- GB/T 40110-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
British Standards Institution (BSI), Totalreflexions-Röntgenspektrum
- PD ISO/TS 18507:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Einsatz der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie in der biologischen und Umweltanalyse
- BS PD ISO/TS 18507:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Einsatz der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie in der biologischen und Umweltanalyse
- BS ISO 14706:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS ISO 14706:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS ISO 14706:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Totalreflexions-Röntgenspektrum
- KS D ISO 14706:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
International Organization for Standardization (ISO), Totalreflexions-Röntgenspektrum
- ISO/TS 18507:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Einsatz der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie in der biologischen und Umweltanalyse
- ISO 17331:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).