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Medición de imágenes de microscopio.

Medición de imágenes de microscopio., Total: 235 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición de imágenes de microscopio. son: Equipo óptico, Aplicaciones de imágenes de documentos, Química analítica, Fotografía, Cerámica, Alambres y cables eléctricos., Dispositivos de visualización electrónica., Sistemas de energía fluida, Agricultura y silvicultura, Calidad del aire, Fibras textiles, Pruebas no destructivas, Óptica y medidas ópticas., Optoelectrónica. Equipo láser, Medidas lineales y angulares., Pruebas mecánicas, pruebas de metales, Tratamiento superficial y revestimiento., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Materiales para la construcción aeroespacial., Física. Química, carbones, ingeniería de energía nuclear, Procesos tecnológicos de la madera., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Microbiología, Materiales de construcción, Corrosión de metales.


British Standards Institution (BSI), Medición de imágenes de microscopio.

  • BS ISO 19056-1:2015 Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Brillo y uniformidad de la imagen en microscopía de campo brillante.
  • BS ISO 11698-1:2000 Micrografía. Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura. Características de las imágenes de prueba.
  • BS ISO 7565:1993 Micrografía. Lectores de microformas transparentes. Medición de características.
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS IEC 63145-21-20:2022 Visualización de gafas: métodos de medición específicos para la calidad de imagen de realidad virtual. Efecto puerta mosquitera
  • BS ISO 11698-2:2000 Micrografía. Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura. Criterios y control de calidad.
  • BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • BS ISO 14648-1:2001 Micrografía. Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes mediante un único sistema de visualización interno - Características del objetivo de prueba del software
  • BS ISO 14648-2:2001 Micrografía. Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes mediante un único sistema de visualización interno - Método de uso
  • PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • BS ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación: microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
  • BS ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación - Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
  • BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • BS ISO 6200:1999 Micrografía. Microformas de gelatina de plata de primera generación de documentos originales. Especificaciones de densidad y método de medición.
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • BS IEC 62906-5-3:2021 Dispositivos de visualización láser. Métodos de medición de la calidad de imagen para pantallas de proyección láser.
  • BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • BS IEC 62906-5-7:2022 Pantallas láser: métodos de medición de la calidad de imagen afectada por el moteado para escanear pantallas láser
  • 18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Parte 2. Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
  • 21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Parte 3. Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
  • BS EN 62341-6-3:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de la calidad de la imagen.
  • BS ISO 14648-1:2002 Micrografía - Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno - Características del objetivo de prueba del software
  • BS ISO 14648-2:2002 Micrografía - Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes mediante un único sistema de visualización interno - Método de uso
  • BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
  • BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • BS ISO 8126:2019 Cambios rastreados. Micrografía. Película duplicante, plateada, diazo y vesicular. Especificaciones y medición de la densidad visual.
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • 20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Recubrimientos metálicos y óxidos. Medición del espesor del recubrimiento. método microscópico
  • BS EN 62341-5-3:2013 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de la adherencia de imágenes y su vida útil.
  • 18/30382465 DC BS EN IEC 62906-5-3. Dispositivos de visualización láser. Parte 5-3. Métodos de medición de la calidad de imagen para pantallas de proyección láser.
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
  • 23/30420097 DC BS ISO 23124 Análisis químico de superficies. Medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman.
  • BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
  • 14/30312971 DC BS EN 62341-6-3. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-3. Métodos de medición de la calidad de la imagen.
  • 20/30425220 DC BS EN IEC 63145-21-20. Exhibición de gafas. Parte 21-20. Métodos de medición específicos de la calidad de la imagen VR. Efecto de puerta mosquitera

International Organization for Standardization (ISO), Medición de imágenes de microscopio.

  • ISO 19056-1:2015 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 1: Brillo y uniformidad de la imagen en microscopía de campo brillante.
  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
  • ISO/TS 20793:2019 Fotografía — Impresión lenticular para imágenes cambiantes — Medidas de calidad de imagen
  • ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 3: Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
  • ISO 4912:1981 Textiles; Fibras de algodón; Evaluación de madurez; método microscópico
  • ISO 19232-5:2004 Ensayos no destructivos - Calidad de imagen de radiografías - Parte 5: Indicadores de calidad de imagen (tipo cable dúplex) - Determinación del valor de falta de nitidez de la imagen
  • ISO 19232-5:2018 Ensayos no destructivos - Calidad de imagen de radiografías - Parte 5: Determinación de la falta de nitidez de la imagen y del valor de resolución espacial básica utilizando indicadores de calidad de imagen de tipo cable dúplex
  • ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
  • ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 2: Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante.
  • ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • ISO 4967:1998 Acero - Determinación del contenido de inclusiones no metálicas - Método micrográfico mediante diagramas estándar
  • ISO/DIS 23124:2023 Análisis químico de superficies: medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman
  • ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
  • ISO 4967:2013 Acero.Determinación del contenido de inclusiones no metálicas.Método micrográfico mediante diagramas estándar.

Association Francaise de Normalisation, Medición de imágenes de microscopio.

  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF EN ISO 4499-1:2020 Metales duros - Determinación metalográfica de la microestructura - Parte 1: imágenes fotomicrográficas y descripción
  • NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textiles - Análisis microscópico cuantitativo - Principios generales de ensayo
  • NF EN ISO 20705:2020 Textiles - Análisis cuantitativo por microscopía - Principios generales de ensayo
  • NF A91-110:2004 Recubrimientos metálicos y de óxidos - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico.
  • NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF A04-106:1984 Hierro y acero. Métodos de determinación del contenido de inclusiones no metálicas en acero forjado. Parte II: método micrográfico utilizando diagramas estándar.
  • NF EN 62341-6-3:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 6-3: métodos para medir la calidad de la imagen
  • NF X43-050:1996 Calidad del aire. Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión. Método indirecto.
  • NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Anodizado de aluminio y sus aleaciones - Determinación del espesor de recubrimientos de oxidación anódica - Medición no destructiva mediante microscopio de haz dividido
  • NF C96-541-5-3*NF EN 62341-5-3:2014 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 5-3: métodos de medición de la adherencia de imágenes y su vida útil
  • NF EN 62341-5-3:2014 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 5-3: métodos para medir la vida útil y la retención de imagen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Medición de imágenes de microscopio.

  • JJF 1819-2020 Especificación de calibración para analizadores de microimagen médicos

Standard Association of Australia (SAA), Medición de imágenes de microscopio.

  • IEC 63145-20-20:2019 Visualización de gafas. Parte 20-20: Métodos de medición fundamentales. Calidad de imagen.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Medición de imágenes de microscopio.

  • ASTM E3060-16 Guía estándar para la medición de partículas subvisibles en la fabricación biofarmacéutica mediante microscopía de imágenes dinámica (de flujo)
  • ASTM C1678-10 Práctica estándar para el análisis fractográfico de tamaños de espejos de fractura en cerámicas y vidrios
  • ASTM F728-81(1997)e1 Práctica estándar para preparar un microscopio óptico para mediciones dimensionales
  • ASTM F72-95(2001) Especificación estándar para alambre de oro para unión de conductores de semiconductores
  • ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
  • ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
  • ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM D5235-13 Método de prueba estándar para la medición microscópica del espesor de la película seca de recubrimientos sobre productos de madera
  • ASTM D5235-14 Método de prueba estándar para la medición microscópica del espesor de la película seca de recubrimientos sobre productos de madera
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D5235-18 Método de prueba estándar para la medición microscópica del espesor de la película seca de recubrimientos sobre productos de madera
  • ASTM D5235-97 Método de prueba estándar para la medición microscópica del espesor de la película seca de recubrimientos sobre productos de madera
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D5770-02 Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
  • ASTM D5770-96 Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
  • ASTM D5770-02(2007) Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
  • ASTM F3294-18 Guía estándar para realizar mediciones cuantitativas de la intensidad de la fluorescencia en ensayos celulares con microscopía de epifluorescencia de campo amplio
  • ASTM B487-20 Método de prueba estándar para medir el espesor del recubrimiento de metal y óxido mediante examen microscópico de la sección transversal
  • ASTM C1356-96(2001) Método de prueba estándar para la determinación cuantitativa de fases en el clinker de cemento Portland mediante un procedimiento microscópico de recuento de puntos
  • ASTM B487-85(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor del recubrimiento de metal y óxido mediante examen microscópico de una sección transversal
  • ASTM B651-83(2001) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(1995) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(2006) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(2015) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM D7971-15 Guía estándar para medir la redondez de esferas de vidrio utilizando un analizador de imágenes digital Flowing Stream
  • ASTM B651-83(2010) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B588-88(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos transparentes u opacos mediante la técnica del microscopio de interferencia de doble haz

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Medición de imágenes de microscopio.

  • JIS B 7152:1991 Objetivos y oculares para microscopios biológicos. Métodos de medición del rendimiento.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS M 8816:1992 Combustibles minerales sólidos. Métodos de medición microscópica de los macerales y la reflectancia.
  • JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
  • JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.

未注明发布机构, Medición de imágenes de microscopio.

  • BS 3406-4:1993(1999) Métodos para determinar la distribución del tamaño de partículas. Parte 4: Guía de métodos de análisis de imágenes y microscopio.
  • BS ISO 10550:1994(1999) Micrografía — Sistemas de cámaras planetarias — Objetivo de prueba para comprobar el rendimiento

(U.S.) Ford Automotive Standards, Medición de imágenes de microscopio.

International Electrotechnical Commission (IEC), Medición de imágenes de microscopio.

  • IEC 63145-21-20:2022 Visualización de gafas - Parte 21-20: Métodos de medición específicos para la calidad de imagen de realidad virtual - Efecto puerta mosquitera
  • IEC 62906-5-7:2022 Pantallas láser - Parte 5-7: Métodos de medición de la calidad de imagen afectada por el moteado para escanear pantallas láser
  • IEC 62629-62-11:2022 Dispositivos de visualización 3D - Parte 62-11: Métodos de medición para el tipo de imagen virtual - Óptico
  • IEC 62341-5-3:2019 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 5-3: Métodos de medición de la adherencia de imágenes y su vida útil
  • IEC 62341-5-3:2019 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 5-3: Métodos de medición de la adherencia de imágenes y su vida útil

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Medición de imágenes de microscopio.

  • KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
  • KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D 0204-2007 Acero-Determinación del contenido de inclusiones no metálicas-Método micrográfico mediante diagramas estándar
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D 8519-2009(2015) Revestimiento metálico y de óxido-Medición del espesor del revestimiento-Método microscópico
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D 0204-1982 Acero-Determinación del contenido de inclusiones no metálicas-Método micrográfico mediante diagramas estándar
  • KS C 7114-2008(2018) Paneles de pantalla de plasma (PDP) -Método de medición de la resolución de imágenes en movimiento
  • KS X ISO 11698-1-2002(2012) Micrografía-Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura-Parte 1: Características de las imágenes de prueba
  • KS X ISO 11698-1:2002 Micrografía-Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura-Parte 1: Características de las imágenes de prueba
  • KS X ISO 11698-1:2013 Micrografía-Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura-Parte 1: Características de las imágenes de prueba
  • KS X ISO 14648-2:2007 Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes mediante un único sistema de visualización interno-Parte 2: Método de uso
  • KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • KS D 0204-2007(2022) Acero-Determinación del contenido de inclusiones no metálicas-Método micrográfico utilizando diagramas estándar
  • KS D 0204-2002 Acero-Determinación del contenido de inclusiones no metálicas-Método micrográfico utilizando diagramas estándar
  • KS D 0204-2007(2017) Acero-Determinación del contenido de inclusiones no metálicas-Método micrográfico utilizando diagramas estándar
  • KS X ISO 14648-1:2007 Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno-Parte 1: Características del objetivo de prueba del software
  • KS X ISO 14648-1-2007(2017) Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno-Parte 1:Características del objetivo de prueba de software
  • KS X ISO 14648-1-2007(2022) Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno-Parte 1:Características del objetivo de prueba de software
  • KS I ISO 8672:2021 Calidad del aire. Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases. Método de filtro de membrana.
  • KS I ISO 8672-2006(2017) Calidad del aire: Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases (método de filtro de membrana)
  • KS X ISO 14648-2-2007(2022) Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno-Parte 2:Método de uso
  • KS X ISO 14648-2-2007(2017) Micrografía-Control de calidad de grabadores COM que generan imágenes utilizando un único sistema de visualización interno-Parte 2:Método de uso
  • KS X ISO 11698-2-2007(2012) Micrografía-Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura-Parte 2: Criterios y control de calidad

CZ-CSN, Medición de imágenes de microscopio.

