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Análisis de elementos de superficie.

Análisis de elementos de superficie., Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de elementos de superficie. son: Química analítica, Metales ferrosos, Ingeniería vial, Petróleo crudo, carbones, Fibras textiles, Educación, Combustibles, Vocabularios, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Materiales de construcción, Productos de la industria textil., Calidad, Metales no ferrosos, Símbolos gráficos, Calidad del agua, Pulpas, pruebas de metales, ingeniería de energía nuclear, Acústica y mediciones acústicas., Corrosión de metales, Materiales conductores, Aplicaciones de la tecnología de la información., Equipos para la industria química., Componentes para equipos eléctricos., Componentes electrónicos en general., Agricultura y silvicultura, Carne, productos cárnicos y otros productos animales., Materiales para el refuerzo de composites., Cerámica, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Sistemas y operaciones espaciales., Calidad del suelo. Pedología, Productos de la industria química., Protección del medio ambiente, Medidas lineales y angulares., ingeniería de energía solar, Circuitos integrados. Microelectrónica, Sistemas de automatización industrial, Fluidos aislantes, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Protección de y en edificios, Materiales para la construcción aeroespacial., Residuos, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Documentación técnica del producto, Alimentos para animales, Geología. Meteorología. Hidrología, Organización y gestión de la empresa., Minerales no metalíferos, Minerales metalíferos, Juegos de caracteres y codificación de información., Productos petrolíferos en general, Óptica y medidas ópticas., Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Tecnología de vacío.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de elementos de superficie.

  • KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS E 3098-2004 Método para la determinación de tierras raras en minerales.
  • KS D 2042-1997(2003) MÉTODOS PARA LA DETERMINACIÓN DE TIERRAS RARAS EN ALEACIONES DE MAGNESIO
  • KS D ISO 18115:2006 Análisis químico de superficies-Vocabulario
  • KS D ISO 18115-2006(2021) Análisis químico de superficies-Vocabulario
  • KS D ISO 18115-2006(2016) Análisis químico de superficies-Vocabulario
  • KS B 0545-2021 Métodos de análisis químico de elementos en humos de soldadura.
  • KS B 0545-2016 Métodos de análisis químico de elementos en humos de soldadura.
  • KS D ISO 14975:2011 Análisis químico de superficies-Formatos de información
  • KS D ISO 14975-2011(2016) Análisis químico de superficies-Formatos de información
  • KS D ISO 14975-2011(2021) Análisis químico de superficies-Formatos de información
  • KS D ISO 2355:2002 Magnesio y sus aleaciones-Determinación de tierras raras-Método gravimétrico
  • KS D ISO 14976:2011 Análisis químico de superficie-Formato de transferencia de datos
  • KS C IEC 61725-2005(2020) Expresión analítica para perfiles solares diarios.
  • KS D ISO 14976-2011(2016) Análisis químico de superficie-Formato de transferencia de datos
  • KS D ISO 14976-2011(2021) Análisis químico de superficie-Formato de transferencia de datos
  • KS D ISO TR 15969-2011(2021) Análisis químico de superficie-Perfilado de profundidad-Medición de profundidad pulverizada
  • KS D ISO TR 15969-2011(2016) Análisis químico de superficie-Perfilado de profundidad-Medición de profundidad pulverizada
  • KS I ISO 13878:2009 Calidad del suelo-Determinación del contenido total de nitrógeno mediante combustión seca (“análisis elemental”)
  • KS C IEC 61760-1-2007(2017) Tecnología de montaje en superficie-Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
  • KS D ISO TR 15969:2011 Análisis químico de superficie-Perfilado de profundidad-Medición de profundidad pulverizada
  • KS I ISO 13878-2009(2019) Calidad del suelo-Determinación del contenido total de nitrógeno mediante combustión seca (“análisis elemental”)
  • KS D 1701-2004 Determinación de trazas de impurezas en oro de alta pureza-Método de extracción de matriz mediante calentamiento
  • KS C IEC 61760-1:2007 Tecnología de montaje en superficie-Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
  • KS C IEC 61760-1-2007(2022) Tecnología de montaje en superficie-Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
  • KS X IEC 60617-12:2013 Símbolos gráficos para diagramas-Parte 12:Elementos de lógica binaria
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS D ISO 3111-2002(2017) Aleaciones de cobre-Determinación del estaño como elemento de aleación-Método volumétrico
  • KS D ISO 3110-2002(2017) Aleaciones de cobre-Determinación del aluminio como elemento de aleación-Método volumétrico
  • KS D 1701-2009 Determinación de trazas de impurezas en el método de extracción con matriz de oro de alta pureza mediante calentamiento
  • KS D 1674-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro.
  • KS I ISO 10694:2021 Calidad del suelo. Determinación del carbono orgánico y total después de la combustión seca (análisis elemental).
  • KS I ISO 10694-2005(2015) Calidad del suelo-Determinación de carbono orgánico y total después de la combustión seca (análisis elemental)
  • KS D ISO 17560-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
  • KS M ISO 894-2007(2018) Agentes tensioactivos-Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos-Métodos de análisis
  • KS M ISO 893-2007(2018) Agentes tensioactivos-Alcanosulfonatos técnicos-Métodos de análisis
  • KS I ISO 10694:2005 Calidad del suelo-Determinación de carbono orgánico y total después de la combustión seca (análisis elemental)

