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SEM, Total: 11 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en SEM son: Equipo óptico.


British Standards Institution (BSI), SEM

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM

International Organization for Standardization (ISO), SEM

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM

  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

Association Francaise de Normalisation, SEM

  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM

  • GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.




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