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SEM, Total: 11 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en SEM son: Equipo óptico.
British Standards Institution (BSI), SEM
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM
International Organization for Standardization (ISO), SEM
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM
- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
Association Francaise de Normalisation, SEM
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
Professional Standard - Public Safety Standards, SEM
- GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
- DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.