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escaneo electrónico in vitro

escaneo electrónico in vitro, Total: 332 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en escaneo electrónico in vitro son: Equipo óptico, Química analítica, Fotografía, Óptica y medidas ópticas., Física. Química, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Equipo medico, Educación, Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos semiconductores, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dispositivos de almacenamiento de datos, Tratamiento superficial y revestimiento., Aplicaciones de imágenes de documentos, Sistemas de microprocesador, Fibras textiles, Materiales de construcción, Calidad del aire, Metrología y medición en general., tubos electronicos, Productos de hierro y acero., Cerámica, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Equipos e instrumentos a bordo., Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Aplicaciones de la tecnología de la información., Accesorios electricos, Compatibilidad electromagnética (CEM), Ingredientes de pintura, Desarrollo de software y documentación del sistema., Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Lubricantes, aceites industriales y productos afines..


Japanese Industrial Standards Committee (JISC), escaneo electrónico in vitro

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 7542:1993 Dimensiones de la película fotográfica para uso en escáner electrónico.
  • JIS T 1507:1989 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal electrónico.
  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS T 61675-1:2016 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, escaneo electrónico in vitro

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.

International Organization for Standardization (ISO), escaneo electrónico in vitro

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 11312:1993 Fotografía; dimensiones de la película; película para uso en escáner electrónico
  • ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16067-1:2003 Fotografía - Mediciones de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 12653-1:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 1: Características
  • ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
  • ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso
  • ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • ISO 12653-2:2000/cor 1:2002 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso; Corrigendum técnico 1
  • ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
  • ISO 13083:2015
  • ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.
  • ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • ISO 17751-2:2014 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Chemical Industry, escaneo electrónico in vitro

  • HG/T 3640-1999 Fotografía. Dimensión de la película. Película para uso en escáner electrónico.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, escaneo electrónico in vitro

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Group Standards of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • T/SAS 0003-2018 Cristales de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
  • T/QGCML 1940-2023
  • T/CIRA 42-2022 Método de detección de uniformidad de escaneo de haz de acelerador de electrones para varillas de aluminio utilizadas en el procesamiento de radiación
  • T/SAME 004-2021 Especificación del servicio de gestión de mantenimiento y mantenimiento de tomografía computarizada (TC) de rayos X

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, escaneo electrónico in vitro

  • GB/T 39867-2021 Cristal de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
  • GB/T 40826-2021 Método de prueba para disponer manualmente la longitud de las grapas de cachemira depilada: método de escáner de superficie plana
  • GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
  • GB/T 20493.3-2018 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.
  • GB/T 41126-2021 Comercio electrónico transfronterizo: especificación para la descripción de información de la entidad de comercio de exportación

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), escaneo electrónico in vitro

  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de película
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS A ISO 16067-2:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de películas
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS A ISO 16067-1:2005 Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • KS X ISO/IEC 15780:2013 Tecnología de la información-Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho-Grabación de escaneo helicoidal-AIT-1 formato
  • KS A ISO 21550:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medidas de rango dinámico
  • KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medidas de rango dinámico
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS X ISO 12653-1-2007(2017) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS X ISO 12653-1-2007(2022) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS X ISO 12653-1:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS C IEC TR 61948-3:2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
  • KS C IEC TR 61948-3:2017 Instrumentación de medicina nuclear ─ Pruebas de rutina ─ Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
  • KS X ISO 12653-2-2007(2022) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 2: Método de uso
  • KS X ISO 12653-2-2007(2017) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 2: Método de uso
  • KS X ISO 12653-2:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 2:Método de uso
  • KS K ISO 17751-2:2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

PT-IPQ, escaneo electrónico in vitro

  • NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

SE-SIS, escaneo electrónico in vitro

RU-GOST R, escaneo electrónico in vitro

  • GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
  • GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
  • GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
  • GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
  • GOST R 56109-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafos por emisión de positrones junto con equipos de rayos X para tomografía computarizada. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
  • GOST R 56108-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafo por emisión de positrones. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
  • GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
  • GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
  • GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
  • GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
  • GOST 19438.21-1979 Válvulas y válvulas electrónicas de baja potencia para cascadas de salida de escaneo de líneas de TV. Métodos de medición de parámetros eléctricos y prueba de tiempo de servicio.
  • GOST R 56123-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
  • GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 2. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único
  • GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

Professional Standard - Military and Civilian Products, escaneo electrónico in vitro

  • WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

British Standards Institution (BSI), escaneo electrónico in vitro

  • BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
  • BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16067-1:2003 Fotografía. Mediciones de resolución espacial para escáneres electrónicos de imágenes fotográficas. Escáneres para medios reflectantes
  • BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • BS ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
  • BS ISO 12653-1:2000 Imagen electrónica - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Características
  • BS ISO 12653-1:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina. Características
  • BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
  • BS ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Método de uso
  • BS ISO 12653-2:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de Office. Metodo de uso
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • PD IEC/TR 61948-3:2018 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Tomógrafos por emisión de positrones
  • BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • BS ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN IEC 61675-1:2022 Cambios rastreados. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Tomógrafos por emisión de positrones
  • BS ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
  • BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines
  • BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
  • DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • 20/30423980 DC BS EN IEC 61675-1. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1. Tomógrafos por emisión de positrones
  • BS EN 50090-6-2:2021 Sistemas electrónicos para el hogar y la construcción (HBES): descripción del modelo de ontología semántica de IoT
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • BS EN 62656-5:2017 Registro estandarizado de ontologías de productos y transferencia mediante hojas de cálculo. Interfaz para descripción de actividad
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

