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Espectro electrónico

Espectro electrónico, Total: 90 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectro electrónico son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipo medico, Tratamiento superficial y revestimiento., Corrosión de metales, Componentes electrónicos en general..

International Organization for Standardization (ISO), Espectro electrónico

ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18118:2015
ISO/TR 18392:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Procedimientos para la determinación de fondos
ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 24236:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas
ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

Association Francaise de Normalisation, Espectro electrónico

NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de escala de intensidad.
NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

British Standards Institution (BSI), Espectro electrónico

BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS PD ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 24236:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
BS ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectro electrónico

ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-97 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger
ASTM E827-08 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E1127-03 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
ASTM E1016-07(2020) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E902-05 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2735-14 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X 40;XPS41; experimentos
ASTM E2735-13 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
ASTM E827-07 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E983-94(1999) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-10(2018) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-05 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-19 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E827-95 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E827-02 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectro electrónico

KS D ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D 1852-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D 2518-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.

Standard Association of Australia （SAA）, Espectro electrónico

AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
AS ISO 19318:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
AS ISO 24237:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
AS ISO 19319:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia electrónica Augur y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vista por el analizador
AS ISO 18118:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectro electrónico

JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS T 0306:2002 Análisis de estado de películas pasivas formadas sobre biomateriales metálicos mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectro electrónico

GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

German Institute for Standardization, Espectro electrónico

DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles

Professional Standard - Electron, Espectro electrónico

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectro electrónico

GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.

未注明发布机构, Espectro electrónico

BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.