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Rasterkraftmikroskop an der Probe

Für die Rasterkraftmikroskop an der Probe gibt es insgesamt 52 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterkraftmikroskop an der Probe die folgenden Kategorien: Physik Chemie, analytische Chemie, Längen- und Winkelmessungen, Optik und optische Messungen, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Kernenergietechnik, Keramik, Luftqualität, Mikrobiologie, Gefahrgutschutz.


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • GB/T 32262-2015 Vorbereitung einer Desoxyribonukleinsäureprobe für die Rasterkraftmikroskopmessung
  • GB/T 33839-2017 Methoden des Transmissionselektronenmikroskops für biologische Proben, die Kohlenstoffnanomaterialien mit biologischer Wirkung enthalten

International Organization for Standardization (ISO), Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
  • ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

British Standards Institution (BSI), Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
  • BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
  • 23/30461942 DC BS ISO 19606. Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
  • ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
  • ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
  • ASTM D5756-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
  • ASTM D5756-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
  • ASTM D5755-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
  • ASTM D5755-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
  • ASTM D5756-02(2008) Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassen-Oberflächenbeladung
  • ASTM D5755-03 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
  • ASTM D5755-09 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
  • ASTM D5755-09(2014)e1 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
  • ASTM D7391-09 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
  • ASTM D7391-17 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
  • ASTM D7391-20 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
  • ASTM D7391-17e1 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
  • ASTM D6480-05(2010) Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
  • ASTM D6480-99 Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
  • ASTM D6480-05 Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • GB/T 28872-2012 Testmethode eines magnetischen Rasterkraftmikroskops mit leichtem Schlagmodus für die Nanotopographie lebender Zellen
  • GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte
  • GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
  • GB/T 32189-2015 Rasterkraftmikroskopische Untersuchung der Oberflächenrauheit von Galliumnitrid-Einkristallsubstraten

Group Standards of the People's Republic of China, Rasterkraftmikroskop an der Probe

German Institute for Standardization, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)

Professional Standard - Nuclear Industry, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • SPB-M2-1-2007 Mittels Rasterkraftmikroskopie untersuchte Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen.
  • SPB-M6-1-2010 08.04.: Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen mittels AFM untersucht
  • SPB-M14-1-2010 10. September: Wechselwirkungen und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen, untersucht durch Rasterkraftmikroskopie
  • SPB-M6-2-2010 08. Apr.: Kolloidale Wechselwirkungen zwischen Asphalten und verschiedenen Oberflächen, gemessen durch Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • JIS R 1683:2007 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
  • JIS R 1683:2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
  • JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

RU-GOST R, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
  • GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven Höhe der Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop

NL-NEN, Rasterkraftmikroskop an der Probe

  • NVN 5770-1993 Boden und Schlamm. Probenvorbereitung von Boden und Schlamm zur Bestimmung von Elementen mittels Atomspektrometrie. Zerstörung mit Salpetersäure und Salzsäure im Mikrowellenherd




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