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descripción SEM, Total: 43 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en descripción SEM son: Dispositivos de visualización electrónica., Equipo óptico, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Educación, Física. Química, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Calidad del aire.
American Society for Testing and Materials (ASTM), descripción SEM
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), descripción SEM
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), descripción SEM
International Organization for Standardization (ISO), descripción SEM
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
American National Standards Institute （ANSI), descripción SEM
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, descripción SEM
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
Professional Standard - Machinery, descripción SEM
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, descripción SEM
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
Professional Standard - Commodity Inspection, descripción SEM
- SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), descripción SEM
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, descripción SEM
- GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, descripción SEM
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
KR-KS, descripción SEM
Professional Standard - Education, descripción SEM
- JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
- JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
British Standards Institution (BSI), descripción SEM
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, descripción SEM
- GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
- GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
Group Standards of the People's Republic of China, descripción SEM
- T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
Professional Standard - Petroleum, descripción SEM
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, descripción SEM
- DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
Association of German Mechanical Engineers, descripción SEM
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
- VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
国家能源局, descripción SEM
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.