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espectro de rayos X de reflexión total
espectro de rayos X de reflexión total, Total: 12 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectro de rayos X de reflexión total son: Química analítica.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, espectro de rayos X de reflexión total
- GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
- GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, espectro de rayos X de reflexión total
- GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
British Standards Institution (BSI), espectro de rayos X de reflexión total
- PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
- BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
- BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), espectro de rayos X de reflexión total
- KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
International Organization for Standardization (ISO), espectro de rayos X de reflexión total
- ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
- ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).