Mikrokavitätsfrequenz

Für die Mikrokavitätsfrequenz gibt es insgesamt 246 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikrokavitätsfrequenz die folgenden Kategorien: Drahtlose Kommunikation, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Ventil, magnetische Materialien, Diskrete Halbleitergeräte, Komponenten elektrischer Geräte, Elektronische Komponenten und Komponenten, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Keramik, Isoliermaterialien, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Luft- und Raumfahrtmotoren und Antriebssysteme, Leitermaterial, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Prüfung von Metallmaterialien, Astronomie, Geodäsie, Geographie, Strahlungsmessung, Elektrische und elektronische Prüfung, Elektronenröhre, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Telekommunikationssystem.

IET - Institution of Engineering and Technology, Mikrokavitätsfrequenz

FERR MICROW FREQ-1987 Ferrite bei Mikrowellenfrequenzen
RDO FREQ MICROW PWR MEAS-1990 Hochfrequenz- und Mikrowellenleistungsmessung
LOW-PWR HF MICROELEC-1996 HF-Mikroelektronik mit geringem Stromverbrauch: ein einheitlicher Ansatz

Professional Standard - Electron, Mikrokavitätsfrequenz

SJ 21076-2016 Messmethoden für Mikrowellenfrequenzsynthesizer
SJ 20585-1996 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellenfrequenzzähler
SJ 20619-1997 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellenfrequenzsynthesizer
SJ 20270-1993 Verifizierungsvorschriften für den vollständigen Festkörper-Mikrowellendurchlauf des Modells YH1301

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Mikrokavitätsfrequenz

GJB 7052-2010 Methoden zur Messung der Frequenz- und Spektrumseigenschaften von kurzen Hochleistungs-Mikrowellenimpulsen

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

JJG 2009-2016 HF- und Mikrowellenleistungsmessgeräte
JJG 841-1993 Überprüfungsregulierung von Mikrowellenfrequenzzählern
JJG 841-2012 Überprüfungsregulierung von Mikrowellenfrequenzzählern
JJG 2009-1987 Verifizierungsschema für HF- und Mikrowellenleistungsmessgeräte

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Mikrokavitätsfrequenz

GB/T 35002-2018 Mikrowellenschaltungen – Messmethoden für Frequenzquellen
GB/T 22586-2018 Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

Defense Logistics Agency, Mikrokavitätsfrequenz

DLA SMD-5962-93222 REV C-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, KONVERTER, SPANNUNG-ZU-FREQUENZ, FREQUENZ-ZU-SPANNUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94562-1994 MIKROSCHALTER, LINEAR, HOCHFREQUENZ-VIDEOSCHALTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-98550 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, PLL-FREQUENZSYNTHESIZER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/11606 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, PLL-FREQUENZSYNTHESIZER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90987 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, FREQUENZREGLER, PHASENVERRIEGELT, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87607 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGS-FREQUENZ-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89564 REV A-1992 MIKROSCHALTUNGEN, LINEAR, LOW-LEISTUNGS-FM-ZF-SYSTEM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93222 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, KONVERTER, SPANNUNG-ZU-FREQUENZ, FREQUENZ-ZU-SPANNUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/11607 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, PHASENDETEKTOR/FREQUENZSYNTHESIZER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92339 REV E-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, VIERFACH, LOW POWER, VIDEOPUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90987-1992 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, FREQUENZREGLER, PHASENVERRIEGELT, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-97641 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, ULTRAHOCHFREQUENZ, VOLLSTÄNDIG NPN-TRANSISTOR-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94694 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, BREITBAND, HOHE SLEW-RATE, VIDEO-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-DWG-13016-2013 DÄMPFER, FEST, MINIATUR, KOAXIALLEITUNG (SMA-ANSCHLÜSSE), FREQUENZBEREICH: DC BIS 18 GHz, KLASSE IV, NIEDRIGE LEISTUNG
DLA SMD-5962-87787 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, OPERATIONSVERSTÄRKER, BREITBAND, HOHE SLEW-RATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94694 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, BREITBAND, HOHE SLEW-RATE, VIDEO-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94719 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL, BREITBAND, VIDEO-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96508-1995 MIKROSCHALTUNG, LINEARES FM-ZF-SYSTEM MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-99536 REV E-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, HOCHFREQUENZ-HALBBRÜCKENTREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94603-1994 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, HOHER AUSGANGSSTROM, HOCHFREQUENZSTROM-FEEDBACK-VERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94641-1994 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 4-BIT-DATENBUS-EINGANG, PLL-FREQUENZSYNTHESIZER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94725 REV C-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, BREITBAND, STROMFEEDBACK, DOPPEL-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, BREITBAND, HOHE IMPEDENZ, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 Mikroschaltung, linear, strahlungsgehärtet, breitbandig, hohe Eingangsimpedanz, Operationsverstärker, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-97512 REV D-2005 MIKROKREISLAUF, LINEAR, STRAHLUNGSGEHÄRTEN, DOPPELBREITBAND, UNKOMPENSIERTER OPERATIONSVERSTÄRKER MIT HOHER EINGANGSSIMPEDANZ, MONOLITHISCHES SILIZIUM

