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elementos de superficie respectivamente
elementos de superficie respectivamente, Total: 280 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en elementos de superficie respectivamente son: Ingeniería vial, Química analítica, Aplicaciones de la tecnología de la información., Metales ferrosos, pruebas de metales, Vocabularios, Componentes para equipos eléctricos., Componentes electrónicos en general., Símbolos gráficos, Juegos de caracteres y codificación de información., Sistemas de energía fluida, Sistemas de automatización industrial, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Protección de y en edificios, Documentación técnica del producto, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Óptica y medidas ópticas., Productos de la industria química., Protección de radiación, ingeniería de energía nuclear, Materiales de construcción, Tratamiento superficial y revestimiento., Dibujos tecnicos, Equipo óptico, Revestimientos de suelos no textiles, Ergonomía, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Terminal de TI y otros equipos periféricos, Carretes. bobinas, Residuos, Interconexión de sistemas abiertos (OSI), ingeniería de energía solar, Conjuntos de componentes electrónicos., Sellos, glándulas, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Frutas. Verduras, Filtros electricos, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones..
HU-MSZT, elementos de superficie respectivamente
American Society for Testing and Materials (ASTM), elementos de superficie respectivamente
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), elementos de superficie respectivamente
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- KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
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- KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- KS C IEC 61760-1:2007 Tecnología de montaje en superficie－Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
- KS C IEC 61760-1-2007(2022) Tecnología de montaje en superficie－Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
- KS X IEC 60617-12:2013 Símbolos gráficos para diagramas－Parte 12:Elementos de lógica binaria
- KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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- KS X ISO 10303-57:2021 Integración y sistemas de automatización industrial. Representación e intercambio de datos de productos. Parte 57: Recurso genérico integrado: Identificación persistente de elementos en el modelado de formas procesales.
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- KS B ISO 10110-12:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
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European Committee for Standardization (CEN), elementos de superficie respectivamente
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KR-KS, elementos de superficie respectivamente
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BE-NBN, elementos de superficie respectivamente
- NBN C 03-502 ESQUEMAS, DIAGRAMAS Y TABLAS UTILIZAS EN ELECTROTÉCNICA Deuxième partie: Repérage d'identification des eléments
- NBN-ISO 717-3:1992 Esta norma internacional se bestaat en dos versiones oficiales (Engels, Frans).
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, elementos de superficie respectivamente
- GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
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Association Francaise de Normalisation, elementos de superficie respectivamente
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- NF C93-013-3:2008 Embalaje de componentes para manipulación automática - Parte 3: embalaje de componentes de montaje superficial en cintas continuas.
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International Organization for Standardization (ISO), elementos de superficie respectivamente
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- ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
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- ISO/IEC 7816-6:2004/Cor 1:2006 Tarjetas de identificación - Tarjetas de circuitos integrados - Parte 6: Elementos de datos interindustriales para el intercambio
- ISO/IEC 7816-6:2023 Tarjetas de identificación. Tarjetas de circuitos integrados. Parte 6: Elementos de datos interindustriales para el intercambio.
- ISO/IEC 7816-6:2016 Tarjetas de identificación - Tarjetas de circuitos integrados - Parte 6: Elementos de datos interindustriales para el intercambio
- ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
- ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- ISO/IEC 7816-6:1996 Tarjetas de identificación. Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos. Parte 6: Elementos de datos interindustriales.
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- ISO/TS 20440:2016 Informática de la salud - Identificación de medicamentos - Guía de implementación de elementos y estructuras de datos ISO 11239 para la identificación única y el intercambio de información regulada sobre formas farmacéuticas, unidades de presentación, vías de
- ISO 10110-12:2007 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: Superficies asféricas
- ISO/IEC 7816-6:1996/Cor 1:1998 Tarjetas de identificación - Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos - Parte 6: Elementos de datos interindustriales - Corrigendum técnico 1
- ISO 10303-57:2018 Integración y sistemas de automatización industrial. Representación e intercambio de datos de productos. Parte 57: Recurso genérico integrado: Identificación persistente de elementos en el modelado de formas procesales.
- ISO/CD 9241-161:2023 Ergonomía de la interacción hombre-sistema. Parte 161: Orientación sobre elementos visuales de la interfaz de usuario.
- ISO 9241-161:2016 Ergonomía de la interacción hombre-sistema - Parte 161: Orientación sobre elementos visuales de la interfaz de usuario
- ISO/CD 3151-2 Elementos de visualización de la interfaz PLM-MES. Parte 2: retroalimentación de errores 3D en la industria vegetal.
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- ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies: información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por contenedores de carbono.
- ISO 8501-4:2006 Preparación de sustratos de acero antes de la aplicación de pinturas y productos relacionados. Evaluación visual de la limpieza de la superficie. Parte 4: Condiciones iniciales de la superficie, grados de preparación y grados de oxidación instantánea en relación con el chorro de agua a alta presión.
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- ISO/IEC 7816-6:1996/Amd 1:2000 Tarjetas de identificación - Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos - Parte 6: Elementos de datos interindustriales; Enmienda 1: registro del fabricante de circuitos integrados
British Standards Institution (BSI), elementos de superficie respectivamente
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- BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS EN 61360-4:2005 Tipos de elementos de datos estándar con esquema de clasificación asociado para componentes eléctricos: colección de referencia IEC de tipos de elementos de datos estándar y clases de componentes
- BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
- BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- 18/30363138 DC BS EN IEC 61760-1. Tecnología de montaje en superficie. Parte 1. Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD)
- BS EN 15468:2007 Revestimientos de suelos laminados - Elementos con impresión aplicada directamente y capa superficial de resina - Especificaciones, requisitos y métodos de ensayo
- BS EN 15468:2016 Revestimientos de suelos laminados. Elementos con impresión aplicada directamente y capa superficial de resina. Especificaciones, requisitos y métodos de prueba.
- BS EN 1545-1:2015 Cambios rastreados. Sistemas de tarjetas de identificación. Aplicaciones de transporte de superficie. Tipos de datos elementales, listas de códigos generales y elementos de datos generales.
- 19/30393138 DC BS ISO/IEC 19785-1. Tecnologías de la información. Marco de formatos comunes de intercambio biométrico. Parte 1. Especificación del elemento de datos
- BS EN 62339-1:2007 Interfaces de componentes modulares para componentes de distribución de fluidos de montaje superficial: sellos elastoméricos
- BS EN 2591-212:2005 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 212: Impedancia de transferencia superficial.
- BS EN 130800:2001
- BS EN 166100:1998 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación seccional: filtros de ondas acústicas superficiales (SAW)
- BS ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies. Información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por compuestos que contienen carbono
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, elementos de superficie respectivamente
- GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
- GB/T 17564.4-2009 Tipos de elementos de datos estándar con esquema de clasificación asociado para componentes eléctricos. Parte 4: Colección de referencia IEC de tipos de elementos de datos estándar y clases de componentes.
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- GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
- GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
- GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
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- GB/T 24916-2010 Solución de tratamiento de superficies. Determinación del contenido de elementos metálicos. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
- GB/T 28826.1-2012 Tecnología de la información. Marco de formatos comunes de intercambio biométrico. Parte 1: Especificación del elemento de datos.
- GB/T 28162.3-2011 Embalaje de componentes para entrega automática. Parte 3: Embalaje de componentes de montaje superficial en cintas continuas.
- GB/T 22319.8-2008 Medición de los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, elementos de superficie respectivamente
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- GB/T 35660.1-2017 Información y documentación — RFID en bibliotecas — Parte 1: Elementos de datos y directrices generales para su implementación
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Danish Standards Foundation, elementos de superficie respectivamente
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- BS EN 1545-2:2015(2017) Sistemas de tarjetas de identificación. Aplicaciones de transporte de superficie. Parte 2: Listas de códigos y elementos de datos relacionados con el transporte y el pago de viajes.
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- DIN EN IEC 61760-1:2022-12 Tecnología de montaje en superficie - Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD) (IEC 61760-1:2020); Versión alemana EN IEC 61760-1:2020 / Nota: DIN EN 61760-1 (2006-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023-0...
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- DIN EN 61760-1:2006 Tecnología de montaje en superficie - Parte 1: Método estándar para la especificación de componentes de montaje en superficie (SMD) (IEC 61760-1:2006); Versión alemana EN 61760-1:2006
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- IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, elementos de superficie respectivamente
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