KR-KS, Análisis de elementos de superficie.

  • KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS I ISO 10694-2021 Calidad del suelo. Determinación del carbono orgánico y total después de la combustión seca (análisis elemental).
  • KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
  • KS M ISO 893-2007(2023) Agentes tensioactivos-Alcanosulfonatos técnicos-Métodos de análisis

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de elementos de superficie.

  • ISO/TR 6306:1989 Análisis químico del acero; orden de los elementos del listado
  • ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO/DIS 5533 Textiles. Cuantificación del elemento constituyente de la fibra de carbono. Método del analizador elemental.
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
  • ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • ISO 17247:2020 Carbón y coque: análisis definitivo
  • ISO 17247:2005/Cor 1:2006 Carbón - Análisis final; Corrigendum técnico 1
  • ISO/FDIS 5533:2023 Textiles. Cuantificación del elemento constituyente de la fibra de carbono. Método del analizador elemental.
  • ISO 5533:2023 Textiles. Cuantificación del elemento constituyente de la fibra de carbono. Método del analizador elemental.
  • ISO/CD 20289:2017 Surface chemical analysis
  • ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
  • ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
  • ISO 18115:2001
  • ISO/TR 29901:2007/cor 1:2009 Ilustraciones seleccionadas de experimentos factoriales completos con cuatro factores; Corrigendum técnico 1
  • ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
  • ISO/CD 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
  • ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
  • ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
  • ISO/TR 15969:2021 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad de pulverización catódica.
  • ISO/TR 14187:2020 Análisis químico de superficies. Caracterización de materiales nanoestructurados.
  • ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 3: Términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas.
  • ISO 6306:2019 Análisis químico del acero. Orden de listado de elementos en las normas de acero.
  • ISO 6306:2020 Análisis químico del acero: orden de listado de elementos en las normas de acero.
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • ISO/DIS 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie en banda de un tercio de octava.
  • ISO 18115:2001/Amd 1:2006 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 1
  • ISO 18115:2001/Amd 2:2007 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 2
  • ISO 14976:1998 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
  • ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía de longitud de onda dispersiva
  • ISO/PRF TR 3151-1 Elementos de visualización de la interfaz PLM-MES. Parte 1: descripción general
  • ISO/TR 3151-1:2023 Elementos de visualización de la interfaz PLM-MES. Parte 1: descripción general
  • ISO 18116:2005 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
  • ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
  • ISO 24465:2023 Análisis químico de superficie. Determinación de la detectabilidad mínima del dispositivo de resonancia de plasmón de superficie.
  • ISO/TR 14187:2011 Análisis químico de superficies - Caracterización de materiales nanoestructurados
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
  • ISO/TR 15969:2001 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Medición de la profundidad de pulverización catódica
  • ISO 893:1989 Agentes tensioactivos; alcanosulfonatos técnicos; metodos de analisis
  • ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas por descarga luminiscente. Procedimientos operativos.
  • ISO 893:1978 Agentes tensioactivos. Alcanosulfonatos técnicos de sodio. Métodos de análisis.
  • ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.

HU-MSZT, Análisis de elementos de superficie.

  • MNOSZ 17616-1954 ?TT?R?SI FINOMS?G VIZSG?LATA S?R?TETT PARADICSOMBAN
  • MSZ 11429-1966 ?LOM-KROM?T elemanalízishez
  • MSZ 9531-1972 2, 2'-dipiridil (a, a'-dipiridil) analitikai célokra
  • MSZ 11598-1964 N?TRIUM-PIROFOSZF?T analitikai célokra
  • MSZ 11500-1963 GASOLINA TER analitikai célokra
  • MSZ 5961-1982 BROMURO DE CALIO PARA FINES ANALÍTICOS
  • MSZ 11484-1979 NATRIUM-BIZMUTAT (N?TRIUM-TRIOXO-BIZMUT?T) analitikai célokra
  • MSZ 11595-1964 ALUMINIOMSZULF?T kristályvizes, analitikai célokra
  • MSZ 11464-1965 ANÁLISIS QUÍMICO DE MINERALES DE HIERRO Determinación del contenido de óxido de aluminio
  • MSZ KGST 1224-1978 MINERALES DE HIERRO Y MANGANESO, CONCENTRADOS, AGLOMERTES Y PELLETS DE HIERRO Requisitos generales para el análisis de mezclas

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de elementos de superficie.

  • GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • GB/T 39527-2020 Determinación de calcio, aluminio y silicio en materiales de superficie sólida. Método de análisis químico.
  • GB/T 38904-2020 Métodos para el análisis elemental de pigmentos líquidos cerámicos.
  • GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
  • GB/T 39145-2020 Método de prueba para determinar el contenido de elementos metálicos superficiales en obleas de silicio: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
  • GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
  • GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de elementos de superficie.

  • GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 31391-2015 Análisis definitivo del carbón.
  • GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
  • GB/T 476-2001 Análisis definitivo del carbón.
  • GB/T 13592-1992 Términos relacionados con el análisis de superficies.
  • GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
  • GB/T 22461-2008 Análisis químico de superficies. Vocabulario
  • GB/T 28894-2012 Análisis químico de superficies. Entrega de muestras antes del análisis.
  • GB/T 19143-2003 Método analítico del elemento de carbono, hidrógeno y oxígeno en compuestos orgánicos de roca.
  • GB/T 21007-2007 Análisis químico de superficies. Formatos de información
  • GB/T 29557-2013 Análisis químico de superficie. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada.
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 19499-2004 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos.
  • GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio.
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 30815-2014 Análisis químico de superficies. Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
  • GB/T 19405.1-2003 Tecnología de montaje en superficie: Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
  • GB/T 14506.30-2010 Métodos de análisis químico de rocas silicatadas.Parte 30:Determinación de 44 elementos.
  • GB/T 13748.20-2009 Métodos de análisis químico de magnesio y aleaciones de magnesio. Parte 20: Determinación de elementos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • GB/T 42518-2023 Análisis químico de oligoelementos en cristales de germanato de bismuto (BGO) mediante espectrometría de masas de descarga luminosa
  • GB/T 21834-2008 Acero de media y baja aleación-Determinación de la distribución de contenidos de múltiples elementos-Método de análisis de distribución estadística de posición original

Association Francaise de Normalisation, Análisis de elementos de superficie.

  • NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
  • NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
  • NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies - Manipulación de muestras antes del análisis.
  • NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaz: análisis elemental cuantitativo mediante espectrometría selectiva de energía (EDS) de elementos que tienen un número atómico de 11 (Na) o mayor
  • NF X21-065*NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
  • NF EN 16424:2014 Caracterización de residuos: método de detección para la determinación de la composición elemental mediante analizadores portátiles de fluorescencia de rayos X
  • NF EN 13507:2018 Proyección térmica - Tratamiento superficial preliminar de piezas y elementos metálicos para proyección térmica
  • NF T25-112:2011 Fibras de carbono - Análisis químico - Determinación de los elementos metaloides.
  • NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
  • NF X31-418*NF ISO 13878:1998 Calidad del suelo. Determinación del contenido de nitrógeno total mediante combustión seca ("análisis elemental").
  • NF X85-011*NF EN 17351:2020 Productos de origen biológico: determinación del contenido de oxígeno mediante un analizador elemental
  • NF EN 17351:2020 Productos de origen biológico: determinación del contenido de oxígeno mediante un analizador elemental
  • NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies - Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis
  • NF V03-266*NF EN 17266:2019 Productos alimenticios - Elementos de determinación y sus especies químicas - Determinación de organomercurio en productos del mar mediante análisis de mercurio elemental
  • NF X21-052/A2:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Enmienda 2.
  • NF X21-052/A1:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - ENMIENDA 1.
  • NF EN 17266:2019 Productos alimenticios - Determinación de elementos y sus especies químicas - Determinación de mercurio orgánico en productos del mar mediante análisis de mercurio elemental
  • NF X21-056*NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
  • X11-634:1988 Análisis del tamaño de partículas. Caracterización del tamaño y forma de los elementos de una población granular.
  • NF ISO 13878:1998 Calidad del suelo - Determinación del contenido total de nitrógeno mediante combustión seca ("análisis elemental")
  • NF EN IEC 61760-1:2020 Tecnología de montaje en superficie - Parte 1: Método estándar para especificar componentes montados en superficie (SMT)
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
  • NF V18-247*NF EN 17053:2018 Piensos para animales: Métodos de muestreo y análisis - Determinación de oligoelementos, metales pesados y otros elementos en piensos mediante ICP-MS (método múltiple)
  • NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaz - Análisis con microsonda electrónica (microsonda de Castaing) - Métodos de análisis de mapeo elemental mediante espectrometría dispersiva de longitud de onda
  • NF ISO 10694:1995 Calidad del suelo - Determinación de carbono orgánico y carbono total después de la combustión seca (análisis elemental)
  • NF C03-502:2003 Tipos de elementos de datos estándar con esquema de clasificación asociado para componentes eléctricos - Parte 2: Esquema de diccionario EXPRESS.
  • NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
  • NF ISO 893:1990 Tensioactivos - Alcanosulfonatos técnicos - Método de análisis.
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
  • NF T73-292*NF EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis.
  • NF EN 14670:2005 Tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis
  • NF EN ISO 9241-161:2016 Ergonomía de la interacción hombre-sistema - Parte 161: elementos de la interfaz de usuario
  • NF G06-032:1978 Textiles. Análisis cuantitativo de mezclas binarias de fibras de celulosa y amianto.

British Standards Institution (BSI), Análisis de elementos de superficie.

  • BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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  • YS/T 372.3-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de paladoum. Valoración complexométrica utilizando butanodiona dioxima liberando EDTA
  • YS/T 372.20-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de cadmio. Valoración complexométrica utilizando yoduro de potasio liberando EDTA
  • YS/T 372.3-1994 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de paladoum. Valoración complexométrica utilizando butanodiona dioxima liberando EDTA
  • YS/T 372.7-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de cobalto. Valoración complexométrica con EDTA
  • YS/T 372.9-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de níquel. Valoración complexométrica con EDTA.
  • YS/T 372.11-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de magnesio. Valoración complexométrica con EDTA.
  • YS/T 372.12-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de zinc. Valoración complexométrica con EDTA.
  • YS/T 372.13-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de estaño. Valoración complexométrica con EDTA
  • YS/T 372.16-2006 Métodos de análisis elemental de aleaciones preciosas. Determinación del contenido de galio. Valoración complexomérica con EDTA
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