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fluorescencia de rayos X de reflexión total

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fluorescencia de rayos X de reflexión total son: Química analítica.


German Institute for Standardization, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • DIN 51003:2004 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones

未注明发布机构, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • DIN 51003 E:2021-05 Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF): principios y términos generales
  • DIN 51003:2022-05 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones
  • ASTM RR-F01-1012 1996 F1526: método de prueba estándar para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total

SCC, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • DIN 51003 E:2021 Borrador de documento - Fluorescencia de rayos X de reflexión total - Principios y definiciones
  • BS ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua

International Organization for Standardization (ISO), fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
  • ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).

British Standards Institution (BSI), fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.
  • PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

KR-KS, fluorescencia de rayos X de reflexión total

  • KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total




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