Feldelektronenmikroskop

Für die Feldelektronenmikroskop gibt es insgesamt 308 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Feldelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Solartechnik, Optische Ausrüstung, Luftqualität, Sportausrüstung und -anlagen, Textilprodukte, Bodenbelag ohne Stoff, medizinische Ausrüstung, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Film, Glas, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Motorräder und motorisierte Fahrräder, Optik und optische Messungen, Chemische Ausrüstung, Nichteisenmetalle, analytische Chemie, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Explosionsgeschützt, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Straßenfahrzeuggerät, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Batterien und Akkus, Strahlungsmessung, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Struktur und Strukturelemente, Metrologie und Messsynthese, Astronomie, Geodäsie, Geographie, Schutzausrüstung, Mikrobiologie, Schaltgeräte und Controller, Anwendungen der Informationstechnologie, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Wortschatz, Stahlprodukte, Drucktechnik, Telekommunikationsendgeräte, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, erziehen, Windkraftanlagen und andere Energiequellen, Strahlenschutz, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Elektrische und elektronische Prüfung, Längen- und Winkelmessungen, Elektronische Komponenten und Komponenten, Verbrennungsmotoren für Straßenfahrzeuge, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Finanzen, Banken, Währungssystem, Versicherungen, Thermodynamik und Temperaturmessung, Optoelektronik, Lasergeräte, Umfangreiche elektronische Komponenten, Milch und Milchprodukte, Wasserbau.

Group Standards of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

T/CSEE 0193-2021 Technischer Code für die Gestaltung der Heliostat-Feldstromverteilung von Solarkraftwerken
T/ZZB 2870-2022 Elektrochromer, blendfreier Rückspiegel
T/ZZB 1865-2020 Elektrischer Rückspiegel-Treiber für Automobile
T/CSTM 00162-2020 Kalibrierungsmethoden für Transmissionselektronenmikroskope
T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/SHDSGY 101-2022 Primärer Einsatz von elektronischer Blase und Pyeloskop
T/GDAQI 111-2023 Bewertungsmethode für die Schärfentiefe eines medizinischen elektronischen Endoskops
T/IAC 19.4-2019 Fahrzeugtest-Passungsspezifikation für Kfz-Ersatzteilteile – Teil 4: Baugruppe und Teile der Außenrückspiegel von Fahrzeugen
T/CMSA 0042-2023 Kalibrierung des Sensors für elektromagnetische Blitzfelder
T/GDAQI 94-2022 Bewertungsmethode für die Grenzauflösung medizinischer elektronischer Endoskope
T/CEEIA 238-2016 Spezifikationen für Spiegelplattenschmiedeteile für große Wasserkraftgeneratoren

British Standards Institution (BSI), Feldelektronenmikroskop

23/30451616 DC BS EN IEC 62862-4-2. Solarthermische Kraftwerke – Teil 4-2. Heliostat-Feldsteuerungssystem für Solarturmkraftwerke
BS ISO 19012-1:2013 Mikroskope. Bezeichnung von Mikroskopobjektiven. Ebenheit des Feldes/Plans
BS EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
PD IEC TR 63167:2018 Beurteilung des Kontaktstroms im Zusammenhang mit der Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern
BS ISO 14490-9:2019 Optik und Photonik. Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Prüfverfahren für Feldkrümmung
BS EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen. Kommerzielle Informationen
BS EN ISO 10685-2:2012 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen. Kommerzielle Informationen
BS EN ISO 10685-3:2012 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen. Technische Informationen
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS EN ISO 10685-1:2011 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen. Produktidentifikation und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN 62226-3-1:2007+A1:2017 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich. Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten inneren elektrischen Feldes – Exposition gegenüber elektrischen Feldern. Analytische und 2D-numerische…
BS EN 62226-2-1:2005 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten inneren elektrischen Feldes – Exposition gegenüber magnetischen Feldern – 2D-Modelle
BS EN 50413:2009 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
BS EN 62226-1:2005 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten inneren elektrischen Feldes – Allgemeines
BS EN 50413:2008+A1:2013 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
BS EN 50413:2019 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
BS EN 62226-3-1:2007 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten internen elektrischen Feldes – Exposition gegenüber elektrischen Feldern – Analytische und numerische 2D-Modelle

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB44/T 1529.1-2015 Mikroskopobjektivbezeichnung Teil 1: Flachfeld
DB44/T 2081-2017 Technische Anforderungen für die elektronische Kolposkopie

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Feldelektronenmikroskop

KS B ISO 19012-1:2011 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS B ISO 19012-1:2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS R 4066-2013 RÜCKBLICKSPIEGEL FÜR MOTORRAD
KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS C 8517-2021 Belüftete prismatische sekundäre Einzelzellen aus Nickel-Cadmium
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS V 8415-1979 Linsen für maritime Morsesignallampen
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS C IEC 60833:2006 Messung netzfrequenter elektrischer Felder
KS C IEC 60833-2006(2016) Messung netzfrequenter elektrischer Felder
KS C IEC 62226-2-1-2008(2018) Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten internen elektrischen Feldes – Teil 2 – 1: Exposition
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS I 4036-2019 Testmethoden für wiederaufbereitete elektrische Seitenspiegel für Personenkraftwagen
KS W 8312-1981 LAMPEN FÜR FLUGHAFEN- UND FLUGHAFENBELEUCHTUNG
KS H ISO 5764:2021 Milch – Bestimmung des Gefrierpunkts – Thermistor-Kryoskop-Methode
KS C IEC 62226-2-1:2008 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten internen elektrischen Feldes – Teil 2 – 1: Exposition gegenüber magnetischen Feldern – 2D-Modelle

Professional Standard - Machinery, Feldelektronenmikroskop

JB/T 7398.10-1994 Mikroskop - Dunkelfeldgerät
JB/T 9426.4-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 4: Bajonett-Objektivanschluss (Typ Ｉ) für 35-mm-Filmkameraobjektive
JB/T 9426.5-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 5: Objektivanschluss mit Gewinde (Typ C) für 16-mm-Filmkameraobjektive
JB/T 9426.2-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 2: Serie von Filmkameraobjektiven
JB/T 9426.6-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 6: Verfahren zur Bestimmung verschiedener Funktionen von Objektiven für Filmkameras
JB/T 5480-1991 Membran des Elektronenmikroskops
JB/T 5481-1991 Lampenfaden des Elektronenmikroskops
JB/T 9426.1-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 1: Festbrennweite und Zoomobjektiv für Filmkameras
JB/T 1787-2006 Technische Spezifikation des 16-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 9352-1999 Testmethode für das Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5383-1991 Spezifikation für Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 1786-2005 Technische Spezifikation des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 1786-1991 Technische Bedingungen für 35-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 1787-1991 Spezifikationen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 1786-2016 Technische Daten des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 9409-2010 Verfahren zur Bestimmung verschiedener Funktionen von Bewegungsbild-Projektionsobjektiven
JB/T 7023-2014 Schubläufer-Schmiedeteile für hydraulische Generatoren. Technische Spezifikation
JB/T 9442-2015 Spezifikationen für Spiegel von elektrostatischen Kopiergeräten
JB/T 9442-1999 Spezifikation des Spiegels für elektrostatische Kopiergeräte
JB/T 7023-2002 Spezifikation für Schmiedeteile von Laufplatten für Hydrogeneratoren
JB/T 9407-2010 Auflösungstestziel für Filmprojektionsobjektive
JB/T 7023-1993 Spezifikationen für Spiegelplattenschmiedeteile für Wasserkraftgeneratoren
JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung
JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5378-2007 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 9408-2010 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für die 35-mm-Filmprojektion
JB/T 5378-1991 Technische Bedingungen für die anamorphotische Vorsatzlinse für die 16-mm-Filmprojektion
JB/T 12112-2015 Spezifikationen für Spiegel digitaler Kinoprojektoren
JB/T 11851-2014 35-mm-Filmprojektionsobjektiv mit Einzelspule für 3D-Filme.Spezifikation
JB/T 7467-2008 Technische Spezifikation der Sucher für 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
JB/T 7467-1994 Spezifikationen für Spiegel von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren

American Society for Testing and Materials (ASTM), Feldelektronenmikroskop

ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM D7200-06 Standardpraxis für die Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, in Bergwerken und Steinbrüchen mittels Phasenkontrastmikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

International Organization for Standardization (ISO), Feldelektronenmikroskop

ISO 19012-1:2011 Mikroskope - Bezeichnung von Mikroskopobjektiven - Teil 1: Bildfeldebene/Plan
ISO 19012-1:2013 Mikroskope.Bezeichnung von Mikroskopobjektiven.Teil 1: Feldebene/Plan
ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
ISO 10685-3:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
ISO 10685-2:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
ISO 10685-1:2011 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
ISO 14490-9:2019 Optik und Photonik – Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Teil 9: Prüfverfahren für Feldkrümmung

JSAE - Society of Automotive Engineers of Japan@ Inc., Feldelektronenmikroskop

JASO T009-1994 Messverfahren für das Feld eines Rückspiegels für Motorräder

Association Francaise de Normalisation, Feldelektronenmikroskop

NF P90-123*NF EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
NF C58-622:1996 Versiegelte, prismatische, wiederaufladbare Nickel-Cadmium-Einzelzellen.
NF EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Katalog und Identifizierung von Brillen- und Sonnenbrillenfassungen – Teil 1: Produktidentifizierung und elektronische Kataloghierarchie
NF S24-012:1958 KINEMATOGRAPHIE. MONTAGE VON KAMERAOBJEKTIVEN.
NF S11-560-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
NF S11-560-2*NF EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF EN 62226-3-1/A1:2017 Exposition gegenüber nieder- und mittelfrequenten elektrischen oder magnetischen Feldern – Methoden zur Berechnung induzierter Stromdichten und induzierter elektrischer Felder im menschlichen Körper – Teil 3-1: Exposition gegenüber elektrischen Feldern – Modell...
NF EN 62226-3-1:2008 Exposition gegenüber nieder- und mittelfrequenten elektrischen oder magnetischen Feldern – Methoden zur Berechnung induzierter Stromdichten und induzierter elektrischer Felder im menschlichen Körper – Teil 3-1: Exposition gegenüber elektrischen Feldern – Modell...
NF S11-560-3*NF EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
NF C99-117*NF EN 50413:2009 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
NF S11-560-1*NF EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
NF EN 62226-2-1:2005 Exposition gegenüber nieder- und mittelfrequenten elektrischen oder magnetischen Feldern – Methoden zur Berechnung induzierter Stromdichten und induzierter elektrischer Felder im menschlichen Körper – Teil 2-1: Exposition gegenüber magnetischen Feldern – Modell...
NF C99-117*NF EN 50413:2019 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
NF EN 50413:2019 Grundnorm für Mess- und Berechnungsverfahren zur Belastung von Menschen durch elektrische, magnetische und elektromagnetische Felder (0 Hz – 300 GHz)
NF C99-115-2-1*NF EN 62226-2-1:2005 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten internen elektrischen Feldes – Teil 2-1: Exposition gegenüber magnetischen Feldern – 2D-Modelle.

TIA - Telecommunications Industry Association, Feldelektronenmikroskop

TIA-573C000-1998 Abschnittsspezifikation für feldportable optische Mikroskope
TIA/EIA-573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
EIA-546A000-1989 Abschnittsspezifikation für ein tragbares optisches Feldmikroskop zur Inspektion von optischen Wellenleitern und verwandten Geräten

Danish Standards Foundation, Feldelektronenmikroskop

DS/EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
DS/EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
DS/EN ISO 10685-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
DS/EN 50413:2009 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
DS/EN 50413/A1:2013 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)

Lithuanian Standards Office , Feldelektronenmikroskop

LST EN 13745-2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
LST EN 50413-2009 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)

AENOR, Feldelektronenmikroskop

UNE-EN 13745:2006 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades

国家食品药品监督管理局, Feldelektronenmikroskop

YY/T 1587-2018 Medizinisches Endoskop, elektronisches Endoskop

KR-KS, Feldelektronenmikroskop

KS B ISO 19012-1-2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS H ISO 5764-2021 Milch – Bestimmung des Gefrierpunkts – Thermistor-Kryoskop-Methode

Professional Standard - Medicine, Feldelektronenmikroskop

YY/T 0619-2017 Medizinisches Endoskop, starres Koagulations-Schneid-Endoskop
YY 0619-2007 Starres Resektososkop

Military Standards (MIL-STD), Feldelektronenmikroskop

DOD GG-O-770 D-1986 OTOSKOP- UND OPHTHALMOSKOP-SET, BATTERIETYP [Verwendung anstelle von: DOD GG-O-00770 C]

European Committee for Standardization (CEN), Feldelektronenmikroskop

EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
EN ISO 10685-3:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012)
EN ISO 10685-1:2011 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)

German Institute for Standardization, Feldelektronenmikroskop

DIN EN 13745:2004-05 Oberflächen für Sportflächen - Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades; Deutsche Fassung EN 13745:2004
DIN 28120:2021-04 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
DIN 28120:2021 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
DIN VDE 0848-5:2001 Sicherheit in elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern – Teil 5: Schutz vor Explosionen
DIN 1324-3:1988-05 Elektromagnetisches Feld; Elektromagnetische Wellen
DIN EN ISO 10685-3:2013-03 Augenoptik - Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen - Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10685-3:2012
DIN VDE 0848-1:2000 Sicherheit in elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern – Teil 1: Definitionen, Mess- und Berechnungsmethoden
DIN ISO 14490-9:2021-01 Optik und Photonik – Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Teil 9: Prüfverfahren für Feldkrümmung (ISO 14490-9:2019)
DIN EN ISO 10685-1:2012-03 Augenoptik - Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen - Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011); Deutsche Fassung EN ISO 10685-1:2011
DIN 1324-2:1988-05 Elektromagnetisches Feld; Materialmengen
DIN EN 62226-2-1:2005 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten inneren elektrischen Feldes – Teil 2-1: Exposition gegenüber magnetischen Feldern – 2D-Modelle (IEC 62226-2-1: 2004

RU-GOST R, Feldelektronenmikroskop

GOST 9039-1973 Anamorphotische Vorsätze für Objektive von Kinoprojektoren. Spezifikationen
GOST 9040-1981 Anamorphotische Filmzubehörteile und anamorphotische Vorsätze für Kameraobjektive für 35-mm-Breitbildfilme. Allgemeine technische Daten
GOST R 51075-2017 Fernsehvergrößerungsgeräte. Allgemeine Spezifikation
GOST 3840-1979 Projektionsobjektive. Spezifikationen
GOST 8998-1974 Linsen für Telefonzentralen. Spezifikationen
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST R 51070-1997 Spannungsmessgeräte für elektrische und magnetische Felder. Allgemeine technische Anforderungen und Prüfmethoden
GOST 21006-1975 Elektronenmikroskope. Begriffe, Definitionen und Buchstabensymbole

Professional Standard - Business, Feldelektronenmikroskop

SB/T 11145-2015 Aufbau- und Managementspezifikation des optischen Handelsmarktes

American National Standards Institute （ANSI), Feldelektronenmikroskop

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
ANSI/IEEE C95.3.1:2010 Empfohlene Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die menschliche Exposition gegenüber solchen Feldern, 0–100 kHz
ANSI/IEEE 644:1994 Verfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
ANSI/IEEE 1460:1996 Leitfaden zur Messung quasistatischer magnetischer und elektrischer Felder

YU-JUS, Feldelektronenmikroskop

JUS M.L2.108-1994 Land- und forstwirtschaftliche Radtraktoren - Rückspiegel - Montage

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Feldelektronenmikroskop

GB/T 34831-2017 Nanotechnologien – Elektronenmikroskopische Bildgebung von Edelmetall-Nanopartikeln – Ringförmige Dunkelfeld-Bildgebungsmethode mit großem Winkel

Professional Standard - Commodity Inspection, Feldelektronenmikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 1840-2006 Methode zum Nachweis von Pflanzenviren mittels Immunelektronenmikroskopie

工业和信息化部/国家能源局, Feldelektronenmikroskop

JB/T 13292-2017 Abmessungen von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektionsobjektiven und Objektivhaltern
JB/T 1787-2017 Technische Bedingungen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 5378-2017 Technische Bedingungen des anamorphotischen Zusatzobjektivs für die 16-mm-Filmprojektion

未注明发布机构, Feldelektronenmikroskop

DIN 28120 E:2020-05 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
BS EN ISO 10685-2:2016(2017) Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen, Teil 2: Kommerzielle Informationen
DIN EN ISO 10685-2 E:2015-09 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 2: Commercial information (Draft)
DIN EN ISO 10685-2 E:2011-08 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 2: Commercial information (Draft)
DIN EN ISO 10685-3 E:2011-08 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 3: Technical information (draft)

AWS - American Welding Society, Feldelektronenmikroskop

FACT SHEET NO. 17-1996 Elektrische und magnetische Felder (EMF)

U.S. Military Regulations and Norms, Feldelektronenmikroskop

ARMY MIL-P-45602 B VALID NOTICE 2-2013 Periskop, Batteriebefehl: M65
ARMY MIL-C-62205 B NOTICE 2-1995 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B (1)-1993 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B VALID NOTICE 1-1987 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B-1981 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Feldelektronenmikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS B 7166:1983 Reflektor für 35-mm-Kinoprojektoren
JIS B 7287-2:2017 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
JIS B 7263-9:2023 Optik und Photonik – Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Teil 9: Prüfverfahren für Feldkrümmung
JIS B 7287-3:2017 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS B 7287-1:2015 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog

中国气象局, Feldelektronenmikroskop

QX/T 566-2020 Feldmühle, atmosphärisches elektrisches Feldinstrument

Professional Standard - Automobile, Feldelektronenmikroskop

QC/T 965-2014 Fahrer von elektrischen Rückspiegeln für Kraftfahrzeuge

Association of German Mechanical Engineers, Feldelektronenmikroskop

DVS 2801-1968 Widerstandsschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode

HU-MSZT, Feldelektronenmikroskop

MSZ 6575/7.lap-1961 Spiegelstandard-Prüfung der galvanischen Schicht
MSZ 20586-1980 Symbol für Endoskop und Batterie bei der Arbeit
MNOSZ 14971-1953 Chirurgische Instrumente, elektronisches Ophthalmoskop (trockene Umgebung)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

CNS 14959-2005 Grenzwerte für die Exposition gegenüber zeitlich veränderlichen elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (bis 300 GHz)

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Feldelektronenmikroskop

RAPPORT BS.516-4 FRENCH-1990 CHAMP R?SULTANT DE PLUSIEURS CHAMPS ?LECTROMAGN?TIQUES
REPORT BS.516-4-1990 Feldstärke, die aus mehreren elektromagnetischen Feldern resultiert
INFORME BS.516-4 SPANISH-1990 INTENSIDAD DE CAMPO RESULTANTE DE DOS O M?S CAMPOS ELECTROMAGN?TICOS

International Electrotechnical Commission (IEC), Feldelektronenmikroskop

IEC TR 63167:2018 Beurteilung des Kontaktstroms im Zusammenhang mit der Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern
IEC 60833:1987 Messung netzfrequenter elektrischer Felder
IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IEC 62226-2-1:2004 Exposition gegenüber elektrischen oder magnetischen Feldern im Nieder- und Mittelfrequenzbereich – Methoden zur Berechnung der Stromdichte und des im menschlichen Körper induzierten internen elektrischen Feldes – Teil 2-1: Exposition gegenüber magnetischen Feldern – 2D-Modelle

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB5106/T 28-2023 Managementpraktiken für faseroptische Laryngoskopiestandorte bei Ausbrüchen von durch die Luft übertragenen Krankheiten

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Feldelektronenmikroskop

GB/T 38010.2-2021 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
GB/T 38010.3-2021 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
GB/T 38010.1-2019 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog

International Telecommunication Union (ITU), Feldelektronenmikroskop

ITU-R INFORME BS.516-4 SPANISH-1990 Feldstärke, die aus mehreren elektromagnetischen Feldern resultiert
ITU-R REPORT BT.2017-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil 7 Seiten
ITU-R INFORME BT.2017 SPANISH-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil
ITU-R RAPPORT BT.2017 FRENCH-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil
ITU-R RAPPORT BS.516-4 FRENCH-1990 Feldstärke, die aus mehreren elektromagnetischen Feldern resultiert
ITU-R REPORT BS.516-4-1990 Feldstärke, die aus mehreren elektromagnetischen Feldern resultiert
ITU-T K.83-2011 Überwachung der Feldstärken elektromagnetischer Felder (Studiengruppe 5)
ITU-T K.83 SPANISH-2011 Überwachung der Feldstärke elektromagnetischer Felder

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

United States Navy, Feldelektronenmikroskop

NAVY MIL-L-22257-1959 LINSENSYSTEM, FERNSEHER MARK 2 MOD 0

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

JJG(地质) 1016-1990 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG(教委) 12-1992 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops
JJG 561-2016 Messgeräte für das elektrische Nahfeld

Professional Standard - Education, Feldelektronenmikroskop

JY/T 011-1996 Allgemeine Prinzipien der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0581-2020 Allgemeine Regeln für Analysemethoden der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Feldelektronenmikroskop

GB/T 42557-2023 Technische Spezifikation für den elektromagnetischen Umweltschutz von Radioteleskopen
GB 7667-1996 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB 7667-2003 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB 16203-1996 Gesundheitsstandard für elektrische Felder in der Arbeitsumgebung
GB/T 2900.87-2011 Elektrotechnische Terminologie.Organisation/Markt der Elektrizität
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB 18555-2001 Arbeitsplatzgrenzwert für hochfrequente Felder in der Arbeitsumgebung
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 18735-2002 Allgemeine Spezifikation nanometerdünner Standardproben für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie (AEM/EDS)

ZA-SANS, Feldelektronenmikroskop

SANS 1400:1993 Ausrüstung (einschließlich Augengläser) zum Schutz von Augen, Gesicht und Hals vor nichtionisierender Strahlung, die beim Schweißen und ähnlichen Arbeiten entsteht – Schweißhelme, Handschutz, Schutzbrillen und Schweißbrillen
SANS 1632-3:2005 Batterien Teil 3: Prismatische Nickel-Cadmium-Zellen und -Batterien vom belüfteten Typ

工业和信息化部, Feldelektronenmikroskop

JB/T 13803-2020 Technische Bedingungen des Objektivs für die digitale Kinoprojektion

Indonesia Standards, Feldelektronenmikroskop

SNI 04-6950-2003 Hochspannungs- und Höchstspannungsleitungen – Grenzwert für elektrische Felder und elektromagnetische Felder
SNI 04-6267.131.1-2001 Elektrotechnischer Wortschatz – Kapitel 131: Elektrischer und magnetischer Stromkreis – Abschnitt 1: Allgemeines

CEN - European Committee for Standardization, Feldelektronenmikroskop

EN ISO 10685-2:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Feldelektronenmikroskop

IEEE 644-1979 EMPFOHLENE PRAKTIKEN ZUR MESSUNG ELEKTRISCHER UND MAGNETISCHER FELDER VON WECHSELSTROMLEITUNGEN
IEEE P644/D5-2018 Entwurf einer Norm zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE P644/D6-2019 Entwurf einer Norm zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Feldelektronenmikroskop

IEEE Std C95.3.1-2010 Empfohlene Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die Exposition des Menschen gegenüber solchen Feldern, 0 Hz bis 100 kHz
IEEE Std 1460-1996 IEEE-Leitfaden zur Messung quasistatischer magnetischer und elektrischer Felder
IEEE 1460-1996 Leitfaden zur Messung quasistatischer magnetischer und elektrischer Felder
IEEE Std C95.1-2345-2014 Gesundheitsschutz an Militärarbeitsplätzen in Bezug auf die Exposition des Personals gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern von 0 Hz bis 300 GHz
IEEE Std 644-1979 Von der IEEE empfohlene Vorgehensweisen zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE Std 644-1994 IEEE-Standardverfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder im Netzfrequenzbereich von Wechselstromleitungen
ANSI/IEEE Std 644-1987 IEEE-Standardverfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE 644-2019 IEEE-Standardverfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE 644-1987 IEEE-Standardverfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE 644-1994 Messung von elektrischen und magnetischen Feldern im Netzfrequenzbereich von Wechselstromleitungen
IEEE Std 644-2019 IEEE-Standardverfahren zur Messung elektrischer und magnetischer Felder mit Netzfrequenz von Wechselstromleitungen
IEEE PC95.1-2345/D6.9, March 2014 IEEE-Standard für Militärarbeitsplätze – Gesundheitsschutz der Streitkräfte hinsichtlich der Exposition des Personals gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern von 0 Hz bis 300 GHz
IEEE Unapproved Draft Std PC95.3.1/D3.18, Dec 2009 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die menschliche Exposition gegenüber solchen Feldern, 0–100 kHz
IEEE Std C95.3-2021 Empfohlene IEEE-Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die menschliche Exposition gegenüber solchen Feldern, 0 Hz bis 300 GHz
IEEE 1460-1996(R2008) IEEE-Leitfaden zur Messung quasistatischer magnetischer und elektrischer Felder
IEEE Std C95.1-2019 IEEE-Standard für Sicherheitsniveaus in Bezug auf die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern, 0 Hz bis 300 GHz
IEEE PC95.3/D2, October 2020 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die menschliche Exposition gegenüber solchen Feldern, 0 Hz–300 GHz
IEEE PC95.3/D3, December 2020 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Messungen und Berechnungen elektrischer, magnetischer und elektromagnetischer Felder im Hinblick auf die menschliche Exposition gegenüber solchen Feldern, 0 Hz–300 GHz

ES-UNE, Feldelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2016, korrigierte Fassung 2016-05-15)
UNE-EN 50413:2019 Grundlegende Norm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz) (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im Dezember 2019.)

CZ-CSN, Feldelektronenmikroskop

CSN 19 8039-1995 Filmkunst. Aufbewahrungsteil für den Objektivbehälter. Spezifikation
CSN IEC 833:1992 Messung netzfrequenter elektrischer Felder

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Feldelektronenmikroskop

GJB 8975-2017 Anforderungen für die Überwachung atmosphärischer elektrischer Felder an Weltraumstartplätzen

国家能源局, Feldelektronenmikroskop

NB/T 10639-2021 Technische Spezifikationen für die Standortauswahl von Windparkprojekten
SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
NB/T 10831-2021 Technische Bedingungen für große Schmiedeteile von Hydrogenerator-Spiegelplatten

SE-SIS, Feldelektronenmikroskop

SIS SS IEC 833:1989 Messung netzfrequenter elektrischer Felder

IET - Institution of Engineering and Technology, Feldelektronenmikroskop

ELECTRO MEAS NEAR FLD-2012 Elektromagnetische Messungen im Nahfeld

Standard Association of Australia （SAA）, Feldelektronenmikroskop

AS 3720:2008 Messung netzfrequenter elektrischer Felder

Defense Logistics Agency, Feldelektronenmikroskop

DLA MIL-L-3661/26 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, staubdichte Linse (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), Stil LC26
DLA MIL-L-3661/27 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, staubdichte Linse (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), Stil LC27
DLA MIL-L-3661/28 B VALID NOTICE 3-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, (elektromagnetische Interferenztyp) Staublichtlinsen, Stil LC28
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 2-2001 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen (flach) (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), staubdichte Linse, Stil LC25
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen (flach) (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), staubdichte Linse, Stil LC25

Professional Standard-Ships, Feldelektronenmikroskop

CB 1383-2008 Spezifikation für ein U-Boot-Periskop-TV-Gerät mit geringer Lichtstärke

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Feldelektronenmikroskop

IPC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten

GOSTR, Feldelektronenmikroskop

GOST 17175-1982 Objektive für Fotografie, Film, Fernsehen. Reihe numerischer Werte relativer Aperturen

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

GBZ/T 189.3-2018 Messung physikalischer Faktoren am Arbeitsplatz Teil 3: Elektrische und magnetische Felder von 1 Hz bis 100 kHz

PL-PKN, Feldelektronenmikroskop

PN T04880-1972 Elektronische Röhren Oszilloskop- und Radaroskopröhren Methoden der elektrischen und optischen Prüfung

NZ-SNZ, Feldelektronenmikroskop

NZS 6808:2010 Akustik – Windparklärm

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Feldelektronenmikroskop

EN 50413:2008 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz) (Enthält Änderung A1: 2013)
EN 50413:2019 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)
EN 50413:2019/prA1 Grundnorm zu Mess- und Berechnungsverfahren für die Exposition des Menschen gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern (0 Hz – 300 GHz)

Professional Standard - Electricity, Feldelektronenmikroskop

DL/T 988-2005 Methoden zur Messung des elektrischen Feldes und des magnetischen Feldes der Netzfrequenz von Hochspannungsfreileitungen und Umspannwerken

Professional Standard - Petroleum, Feldelektronenmikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Feldelektronenmikroskop

SMPTE 76-1996 Filmkameras – Objektivanschlüsse mit 16- und 8-mm-Gewinde
SMPTE ST 76-1996 Filmkameras – Objektivanschlüsse mit 16- und 8-mm-Gewinde

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Feldelektronenmikroskop

JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB61/T 1207-2018 Inspektionsspezifikation für im Einsatz befindliche medizinische elektronische Endoskopsysteme