Electrónica espectral

Electrónica espectral, Total: 94 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Electrónica espectral son: Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Química analítica, Metales no ferrosos, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Medidas lineales y angulares., Componentes electrónicos en general., Protección del medio ambiente, ingenieria electrica en general, Metales ferrosos.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Electrónica espectral

ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E1523-03 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-09 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2994-21 Método de prueba estándar para el análisis de titanio y aleaciones de titanio mediante espectrometría de emisión atómica por chispa y espectrometría de emisión atómica de descarga luminiscente (método basado en el rendimiento)
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-97 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger
ASTM E827-08 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-15
ASTM E2994-16 Método de prueba estándar para el análisis de titanio y aleaciones de titanio mediante espectrometría de emisión atómica por chispa y espectrometría de emisión atómica de descarga luminiscente (método basado en el rendimiento)
ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E983-94(1999) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-10(2018) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-05 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E983-19 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
ASTM E1127-03 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
ASTM E1016-07(2020) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Electrónica espectral

GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Electrónica espectral

ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18118:2015
ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS
ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/TR 19319:2003
ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo.
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.

Association Francaise de Normalisation, Electrónica espectral

NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
NF C05-100-5*NF EN 62321-5:2014 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos - Parte 5: cadmio, plomo y cromo en polímeros y electrónica y cadmio y plomo en metales mediante AAS, AFS, ICP-OES e ICP-MS

British Standards Institution (BSI), Electrónica espectral

BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS EN 62321-5:2014 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos. Cadmio, plomo y cromo en polímeros y electrónica y cadmio y plomo en metales por AAS, AFS, ICP-OES e ICP-MS
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

German Institute for Standardization, Electrónica espectral

DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles

未注明发布机构, Electrónica espectral

DIN ISO 16129 E:2020-01 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X

Illuminating Engineering Society of North America, Electrónica espectral

IESNA TM-27-2014 Formato estándar IES para la transferencia electrónica de datos espectrales

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Electrónica espectral

GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 31472-2015
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
GB/T 28893-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X Métodos para determinar las intensidades de los picos e información necesaria para informar los resultados
GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Electrónica espectral

KS D 2518-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
KS D ISO 21270-2020 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 19318-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
KS D ISO 19318-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 19319-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
KS D ISO 18118-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Electrónica espectral

JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Electrónica espectral

YS/T 536.4-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de plata. Método espectrofotométrico de absorción atómica con llama y método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.

Professional Standard - Electron, Electrónica espectral

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

Standard Association of Australia （SAA）, Electrónica espectral

AS ISO 19318:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Electrónica espectral

GJB/Z 40.6-1993 Dispositivos optoelectrónicos de vacío de espectro de serie de dispositivos electrónicos de vacío militares

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Electrónica espectral

GB/T 34209-2017 Acero inoxidable—Determinación del contenido de múltiples elementos—Espectrometría de emisión óptica de descarga incandescente