ZH
EN
ES

Описание СЭМ

Описание СЭМ, Всего: 43 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Описание СЭМ, являются: Электронные устройства отображения, Оптическое оборудование, Языки, используемые в информационных технологиях, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Образование, Физика. Химия, Линейные и угловые измерения, Словари, Обработка поверхности и покрытие, Цветные металлы, Качество воздуха.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Описание СЭМ

ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Описание СЭМ

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Описание СЭМ

IEEE 1450.6.1-2009 Описание встроенного сжатия сканирования

International Organization for Standardization (ISO), Описание СЭМ

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

American National Standards Institute （ANSI), Описание СЭМ

ANSI/IEEE 1450.6.1:2009 Стандарт описания сжатия сканирования на кристалле

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Описание СЭМ

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Machinery, Описание СЭМ

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Описание СЭМ

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, Описание СЭМ

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Описание СЭМ

KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Описание СЭМ

GJB 2666-1996 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал
GJB 2666A-2018 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Описание СЭМ

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

KR-KS, Описание СЭМ

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Professional Standard - Education, Описание СЭМ

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

British Standards Institution (BSI), Описание СЭМ

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Описание СЭМ

GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM

Group Standards of the People's Republic of China, Описание СЭМ

T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.

Professional Standard - Petroleum, Описание СЭМ

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Описание СЭМ

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Описание СЭМ

VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, Описание СЭМ

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии