Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

Für die Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops gibt es insgesamt 22 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optoelektronik, Lasergeräte, Optik und optische Messungen, Batterien und Akkus, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

JIS B 7254:2007 Mikroskope – Vergrößerung

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

American Society for Testing and Materials (ASTM), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

Professional Standard - Machinery, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung

Group Standards of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

T/CI 035-2022 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung von Röntgenerkennungsgeräten für Lithium-Ionen-Batterien

Defense Logistics Agency, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

DLA SMD-5962-91693 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, VIERFACH, GERINGER LEISTUNG, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89438 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, 10-NICHT-INVERTIERENDES REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95596 REV B-2006 MIKROKREISLAUF, LINEAR, EINZELVERSORGUNG, DREIFACH-VIDEOVERSTÄRKER MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MONOLITHISCHES SILIKON

International Organization for Standardization (ISO), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

British Standards Institution (BSI), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

KR-KS, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops

KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung