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Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

Für die Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie gibt es insgesamt 9 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Längen- und Winkelmessungen.

International Organization for Standardization (ISO), Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

GB/T 21006-2007 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearität der Intensitätsskala

British Standards Institution (BSI), Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

BS ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearität der Intensitätsskala
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…

未注明发布机构, Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Röntgenphotoelektrische Spektroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie

GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen