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y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X. son: Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Componentes electrónicos en general., Química analítica.

American Society for Testing and Materials (ASTM), y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X

Professional Standard - Electron, y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

未注明发布机构, y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h

International Organization for Standardization (ISO), y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO/TR 19319:2003
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

British Standards Institution (BSI), y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X.

BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.