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

JJF 1885-2020 Kalibrierungsspezifikation für HF- und Mikrowellen-Leistungsmessgeräte
JJF 1887-2020 Kalibrierungsspezifikation für HF- und Mikrowellen-Leistungssensoren
JJF 1678-2017 Kalibrierungsspezifikation für HF- und Mikrowellen-Leistungsverstärker

British Standards Institution (BSI), Mikrokavitätsfrequenz

BS IEC 60747-16-2:2001 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Frequenzvorteiler
BS EN 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
BS EN 60556:2006+A1:2016 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen. Messmethoden für Eigenschaften
BS EN 61788-7:2002 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-7:2007 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Elektronische Kennlinienmessungen. Oberflächenwiderstand von Hochtemperatursupraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-16:2013 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-15:2011 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 136001:1977 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten – Vordruck für Bauartspezifikation: gepulste Magnetrons (ausgenommen frequenzagile Magnetrons)
BS EN 62037-1:2012 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Allgemeine Anforderungen und Messmethoden
BS EN 62037-5:2013 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Messung der passiven Intermodulation in Filtern
BS EN 62037-6:2013 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Messung der passiven Intermodulation in Antennen
18/30370111 DC BS EN 61788-7. Supraleitung. Teil 7. Elektronische Kennlinienmessungen. Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
BS EN 62037-4:2012 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Messung der passiven Intermodulation in Koaxialkabeln
BS EN 62037-2:2013 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Messung der passiven Intermodulation in Koaxialkabelkonfektionen
BS EN 62037-3:2012 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels. Messung der passiven Intermodulation in Koaxialsteckverbindern

未注明发布机构, Mikrokavitätsfrequenz

DIN EN 61189-2-721 E:2013-11 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und -baugruppen – Teil 2-721: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen – Messung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors für kupferkaschierte Laminate
BS EN 61788-15:2011(2012) Supraleitung Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
DIN EN 61338-1-5 E:2013-08 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz

RU-GOST R, Mikrokavitätsfrequenz

GOST 23089.13-1986 Integrierte Mikroschaltungen. Messmethoden für die Grenzfrequenz und die Einheitsverstärkungsfrequenz von Operationsverstärkern
GOST 23089.15-1990 Integrierte Mikroschaltungen. Verfahren zur Messung der vollen Leistungsfrequenz von Operationsverstärkern
GOST R 25645.163-1996 Eigenschaften von Radiogeräuschen in der Erdmagnetosphäre im Frequenzintervall 0,1-50 MHz
GOST R 8.623-2006 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Relative dielektrische Permittivität und Verlustfaktor fester Dielektrika. Verfahren zur Messung bei Mikrowellenfrequenzen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mikrokavitätsfrequenz

KS C 6111-5-2008(2018) Messungen der Dicke supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
KS C 6111-4-2007(2017) Homogenität des Oberflächenwiderstands großer Supraleiterfilme mit hohem Tc bei Mikrowellenfrequenzen
KS C 6111-4-2007(2022) Homogenität des Oberflächenwiderstands großer Supraleiterfilme mit hohem Tc bei Mikrowellenfrequenzen
KS C 6111-3-2007(2022) Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen
KS C 6111-3-2007(2017) Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen
KS C IEC 61788-16:2020 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
KS C CISPR 19-2004(2009) Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Anleitung zur Verwendung der Substitutionsmethode zur Messung der Strahlung von Mikrowellenherden für Frequenzen über 1 GHz
KS C IEC 60130-6-2003(2008) Steckverbinder für Frequenzen unter 3 MHz (Mc/s) – Teil 6: Rechteckige mehrpolige Miniatursteckverbinder mit Messerkontakten
KS C IEC 60122-2-1-2011(2021) Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für Mikroprozessoruhren
KS C IEC 60122-2-1-2011(2016) Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für Mikroprozessoruhren
KS C IEC 61338-1-5:2019 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellen

KR-KS, Mikrokavitätsfrequenz

KS C 6111-5-2008(2023) Messungen der Dicke supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
KS C IEC 61788-16-2020 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
KS C IEC 61338-1-5-2019 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellen

Professional Standard - Agriculture, Mikrokavitätsfrequenz

JJF 2009-2016 Kalibriersystemtabelle für Hochfrequenz- und Mikrowellenleistungsmessgeräte

International Electrotechnical Commission (IEC), Mikrokavitätsfrequenz

IEC 60747-16-2:2001+AMD1:2007 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvorteiler
IEC 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
IEC 60556:1982 Messmethoden für Eigenschaften gyromagnetischer Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 60556:2006+AMD1:2016 CSV Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
IEC 60556:2006/AMD1:2016 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
IEC 60747-16-3:2010 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
IEC 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen; Frequenzumrichter
IEC 60556/AMD1:1997 Messverfahren für Eigenschaften gyromagnetischer Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen; Änderung 1
IEC 60747-16-2:2001 Halbleiterbauelemente - Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen; Frequenzvorteiler
IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 Halbleiterbauelemente - Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Frequenzvorteiler; Änderung 1
IEC 60747-16-2:2008 Halbleiterbauelemente – Teil 16-2: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzvorteiler
IEC 61788-7:2002 Supraleitung - Teil 7: Elektronische Kennlinienmessungen; Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 60747-16-3:2002/AMD1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler; Änderung 1
IEC 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 61788-7:2020 RLV Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 61788-15:2011 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
IEC 60122-2-1:1991 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristallgeräten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Abschnitt 1: Quarzkristalleinheiten zur Mikroprozessor-Taktversorgung
IEC 62037-1:2012 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels – Teil 1: Allgemeine Anforderungen und Messmethoden
IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt Eins: Quarzkristalleinheiten für mi
IEC 62037-6:2013 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels – Teil 6: Messung der passiven Intermodulation in Antennen
IEC 62037-5:2013 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels – Teil 5: Messung der passiven Intermodulation in Filtern
IEC 62047-7:2011 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 7: MEMS-BAW-Filter und Duplexer zur Hochfrequenzsteuerung und -auswahl
IEC 62037-4:2012 Passive HF- und Mikrowellengeräte, Messung des Intermodulationspegels – Teil 4: Messung der passiven Intermodulation in Koaxialkabeln
IEC 61338-1-5:2015 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellen

US-FCR, Mikrokavitätsfrequenz

FCR 21 CFR PART 1030-2015 LEISTUNGSSTANDARDS FÜR MIKROWELLEN- UND HOCHFREQUENZSTRAHLENDE PRODUKTE
FCR 21 CFR PART 1030-2013 LEISTUNGSSTANDARDS FÜR MIKROWELLEN- UND HOCHFREQUENZSTRAHLENDE PRODUKTE
FCR 21 CFR PART 1030-2014 LEISTUNGSSTANDARDS FÜR MIKROWELLEN- UND HOCHFREQUENZSTRAHLENDE PRODUKTE

Association Francaise de Normalisation, Mikrokavitätsfrequenz

NF C93-376/A1*NF EN 60556/A1:2016 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
NF C93-376*NF EN 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
NF C96-016-3/A1*NF EN 60747-16-3/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF EN 60747-16-3:2003 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Messungen der elektrischen Eigenschaften – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
NF C31-888-7:2003 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen.
NF Z86-157*NF ETS 300157:1996 Satelliten-Bodenstationen und -Systeme (SES). Nur Empfangsterminal mit sehr kleiner Apertur (vsats), das in den 11/12-GHz-Frequenzbändern arbeitet.
NF C31-888-15*NF EN 61788-15:2012 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Eigene Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
NF EN 61788-15:2012 Supraleitung – Teil 15: Messungen elektronischer Eigenschaften – Eigene Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
NF EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Messungen elektronischer Eigenschaften – Oberflächenwiderstand von Supraleitern mit hoher kritischer Temperatur bei Mikrowellenfrequenzen
NF C96-627-1-5*NF EN 61338-1-5:2015 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

GB/T 9633-2012 Messmethoden für Eigenschaften gyromagnetischer Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen
GB/T 14618-2012 Kriterien für die Frequenzteilung zwischen Richtfunkkommunikationssystemen und Weltraumfunkkommunikationssystemen
GB/T 14618-1993 Kriterien für die Frequenzteilung zwischen Richtfunksystemen und Weltraumfunkkommunikationssystemen

German Institute for Standardization, Mikrokavitätsfrequenz

DIN EN 60556:2017-02 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Messverfahren für Eigenschaften (IEC 60556:2006 + A1:2016); Deutsche Fassung EN 60556:2006 + A1:2016 / Hinweis: DIN EN 60556 (2007-01) bleibt neben dieser Norm bis zum 20.
DIN EN 61189-2-721:2016 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und -baugruppen – Teil 2-721: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen – Messung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors für kupferkaschierte Laminate
DIN EN 60556:2007 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen - Messverfahren für Eigenschaften (IEC 60556:2006); Deutsche Fassung EN 60556:2006
DIN EN 60747-16-3:2018-04 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017 / Hinweis: DIN EN 60747-16-3 (2009-11) bleibt neben dieser Fassung weiterhin gültig...
DIN EN 61788-7:2007 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-7:2006); Deutsche Fassung EN 61788-7:2006
DIN EN 61788-16:2013 Supraleitung - Teil 16: Elektronische Kennlinienmessungen - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013
DIN EN 60556:2017 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Messverfahren für Eigenschaften (IEC 60556:2006 + A1:2016); Deutsche Fassung EN 60556:2006 + A1:2016
DIN EN 61338-1-5:2016-04 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz (IEC 61338-1-5:2015); Deutsche Version EN 6...

ES-UNE, Mikrokavitätsfrequenz

UNE-EN 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
UNE-EN 60556:2006/A1:2016 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Messmethoden für Eigenschaften (Genehmigt von AENOR im Juli 2016.)
UNE-EN 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler. (Von AENOR im Dezember 2002 gebilligt.)
UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Genehmigt von AENOR im Juli 2009.)
UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2018.)
UNE-EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von AENOR im Mai 2013.)
UNE-EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Juni 2020.)
UNE-EN 61788-15:2011 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von AENOR im März 2012.)
UNE-EN 61338-1-5:2015 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Testbedingungen – Messverfahren der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz (Genehmigt von AENOR im Oktober 2015.)

IN-BIS, Mikrokavitätsfrequenz

IS 13621-1993 Bestimmung der Dielektrizitätskonstante von Holz unter Mikrowellenfrequenzen. Testmethode
IS 8454-1977 Richtlinien für die Erstellung von Leistungsspezifikationen für gyromagnetische Materialien zur Verwendung bei Mikrowellenfrequenzen
IS 8426 Pt.1-1977 Methoden zur Messung der Eigenschaften gyromagnetischer Materialien, die bei Mikrowellenfrequenzen verwendet werden, Teil I Magnetisierung
IS 13671-1993 Anleitung zur Verwendung der Substitutionsmethode kfür Messungen der Strahlung von Mikrowellenöfen für Frequenzen über 1 GHz
IS 8426 Pt.2-1977 Methoden zur Messung der Eigenschaften gyromagnetischer Materialien, die bei Mikrowellenfrequenzen verwendet werden, Teil 2 Resonanzlinienbreite
IS 8426 Pt.3-1977 Methoden zur Messung der Eigenschaften gyromagnetischer Materialien, die bei Mikrowellenfrequenzen verwendet werden. Teil III Dielektrizitätskonstante, scheinbare Dichte und Curie-Temperatur

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Mikrokavitätsfrequenz

JIS R 1627:1996 Prüfverfahren für dielektrische Eigenschaften von Feinkeramik bei Mikrowellenfrequenz
JIS R 1641:2002 Prüfverfahren für die dielektrischen Eigenschaften feiner Keramikplatten bei Mikrowellenfrequenz
JIS R 1641:2007 Messverfahren für die Dielektrizität feiner Keramikplatten bei Mikrowellenfrequenz
JIS R 1660-2:2004 Messmethode für dielektrische Eigenschaften von Feinkeramik im Millimeterwellen-Frequenzbereich – Teil 2: Offene Resonatormethode
JIS H 7307:2005 Supraleitung – Teil 7: Messungen der elektrischen Eigenschaften – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
JIS H 7307:2010 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

American National Standards Institute （ANSI), Mikrokavitätsfrequenz

ANSI/ASTM D5568:2008 Testverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ANSI/ASTM A893:1997 Prüfverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ANSI/ASTM D7449:2008 Testverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe einer koaxialen Übertragungsleitung
ANSI/ASTM D2520:2013 Neue Standardtestmethoden für die Dielektrizitätskonstante der komplexen Permittivität fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen von 1650 °C

United States Navy, Mikrokavitätsfrequenz

NAVY MIL-A-17161 D-1985 ABSORBER, HOCHFREQUENZSTRAHLUNG (MIKROWELLENABSORBIERENDES MATERIAL), ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Mikrokavitätsfrequenz

ECA TEP 171-1972 Messung und Warnung vor Hochfrequenzlecks aus Mikrowellenröhren, empfohlene Vorgehensweise für

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), Mikrokavitätsfrequenz

ETSI TR 103730 V 1.1.1-2021 Systemreferenzdokument (SRdoc) – Niederfrequenz-Mikrowellen-Sicherheitsscanner (MWSSc) im Frequenzbereich von 3,6 GHz bis 12,4 GHz
ETSI TR 103 730-2021 Systemreferenzdokument (SRdoc); Niederfrequenz-Mikrowellen-Sicherheitsscanner (MWSSc) im Frequenzbereich von 3,6 GHz bis 12,4 GHz (V1.1.1)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Mikrokavitätsfrequenz

ASTM D5568-01 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM D5568-95 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM D5568-22a Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines Wellenleiters
ASTM D5568-08 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM D5568-14 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines Wellenleiters
ASTM A893/A893M-03 Standardtestverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM A893/A893M-03(2022) Standardtestverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM D7449/D7449M-14 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer koaxialen Luftleitung
ASTM A893-97 Standardtestverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM A893/A893M-03(2008) Standardtestverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM A893/A893M-03(2015) Standardtestverfahren für die komplexe Dielektrizitätskonstante nichtmetallischer magnetischer Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
ASTM D5568-22 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines Wellenleiters
ASTM D2520-13 Standardtestmethoden für die komplexe Permittivität (Dielektrizitätskonstante) fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen bis 1650 °C
ASTM D7449/D7449M-22 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer koaxialen Luftleitung
ASTM D7449/D7449M-22a Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer koaxialen Luftleitung
ASTM D2520-95 Standardtestmethoden für die komplexe Permittivität (Dielektrizitätskonstante) fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen bis 1650 °C
ASTM D2520-01 Standardtestmethoden für die komplexe Permittivität (Dielektrizitätskonstante) fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen bis 1650 °C
ASTM D7449/D7449M-08e1 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer koaxialen Luftleitung
ASTM D7449/D7449M-08 Standardtestverfahren zur Messung der relativen komplexen Permittivität und der relativen magnetischen Permeabilität fester Materialien bei Mikrowellenfrequenzen unter Verwendung einer koaxialen Luftleitung
ASTM D2520-21 Standardtestmethoden für die komplexe Permittivität (Dielektrizitätskonstante) fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen bis 1650 °C