KR-KS, escaneo electrónico in vitro

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS C IEC TR 61948-3-2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
  • KS K ISO 17751-2-2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, escaneo electrónico in vitro

  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • GB/T 17359-1998
  • GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 20493.1-2006 Prueba de imagen electrónica Traget para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
  • GB/T 43196-2023 Microscopía electrónica de barrido con nanotecnología para medir el tamaño y la distribución de la forma de las nanopartículas
  • GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
  • GB/T 20493.2-2006
  • GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
  • GB/T 17361-1998
  • GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
  • GB/T 32869-2016 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • GB/T 19665-2005 Especificación general para termómetro electrónico de imágenes infrarrojas de la piel del cuerpo.

American Society for Testing and Materials (ASTM), escaneo electrónico in vitro

  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14e1
  • ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D8231-19 Práctica estándar para el uso de un sistema de escaneo electrónico de bajo voltaje para detectar y localizar grietas en membranas impermeabilizantes y para techos
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
  • ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2012)
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1479-16 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
  • ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
  • ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
  • ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
  • ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM D6059-96(2001) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM D6059-96 Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM D6059-96(2006) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)
  • ASTM D8315-20 Método de prueba estándar para la determinación de metales de desgaste y elementos contaminantes en aceites industriales usados mediante espectrometría de emisión atómica con electrodo plano de barrido

Association Francaise de Normalisation, escaneo electrónico in vitro

  • NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • NF Z42-010-1:1992 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - parte 1:Subcontratación de escaneo - Guía de instrucciones técnicas detalladas para oficinas
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
  • NF Z42-010-2:1993 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - Parte 2: Adquisición de sistemas electrónicos de gestión de imágenes - Directrices para una solicitud de propuestas
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • NF EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: tomógrafos por emisión de positrones.
  • NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: método de microscopía electrónica de barrido.
  • NF EN 61303:1995 Dispositivos electromédicos calibradores de radionúclidos: métodos específicos para describir el rendimiento
  • NF C93-476-2:2000 Estructuras mecánicas para equipos electrónicos - Gabinetes para exteriores - Parte 2: especificación seccional - Dimensiones de coordinación para cajas y gabinetes.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • CNS 14197-1998 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal eléctrico.

Professional Standard - Electron, escaneo electrónico in vitro

  • SJ/T 11008-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de línea y campo CD11235CP
  • SJ/T 10987-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de campo magnético CD5435CP
  • SJ/T 11087-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de procesamiento de crominancia y barrido horizontal y vertical CD7698CP
  • SJ/T 10784-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de barrido horizontal y vertical CD7609CP (Aplicable para certificación)
  • SJ/T 11006-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de barrido horizontal y vertical.
  • SJ 2247-1982 Describe las dimensiones de los dispositivos optoelectrónicos semiconductores.

Professional Standard - Petroleum, escaneo electrónico in vitro

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, escaneo electrónico in vitro

  • NEMA NU 2-2012 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones
  • NEMA NU 2-2018 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones (PET)

国家能源局, escaneo electrónico in vitro

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Judicatory, escaneo electrónico in vitro

未注明发布机构, escaneo electrónico in vitro

  • BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
  • DIN EN IEC 61675-1:2022 Sistemas de imágenes en medicina nuclear – características y condiciones de prueba – Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones

European Committee for Standardization (CEN), escaneo electrónico in vitro

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Danish Standards Foundation, escaneo electrónico in vitro

German Institute for Standardization, escaneo electrónico in vitro

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN 6855-4:2016-11 Pruebas de constancia de instrumentos de medicina nuclear - Parte 4: Tomógrafos por emisión de positrones (PET)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
  • DIN 6871-1:2003-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones. Parte 1: Requisitos para la protección radiológica de la construcción.
  • DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
  • DIN EN IEC 61675-1:2022-12 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 61675-1:2022); Versión alemana EN IEC 61675-1:2022
  • DIN 6871-2:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
  • DIN EN 14437:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
  • DIN EN 14664:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
  • DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016); Versión alemana EN ISO 17751-2:2016 / Nota: Se sustituirá por DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
  • DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO/DIS 17751-2:2022); Versión alemana e inglesa prEN ISO 17751-2:2022 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-19*I...
  • DIN EN 50090-6-2:2023-06 Sistemas electrónicos para el hogar y la construcción (HBES): parte 6-2 Descripción del modelo de ontología semántica de IoT; Versión alemana EN 50090-6-2:2021
  • DIN EN 50090-6-2:2021 Sistemas electrónicos para el hogar y la construcción (HBES): Parte 6-2: Descripción del modelo de ontología semántica de IoT; Versión alemana e inglesa prEN 50090-6-2:2020
  • DIN ISO 16000-27:2014 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

Professional Standard - Public Safety Standards, escaneo electrónico in vitro

  • GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
  • GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
  • GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

US-FCR, escaneo electrónico in vitro

  • FCR 21 CFR PART 212-2015 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
  • FCR 21 CFR PART 212-2013 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
  • FCR 21 CFR PART 212-2014 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB15/T 1341-2018 Especificación para la calibración del escáner electrónico para la tabla de longitud de fila de mano de cachemira cardada
  • DB15/T 981-2016 Método de prueba de longitud de fila de mano de cachemira cardada método de escáner electrónico de tablero de dibujo

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

ES-UNE, escaneo electrónico in vitro

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
  • UNE-EN 61675-1:2014 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de ensayo - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por AENOR en agosto de 2014.)
  • UNE-EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de prueba - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2022.)
  • UNE-EN 50090-6-2:2021 Sistemas electrónicos para el hogar y la construcción (HBES) - Parte 6-2 Descripción del modelo de ontología semántica de IoT (Avalado por la Asociación Española de Normalización en enero de 2022).
  • UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

AENOR, escaneo electrónico in vitro

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , escaneo electrónico in vitro

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
  • LST EN 61675-1-2001 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos de emisión de positrones (IEC 61675-1:1998)
  • LST EN 61675-1-2001/A1-2008 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 61675-1:1998/A1:2008)

AT-ON, escaneo electrónico in vitro

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Indonesia Standards, escaneo electrónico in vitro

  • SNI IEC/TR 61948-3:2012 Instrumentación de medicina nuclear - Pruebas de rutina - Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones

ZA-SANS, escaneo electrónico in vitro

  • SANS 12653-1:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
  • SANS 12653-2:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 2: Método de uso

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB44/T 1833-2016 Objetivo de prueba de escaneo de documentos de oficina de imágenes electrónicas objetivo de prueba de baja resolución
  • DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.
  • DB44/T 1215-2013 Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de energía

BE-NBN, escaneo electrónico in vitro

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Association of German Mechanical Engineers, escaneo electrónico in vitro

  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 2441-2016

Society of Automotive Engineers (SAE), escaneo electrónico in vitro

  • SAE ARD5296-2002 Requisitos para el lenguaje de descripción de arquitectura de aviónica (AADL)

American National Standards Institute (ANSI), escaneo electrónico in vitro

  • ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

Professional Standard - Commodity Inspection, escaneo electrónico in vitro

  • SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), escaneo electrónico in vitro

  • EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

Standard Association of Australia (SAA), escaneo electrónico in vitro

  • AS/NZS IEC 61675.1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

Defense Logistics Agency, escaneo electrónico in vitro

  • DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, ENLAZADORES DE RUTA DE ESCANEO CON BUS ID DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-96827 REV A-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, REGISTRO DE ESCANEO DE DIAGNÓSTICO DE 8 BITS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL Y OSCILACIÓN DE VOLTAJE DE SALIDA LIMITADA, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, PUERTOS DE ESCANEO DIRECCIONABLES DE 10 BITS, TRANSCEPTOR TAP IEEE STD 1149.1 (JTAG) DIRECCIONABLE MULTIDROP, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-91725-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-96747-1997 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, SELECTOR DE RUTA DE ESCANEO CON BUS DE DATOS BIDIRECCIONAL DE 8 BITS, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-96811 REV A-1999 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO DE 3,3 VOLTIOS CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, CON RETENCIÓN DE BUS, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

GOSTR, escaneo electrónico in vitro

  • PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Professional Standard - Post and Telecommunication, escaneo electrónico in vitro

  • YD/T 1690.3-2007 Interior de equipos de telecomunicaciones - Medición de emisiones electromagnéticas - 150 KHz a 1 GHz Parte 3 Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie

CZ-CSN, escaneo electrónico in vitro

  • CSN 35 4055 Cast.6-1984 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Prueba de continuidad eléctrica de carcasa/carcasa/

YU-JUS, escaneo electrónico in vitro

  • JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
  • JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
  • JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
  • JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
  • JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15

Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB42/T 462-2008 Un estándar de construcción de sistemas de seguridad para redes externas de gobierno electrónico en la provincia de Hubei

AT-OVE/ON, escaneo electrónico in vitro

  • OVE EN IEC 61675-1:2021 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de prueba - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 62C/811/CDV) (versión en inglés)

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, escaneo electrónico in vitro

  • DB34/T 3606-2020 Especificación de diseño del marco general de la red de ciudades y condados de extranet de gobierno electrónico

BELST, escaneo electrónico in vitro

  • STB 2210-2011 Materiales nanocarbonados y no carbonados y compuestos basados en ellos. Método para determinar parámetros mediante mediciones de microscopía electrónica de barrido.




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