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RUxps und
Für die xps und gibt es insgesamt 10 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst xps und die folgenden Kategorien: analytische Chemie.
British Standards Institution (BSI), xps und
- BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
- BS ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
- BS ISO 16531:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
- 19/30399949 DC BS ISO 16531. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
Association Francaise de Normalisation, xps und
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
- NF ISO 16243:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Datenprotokollierung und Berichterstattung durch Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
International Organization for Standardization (ISO), xps und
- ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
- ISO 16531:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, xps und
- GB/T 34326-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
RU-GOST R, xps und
- GOST R ISO 16243-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Oberflächenchemische Analyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)