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Mikrokavitätsfrequenz

EN 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Methoden zur Messung der Eigenschaften
EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Kennlinienmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
EN 61788-7:2006 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
EN 61338-1-5:2015 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz

Danish Standards Foundation, Mikrokavitätsfrequenz

DS/EN 60556:2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Messmethoden für Eigenschaften
DS/EN 60747-16-3/A1:2009 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
DS/EN 60747-16-3:2002 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler
DS/EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Kennlinienmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
DS/EN 61788-7:2007 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
DS/EN 61788-15:2012 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen
DS/IEC 122-2-1:1993 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

DB50/T 719-2016 433-MHz-Frequenzband-Micro-Power-Wireless-Communication-Equipment-Physical-Layer-Leistungstestspezifikation

Professional Standard - Post and Telecommunication, Mikrokavitätsfrequenz

YD/T 4179-2023 30 MHz ~ 1 GHz Micro-Power-Kurzstrecken-Funkübertragungsausrüstung Hochfrequenztestmethode
YD/T 4178-2023 9 kHz ~ 30 MHz Micro-Power-Kurzstrecken-Funkübertragungsausrüstung Hochfrequenztestmethode
YD/T 4180-2023 1 GHz ~ 40 GHz Mikroleistungs-HF-Testmethode für Kurzstrecken-Funkübertragungsgeräte

Lithuanian Standards Office , Mikrokavitätsfrequenz

LST EN 60556-2006 Gyromagnetische Materialien zur Anwendung bei Mikrowellenfrequenzen – Messverfahren für Eigenschaften (IEC 60556:2006)
LST EN 61788-7-2007 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-7:2006)
LST EN 61788-15-2012 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Eigene Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-15:2011)

NZ-SNZ, Mikrokavitätsfrequenz

AS/NZS 4052:1992 Leitfaden zur Verwendung der Substitutionsmethode für Messungen der Strahlung von Mikrowellenöfen für Frequenzen über 1 GHz

ZA-SANS, Mikrokavitätsfrequenz

SANS 219:2005 Anleitung zur Verwendung der Substitutionsmethode für Messungen der Strahlung von Mikrowellenöfen für Frequenzen über 1 GHz

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

CNS 7634-1981 Methode zum Testen der komplexen Dielektrizitätskonstante von noumetallischen magnetischen Materialien bei Mikrowellenfrequenzen
CNS 12711-1990 Pinbelegung für Mikroprozessorsysteme, die den Steckverbinder für Frequenzen unter 3 MHz zur Verwendung mit Leiterplatten verwenden

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Mikrokavitätsfrequenz

IEEE C95.3-1973 TECHNIKEN UND INSTRUMENTE ZUR MESSUNG POTENZIELL GEFÄHRLICHER ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG BEI MIKROWELLENFREQUENZEN (R 1979)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Mikrokavitätsfrequenz

