ZH
EN
KR
JP
ES
RUVergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Für die Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops gibt es insgesamt 254 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops die folgenden Kategorien: fotografische Fähigkeiten, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Optoelektronik, Lasergeräte, Umfangreiche elektronische Komponenten, Werkzeugmaschinenausrüstung, Elektronenröhre, Luftqualität, Film, Land-und Forstwirtschaft, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Ausrüstung für Menschen mit Behinderungen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Zerstörungsfreie Prüfung, Glasfaserkommunikation, Diskrete Halbleitergeräte, Solartechnik, Messung des Flüssigkeitsflusses, Wasserbau, Strahlungsmessung, Wortschatz, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, analytische Chemie, Kernenergietechnik, Drahtlose Kommunikation, Vibrations-, Schock- und Vibrationsmessungen, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Strahlenschutz, Elektronische Geräte, Schutz vor Stromschlägen, Windkraftanlagen und andere Energiequellen, Umweltschutz.
Military Standards (MIL-STD), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Professional Standard - Aviation, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
HU-MSZT, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Professional Standard - Machinery, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- JB/T 8621-2014 Vergrößerungslinse
- JB/T 8621-1997 Vergrößerungslinse
- JB/T 8230.6-1999 Mikroskope.Vergrößerungskraft
- JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung
- JB/T 1787-2006 Technische Spezifikation des 16-mm-Filmprojektionsobjektivs
- JB/T 1786-2005 Technische Spezifikation des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
- JB/T 1786-1991 Technische Bedingungen für 35-mm-Filmprojektionsobjektive
- JB/T 1787-1991 Spezifikationen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
- JB/T 1786-2016 Technische Daten des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
- JB/T 9409-2010 Verfahren zur Bestimmung verschiedener Funktionen von Bewegungsbild-Projektionsobjektiven
- JB/T 9407-2010 Auflösungstestziel für Filmprojektionsobjektive
- JB/T 5378-2007 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
- JB/T 9408-2010 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für die 35-mm-Filmprojektion
- JB/T 5378-1991 Technische Bedingungen für die anamorphotische Vorsatzlinse für die 16-mm-Filmprojektion
- JB/T 12112-2015 Spezifikationen für Spiegel digitaler Kinoprojektoren
- JB/T 11851-2014 35-mm-Filmprojektionsobjektiv mit Einzelspule für 3D-Filme.Spezifikation
- JB/T 7467-2008 Technische Spezifikation der Sucher für 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
- JB/T 7467-1994 Spezifikationen für Spiegel von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
- JB/T 9302-1999 Gleichstrom-Galvanometer mit photoelektrischem Verstärker
- JB/T 9301-1999 elektronisches Verstärkergalvanometer
- JB/T 10976-2010 Die 35-mm-Filmprojektion nutzt den Vorrat zur Sammlung von Filmgeräten
- JB/T 9299-1999 Stabilisierte Spannungsversorgung, AC-Ausgang, Typ Magnetverstärker
- JB/T 5458-1991 Ladungsverstärker – Allgemeine Spezifikation
Professional Standard - Education, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
American National Standards Institute (ANSI), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- GB/T 22059-2008 Mikroskope – Vergrößerungsleistung
- GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- GB/T 20968-2007 Zerstörungsfreie Prüfung. Hilft bei der Sichtprüfung. Auswahl an Lupen mit geringer Leistung
- GB/T 4079-1994 Prüfverfahren für Verstärker und ladungsempfindliche Vorverstärker, die mit Detektoren für ionisierende Strahlung verwendet werden
- GB 13223-1996 Emissionsstandard für Luftschadstoffe für Wärmekraftwerke
- GB 13223-2003 Emissionsstandard für Luftschadstoffe für Wärmekraftwerke
- GB 13223-2011 Emissionsstandard für Luftschadstoffe für Wärmekraftwerke
- GB/T 42837-2023 Mikrowellen-Halbleiter-IC-Verstärker
- GB/T 15426-1994 Blanko-Bauartspezifikation für Aufnahmerohre
RU-GOST R, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- GOST R 51075-2017 Fernsehvergrößerungsgeräte. Allgemeine Spezifikation
- GOST 25706-1983 Lupen. Typen, Grundparameter. Allgemeine technische Anforderungen
- GOST 9039-1973 Anamorphotische Vorsätze für Objektive von Kinoprojektoren. Spezifikationen
- GOST 3840-1979 Projektionsobjektive. Spezifikationen
- GOST 23089.1-1983 Integrierte Schaltkreise. Verfahren zur Messung der Verstärkung von Operationsverstärkern und Spannungskomparatoren
- GOST 21815.10-1986 Bildverstärker- und Bildwandlerröhren. Methode zur Messung der elektronenoptischen Vergrößerung
- GOST 23089.2-1983 Integrierte Schaltkreise. Methode zur Messung der maximalen Ausgangsspannung des Operationsverstärkers