IEEE 287.2-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
IEEE Std 287.2-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
IEEE P287.2/D8, May 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
IEEE P287.2/D10, August 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
ANSI Std C95.3-1973 Amerikanische nationale Standardtechniken und -instrumente zur Messung potenziell gefährlicher elektromagnetischer Strahlung bei Mikrowellenfrequenzen
IEEE/ANSI C95.3-1973 Amerikanische nationale Standardtechniken und -instrumente zur Messung potenziell gefährlicher elektromagnetischer Strahlung bei Mikrowellenfrequenzen
IEEE 287.1-2021 IEEE-Standard für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen, Definitionen und detaillierte Spezifikationen
IEEE Std 287.1-2021 IEEE-Standard für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen, Definitionen und detaillierte Spezifikationen
IEEE P287.1/D11, October 2021 IEEE-Standardentwurf für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen, Definitionen und detaillierte Spezifikationen
IEEE P287.1/D8, May 2021 IEEE Draft Standard für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Teil 1: Allgemeine Anforderungen, Definitionen und detaillierte Spezifikationen
IEEE P287.1/D10, August 2021 IEEE-Standardentwurf für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen, Definitionen und detaillierte Spezifikationen
IEEE 287.3-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 3: Steckverbindereffekte, Unsicherheitsspezifikationen und Empfehlungen für die Leistung
IEEE Std 287.3-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 3: Steckverbindereffekte, Unsicherheitsspezifikationen und Empfehlungen für die Leistung
IEEE P287.3/D8, May 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 3: Steckverbindereffekte, Unsicherheitsspezifikationen und Empfehlungen für die Leistung
IEEE P287.3/D10, August 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 3: Steckverbindereffekte, Unsicherheitsspezifikationen und Empfehlungen für die Leistung

VN-TCVN, Mikrokavitätsfrequenz

TCVN 7187-2002 Anleitung zur Verwendung der Substitutionsmethode für Messungen der Strahlung von Mikrowellenöfen für Frequenzen über 1 GHz

AT-ON, Mikrokavitätsfrequenz

ONORM S 1120-1992 Mikrowellen- und hochfrequente elektromagnetische Felder – Zulässige Expositionsgrenzwerte zum Schutz von Personen im Frequenzbereich 30 kHz bis 3000 GHz, Messungen
ONORM S 1120/AC1-1998 Mikrowellen- und hochfrequente elektromagnetische Felder – Zulässige Expositionsgrenzwerte zum Schutz von Personen im Frequenzbereich 30 kHz bis 3000 GHz, Messungen (Berichtigung)

Group Standards of the People's Republic of China, Mikrokavitätsfrequenz

T/RAC 013-2018 HF-Testmethoden für Geräte mit kurzer Reichweite (SRD) – Teil 1: 9 kHz bis 30 MHz
T/RAC 015-2018 HF-Testmethoden für Geräte mit kurzer Reichweite (SRD) – Teil 3: 1 GHz bis 40 GHz
T/RAC 014-2018 HF-Testmethoden für Geräte mit kurzer Reichweite (SRD) – Teil 2: Frequenzbereich 30 MHz–1 GHz

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Mikrokavitätsfrequenz

EN 61788-7:2002 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
EN 61788-15:2011 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz supraleitender Filme bei Mikrowellenfrequenzen

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Mikrokavitätsfrequenz

ITU-R P.452-9-1999 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-7-1995 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R PN.452-5-1992 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-8-1997 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-10-2001 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-13-2007 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-11-2003 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz (Frage ITU-R 208/3)

IX-CISPR, Mikrokavitätsfrequenz

CISPR 19-1983 Anleitung zur Verwendung der Substitutionsmethode für Messungen der Strahlung von Mikrowellenöfen für Frequenzen über 1 GHz

IEC - International Electrotechnical Commission, Mikrokavitätsfrequenz

IEC 60747-16-3:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-3: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Frequenzwandler (Ausgabe 1.2; Konsolidierter Nachdruck)
PAS 61338-1-5-2010 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Substrat bei Mikrowellenfrequenz (Ausgabe 1.0)

API - American Petroleum Institute, Mikrokavitätsfrequenz

API PUBL 32-32855-1985 BEWERTUNG DER MIKRONUKLEI-HÄUFIGKEIT IM PERIPHEREN BLUT MÄNNLICHER UND WEIBLICHER CD-1-MÄUSE, DIE 90 TAGE CHEMISCH BENZOL AUSGESETZT WURDEN

International Telecommunication Union (ITU), Mikrokavitätsfrequenz

ITU-R PN.452-6-1994 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz
ITU-R P.452-12-2005 Vorhersageverfahren zur Bewertung von Mikrowelleninterferenzen zwischen Stationen auf der Erdoberfläche bei Frequenzen über etwa 0,7 GHz. Frage ITU-R 208/3

PL-PKN, Mikrokavitätsfrequenz

PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-7:2020)