- GOST 23089.13-1986 Integrierte Mikroschaltungen. Messmethoden für die Grenzfrequenz und die Einheitsverstärkungsfrequenz von Operationsverstärkern
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
IN-BIS, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- IS 5110-1969 Spezifikationen für Hornhautlupen
- IS 12568-1988 Testmethode für Schwarzweiß-Fotolupen
- IS 5148-1969 Handlupen (rund) in den Größen 50, 75 und 100 mm
- IS 6134 Pt.10-1981 Methoden zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren Teil X Kreuzfeldverstärkerröhren
- IS 12970 Pt.5/Sec.3-1992 Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltkreise. Teil 5: Analoge integrierte Schaltkreise. Wesentliche Bewertungen und Eigenschaften. Abschnitt 3: Audioverstärker, Videoverstärker und Mehrkanalverstärker für die Telekommunikation
American Society for Testing and Materials (ASTM), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E1951-02(2007) Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
- ASTM E1951-14 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
- ASTM E1951-98 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
- ASTM E1951-02 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
- ASTM E1951-01 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
- ASTM E1951-14(2019) Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
United States Navy, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- NAVY MIL-L-81848-1972 LICHT, FLUORESZENZ, VERGRÖSSERUNG, VERSTELLBARER ARM
- NAVY MIL-M-21039 B NOTICE 1-1999 LUPE, MESSROHR-TYP, SIEBEN POWER AR-60 ( )
- NAVY MIL-M-21039 B-1979 LUPE, MESSROHR-TYP, SIEBEN POWER AR-60 ( )
- NAVY MIL-A-81307-1965 VERSTÄRKER, SERVOMOTOR ALLGEMEINE SPEZIFIKATION
- NAVY MIL-A-28897 NOTICE 1-1995 VERSTÄRKER, RADIOFREQUENZ, AM-7074/BRC
- NAVY MIL-A-28897 (2)-1988 VERSTÄRKER, RADIOFREQUENZ, AM-7074/BRC
- NAVY MIL-A-28897-1985 VERSTÄRKER, RADIOFREQUENZ, AM-7074/BRC
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops
PL-PKN, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- PN N53052-1986 Lupen Grundlegende Anforderungen und Prüfungen
- PN N84513-1990 Fotografische Vergrößerungsobjektive Grundvoraussetzungen und Prüfungen
RO-ASRO, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- STAS 3881-1981 VERGRÖSSERUNGSLINSEN Klassifizierung und Hauptparameter
- STAS 12644-1988 VISUELLE ZERSTÖRUNGSFREIE PRÜFUNG Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- STAS 6653-1972 MECHANISCHER WINKELMESSER MIT VERGRÖSSERUNGSLINSE Technische allgemeine Anforderungen an die Qualität
- STAS 11200/5255-1989 GRAFISCHES SYMBOL FÜR WANDERWELLENRÖHRENVERSTÄRKER
British Standards Institution (BSI), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- BS 7012-1:1998 Lichtmikroskope – Spezifikation für die Vergrößerungsleistung von Mikroskop-Bildgebungskomponenten
- BS ISO 8039:2014 Mikroskope. Werte, Toleranzen und Symbole zur Vergrößerung
- BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- BS ISO 3058:1998 Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- 21/30441014 DC PD IEC TR 61292-12. Optische Verstärker. Teil 12. Glasfaserverstärker für die Raummultiplexübertragung
KR-KS, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- KS B ISO 8039-2016 Optik und optische Instrumente Mikroskope Vergrößerung
- KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- KS B ISO 3058-2022 Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- KS B ISO 9825-2020 Hydrometrie – Feldmessung des Abflusses in großen Flüssen und Flüssen bei Überschwemmungen
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- GB/T 22059-2018 Mikroskope – Werte, Toleranzen und Symbole für die Vergrößerung
Professional Standard - Electron, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- SJ 20485-1995 Allgemeine Spezifikation für Kreuzfeldverstärker
- SJ 20533-1995 Messmethoden von Kreuzfeldverstärkerröhren
- SJ/Z 9008.8-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 9: Kreuzfeldverstärkerröhren
- SJ 20645-1997 Mikrowellenschaltungen Messmethoden für Verstärker
International Organization for Standardization (ISO), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- ISO 8039:2012 Mikroskope – Werte, Toleranzen und Symbole für Vergrößerungen
- ISO 8039:2014 Mikroskope – Werte, Toleranzen und Symbole für Vergrößerungen
- ISO 8039:1997 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Vergrößerung
- ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- ISO 3058:1974 Zerstörungsfreie Prüfung; Hilfsmittel zur visuellen Inspektion; Auswahl an Lupen mit geringer Leistung
- ISO 3058:1998 Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
- ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
- ISO 12608:1996 Kinematographie – Raum- und Umgebungsbedingungen zur Bewertung der Fernsehwiedergabe aus der Telecine-Wiedergabe
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- KS B ISO 8039:2006 Optik und optische Instrumente Mikroskope Vergrößerung
- KS B ISO 8039-2016(2021) Optik und optische Instrumente Mikroskope Vergrößerung
- KS B ISO 8039:2016 Optik und optische Instrumente Mikroskope Vergrößerung
- KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- KS B ISO 3058-2001(2021) Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- KS B ISO 3058:2001 Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur visuellen Prüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- KS B ISO 3058-2001(2016) Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- KS B ISO 3058:2022 Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- KS B ISO 9825:2020 Hydrometrie – Feldmessung des Abflusses in großen Flüssen und Flüssen bei Überschwemmungen
- KS B ISO 9825:2015 Messung des Flüssigkeitsdurchflusses in offenen Kanälen – Feldmessung des Abflusses in großen Flüssen und Überschwemmungen
Association Francaise de Normalisation, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
- NF C01-431:1982 Elektrotechnischer Wortschatz. Kapitel 431: Transduktoren.
- NF EN IEC 60268-3:2018 Ausrüstung für elektroakustische Systeme – Teil 3: Verstärker
Association of German Mechanical Engineers, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- VDI 2310 Blatt 46-2005 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Dioxin zum Schutz landwirtschaftlicher Nutztiere
- VDI 2310 Blatt 45-2006 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Lithium zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 32-1995 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für PCB zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 30-2005 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Nickel zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 31-2005 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Zink zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 34-1996 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Vanadium zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 44-2006 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Aluminium zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 33-1996 Maximale Immissionswerte – Maximale Immissionswerte für Quecksilber zum Schutz von Nutztieren
- VDI 2310 Blatt 39-2011 Maximale Immissionswerte – Maximale Chromaufnahmewerte zum Schutz der Nutztiere und der daraus gewonnenen Lebensmittel
- VDI 2310 Blatt 37-2015 Maximale Immissionswerte – Maximale Molybdänaufnahmewerte zum Schutz der Nutztiere und der daraus gewonnenen Lebensmittel
工业和信息化部/国家能源局, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- JB/T 13292-2017 Abmessungen von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektionsobjektiven und Objektivhaltern
- JB/T 1787-2017 Technische Bedingungen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
- JB/T 5378-2017 Technische Bedingungen des anamorphotischen Zusatzobjektivs für die 16-mm-Filmprojektion
中国气象局, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- QX/T 566-2020 Feldmühle, atmosphärisches elektrisches Feldinstrument
- QX/T 594-2020 Spezifikationen für die Beobachtung bodenatmosphärischer elektrischer Felder
中华人民共和国环境保护部, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- GB 13801-2015 Emissionsstandard für Luftschadstoffe für Krematorien
Beijing Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Group Standards of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- T/CARD 011.2-2021 Beschaffungsvorgaben für Hilfsmittel Teil 2: Optische Lupen
- T/CSEE 0193-2021 Technischer Code für die Gestaltung der Heliostat-Feldstromverteilung von Solarkraftwerken
- T/CEEIA 238-2016 Spezifikationen für Spiegelplattenschmiedeteile für große Wasserkraftgeneratoren
- T/QGCML 829-2023 Analoger Glasfaserverstärker für CATV-Systeme
Defense Logistics Agency, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- DLA SMD-5962-89438 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, 10-NICHT-INVERTIERENDES REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-97637 REV A-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEARER, SCHNELLER JFET-OPERATIONSVERSTÄRKER AUS MONOLITHISCHEM SILIZIUM
- DLA SMD-5962-98515 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL-JFET-EINGANG-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
- DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
- DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
- DLA A-A-50207 A-1988 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
- DLA SMD-5962-90500 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHGESCHWINDIGKEIT, FET-EINGANG, OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-89622 REV A-1994 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, HOCHGESCHWINDIGKEIT, JFET, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-91574 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, DIFFERENZIELLER OPERATIONSVERSTÄRKER, FET-EINGANG
- DLA SMD-5962-98636 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLUNGSGEHÄRTETER JFET-EINGANG-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-90895 REV E-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CHOPPER-STABILISIERT, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-87620 REV E-2009 MIKROSCHALTER, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-11228-2011 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-90723 REV E-2011 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-90828 REV E-2011 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-88608 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, 10-BIT-NICHTINVERTIERENDES REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-88656 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, NICHT INVERTIERENDES 9-BIT-REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-89976 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, HOCHGESCHWINDIGKEIT, PRÄZISION, JFET, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-90633 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, QUAD-BIFET, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-90902 REV A-2002 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, FET-EINGANG, PUFFERVERSTÄRKER MIT GESCHLOSSENEM SCHLAUF
- DLA SMD-5962-97633 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL, GERINGER LEISTUNG, JFET-EINGANG, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-96897 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, OPERATIONSVERSTÄRKER, EINZELN, HOCHSPANNUNG, MOSFET, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-96737-1996 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, PRÄZISION, HOHE SLEW-RATE, BREITBAND-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-90659 REV F-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-91519 REV C-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL-PRÄZISIONS-JFET, HOCHGESCHWINDIGKEITS-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-89897 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, VIERFACH, PRÄZISION, HOCHGESCHWINDIGKEIT, JFET-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-90838 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHSTROM, HOHE LEISTUNG, DUAL, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA DSCC-VID-V62/06641 REV A-2012 MIKROSCHALTUNG, CMOS, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-95668 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-95598 REV A-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LOGARITHMISCHER VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-88701 REV F-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHSTROM, OPERATIONSVERSTÄRKER
- DLA SMD-5962-90818 REV B-2010 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STROMRÜCKKOPPLIFIER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-89620 REV E-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STROMFEEDBACK-VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-97521 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STROMFEEDBACK-VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-95597 REV D-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGSFEEDBACK-KLEMMENVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-87780 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, INSTRUMENTIERUNGSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-89644 REV C-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-89644 REV D-2012 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-92129 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, TRANSIMPEDANZVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA DSCC-VID-V62/09613-2009 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DIFFERENZVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-95598 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LOGARITHMISCHER VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-98646 REV B-2010 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LOGARITHMISCHER VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-90521 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, BREITBANDVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-98646 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LOGARITHMISCHER VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MIL-M-38510/110 C VALID NOTICE 1-2008 Mikroschaltungen, lineare, Quad-Operationsverstärker, monolithisches Silizium
U.S. Military Regulations and Norms, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
ES-UNE, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- UNE-EN 303354 V1.1.1:2017 Verstärker und aktive Antennen für den Empfang von Fernsehsendungen in Wohnräumen; Harmonisierte Norm, die die grundlegenden Anforderungen von Artikel 3.2 der Richtlinie 2014/53/EU abdeckt (im April 2017 von der Asociación Española de Normalización gebilligt).
工业和信息化部, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- JB/T 13803-2020 Technische Bedingungen des Objektivs für die digitale Kinoprojektion
- JB/T 7467-2020 Technische Bedingungen für 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
Professional Standard - Military and Civilian Products, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
VN-TCVN, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- TCVN 5879-2009 Zerstörungsfreie Prüfung. Hilft bei der Sichtprüfung. Auswahl an Lupen mit geringer Leistung
YU-JUS, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- JUS C.A7.092-1985 Zerstörungsfreie Prüfung. Hilfsmittel zur visuellen Inspektion. Auswahl an Lupen mit geringer Leistung
TR-TSE, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- TS 2399-1976 Zerstörungsfreie Prüfung – führt zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- TS 3433-1979 PRÜFVERFAHREN FÜR VERSTÄRKER UND VORVERSTÄRKER FÜR HALBLEITERDETEKTOREN FÜR IONISIERENDE STRAHLUNG
未注明发布机构, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- BS ISO 3058:1998(1999) Zerstörungsfreie Prüfung – Hilfsmittel zur Sichtprüfung – Auswahl von Lupen mit geringer Leistung
- GJB 1649-1993 Überblick über die Kontrolle der antistatischen Entladung für elektronische Produkte
- DIN EN 60268-3:2001 Elektroakustische Geräte Teil 3: Verstärker
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- GJB 8975-2017 Anforderungen für die Überwachung atmosphärischer elektrischer Felder an Weltraumstartplätzen
- GJB 8125-2013 Messmethoden für Mikrowellen-Verstärkerschaltungen
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
U.S. Air Force, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
国家能源局, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- NB/T 10831-2021 Technische Bedingungen für große Schmiedeteile von Hydrogenerator-Spiegelplatten
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- IEEE 301-1988 Standardtestverfahren für Verstärker und Vorverstärker, die mit Detektoren für ionisierende Strahlung verwendet werden
- IEEE Std C37.18-1979 Geschlossene Standard-Feldentladungs-Leistungsschalter für rotierende elektrische Maschinen
- ANSI/IEEE Std C37.18-1979 IEEE-Standard-Feldentladungs-Leistungsschalter für rotierende elektrische Maschinen
CZ-CSN, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Professional Standard-Ships, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- CB/T 3398-2013 Elektrohydraulischer Servoventilverstärker für die Schifffahrt
- CB 3402-1991 Elektronischer Verstärker für Marine-Proportionalventile
Professional Standard - Electricity, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- DL/T 417-2006 Leitfaden zur Teilentladungsmessung von Energieanlagen
- DL/T 417-2019 Richtlinien für die Vor-Ort-Messung der Teilentladung von Energieanlagen
- DL 417-1991 Richtlinien für die Vor-Ort-Messung der Teilentladung von Energieanlagen
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- HD 404-1980 Testverfahren für Verstärker und Vorverstärker für Halbleiterdetektoren für ionisierende Strahlung
Professional Standard - Agriculture, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
BELST, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- STB 1399-2003 Fernsehvergrößerungsgeräte. Generelle Spezifikation
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- DB43/T 2202-2021 Technische Anforderungen für die Blitzvorhersage basierend auf dem atmosphärischen elektrischen Feld
Aeronautical Radio Inc., Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- ARINC 606-1 ITEM 3.0 Auswirkungen elektrostatischer Felder und Entladungen auf moderne mikroelektronische Teile
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- JEDEC JESD22-C101C-2004 Feldinduziertes Modelltestverfahren für geladene Geräte für die Widerstandsschwellenwerte für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
International Electrotechnical Commission (IEC), Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- IEC PAS 62162:2000 Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- DB42/T 1682-2021 Technische Spezifikation für die Installation eines Messgeräts für bodenatmosphärische elektrische Felder
Professional Standard - Energy, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
- NB/T 31003-2011 Auslegungsvorschrift für den Anschluss großer Windkraftanlagen an das System
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops
Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, Vergrößerung des Feldelektronenmikroskops