  • CSN 65 6337-1974 Determinación del contenido de impurezas mecánicas mediante microscopio.

农业农村部, Medición de imágenes de microscopio.

  • NY/T 2870-2015 Método de obtención de imágenes microscópicas para la detección rápida de la densidad lineal de fibras de yute y kenaf

VN-TCVN, Medición de imágenes de microscopio.

  • TCVN 6035-1995 Textiles.Fibras de algodón.Evaluación de la madurez.Método microscópico

PT-IPQ, Medición de imágenes de microscopio.

  • NP 3160-1986 T?XTEIS Fibras de l? Determina?o do di?metro. Método de microscopio de proyecto
  • NP 3563-1988 Textiles Fibras de algodón. Evaluación de madurez. método microscópico

KR-KS, Medición de imágenes de microscopio.

  • KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
  • KS I ISO 8672-2021 Calidad del aire. Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases. Método de filtro de membrana.

European Committee for Standardization (CEN), Medición de imágenes de microscopio.

CEN - European Committee for Standardization, Medición de imágenes de microscopio.

  • EN ISO 19232-5:2018 Ensayos no destructivos - Calidad de imagen de radiografías - Parte 5: Determinación de la falta de nitidez de la imagen y del valor de resolución espacial básica utilizando indicadores de calidad de imagen de tipo cable dúplex

FI-SFS, Medición de imágenes de microscopio.

Association of German Mechanical Engineers, Medición de imágenes de microscopio.

  • VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Medición óptica y microtopografías - Calibración de microscopios de interferencia y estándares de medición de profundidad para medición de rugosidad
  • VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición
  • VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido

Danish Standards Foundation, Medición de imágenes de microscopio.

  • DS/ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • DS/EN ISO 9220:1995
  • DS/EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2021)
  • DS/EN 62341-6-3:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-3: Métodos de medición de la calidad de la imagen
  • DS/EN ISO 2128:2010 Anodizado de aluminio y sus aleaciones - Determinación del espesor de recubrimientos de oxidación anódica - Medición no destructiva mediante microscopio de haz dividido

SE-SIS, Medición de imágenes de microscopio.

  • SIS SS-ISO 1463:1983 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
  • SIS SMS 2953-1971 Medición de espesores de recubrimientos de metales y óxidos mediante examen microscópico de secciones transversales.

PL-PKN, Medición de imágenes de microscopio.

  • PN C05551-1987 Agua y aguas residuales Determinación de la cantidad de fitoplancton mediante el uso del microscopio invertido

RU-GOST R, Medición de imágenes de microscopio.

  • GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
  • GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
  • GOST R ISO 4967-2015 Acero. Determinación del contenido de inclusiones no metálicas. Método micrográfico utilizando diagramas estándar.
  • GOST R ISO 4967-2009 Acero. Determinación del contenido de inclusiones no metálicas. Método micrográfico utilizando diagramas estándar.
  • GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
  • GOST R 8.697-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Espaciamientos interpenares en cristales. Método de medición mediante microscopio electrónico de transmisión.
  • GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

Group Standards of the People's Republic of China, Medición de imágenes de microscopio.

German Institute for Standardization, Medición de imágenes de microscopio.

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN EN 62341-6-3:2013-02 Pantallas de diodos orgánicos emisores de luz (OLED). Parte 6-3: Métodos de medición de la calidad de la imagen (IEC 62341-6-3:2012); Versión alemana EN 62341-6-3:2012
  • DIN 6868-157:2022-01 Garantía de calidad de imagen en departamentos de rayos X de diagnóstico. Parte 157: Aceptación de ordenanzas de rayos X y prueba de constancia de los sistemas de visualización de imágenes en su entorno.
  • DIN 22020-5:2005-02 Investigaciones de la materia prima en la minería de hulla - Exámenes microscópicos de hulla, coque y briquetas - Parte 5: Mediciones de reflectancia en vitrinitas / Nota: DIN 22020-5 (1986-09) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2005-07 -31.
  • DIN 6868-157:2022 Garantía de calidad de imagen en departamentos de rayos X de diagnóstico. Parte 157: Aceptación de ordenanzas de rayos X y prueba de constancia de los sistemas de visualización de imágenes en su entorno.
  • DIN EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico (ISO 1463:2021); Versión alemana EN ISO 1463:2021
  • DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodizado del aluminio y sus aleaciones - Determinación del espesor de recubrimientos de oxidación anódica - Medición no destructiva mediante microscopio de haz dividido (ISO 2128:2010); Versión alemana EN ISO 2128:2010

ES-UNE, Medición de imágenes de microscopio.

  • UNE-EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2021)
  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • UNE-EN 62341-6-3:2012 Pantallas de diodos orgánicos emisores de luz (OLED) - Parte 6-3: Métodos de medición de la calidad de la imagen (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)
  • UNE-EN 62341-5-3:2013 Pantallas de Diodos Orgánicos Emisores de Luz (OLED) - Parte 5-3: Métodos de medición de la adherencia de la imagen y su vida útil (Ratificada por AENOR en enero de 2014.)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medición de imágenes de microscopio.

  • GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
  • GB/T 32282-2015 Medición de la densidad de dislocación en monocristal de nitruro de galio mediante microscopía de catodoluminiscencia
  • GB/T 10561-2005 Acero. Determinación del contenido de inclusiones no metálicas. Método micrográfico mediante diagramas estándar.
  • GB/T 10561-2023 Método de examen microscópico de tabla de clasificación estándar para la determinación del contenido de inclusiones no metálicas en el acero
  • GB/T 8014.3-2005 Anodizado de aluminio y sus aleaciones: método de medición del espesor de recubrimientos de óxido anódico Parte 3: Método de microscopio de haz dividido

Professional Standard - Nuclear Industry, Medición de imágenes de microscopio.

  • EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante

AENOR, Medición de imágenes de microscopio.

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  • UNE-EN ISO 1463:2005 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2003).
  • UNE-EN ISO 2128:2011 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del espesor de los recubrimientos de oxidación anódica. Medición no destructiva mediante microscopio de haz dividido (ISO 2128:2010).

Lithuanian Standards Office , Medición de imágenes de microscopio.

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
  • LST EN ISO 1463:2004 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2003).
  • LST EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2021)
  • LST ISO 8672:2001 Calidad del aire. Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases. Método de filtro de membrana
  • LST EN ISO 2128:2011 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del espesor de los recubrimientos de oxidación anódica. Medición no destructiva mediante microscopio de haz dividido (ISO 2128:2010).

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  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

CH-SNV, Medición de imágenes de microscopio.

  • SN EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2021)
  • SNV 742 402.13-1970 Neumáticos y llantasPresión de aire y cargaNeumáticos radiales para furgonetas
  • VSM 34130-1934 Drehst?hlemit Schneiden aus SchnellstahlEinstechst?hleWerkzeug Nr. 20
  • VSM 18653.1-1965 RohrleitungenFlansche mit Feder und NutEindrehung für Rundgummidichtung 1)ND 40 bis 160; NO 100 a 550

NO-SN, Medición de imágenes de microscopio.

  • NS 1181-1979 Recubrimiento de metal y óxido: medición del espesor mediante examen microscópico de secciones transversales

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Medición de imágenes de microscopio.

  • EN 62341-6-3:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-3: Métodos de medición de la calidad de la imagen

Association for Information and Image Management (AIIM), Medición de imágenes de microscopio.

  • AIIM MS17-2001 Gestión de información e imágenes - Micrografía - Cámara de microfilm rotativa (de flujo) Gráfico de prueba y objetivo de prueba - Descripciones y uso

BE-NBN, Medición de imágenes de microscopio.

  • NBN F 51-005-1986 INDICADORES DE CALIDAD DE IMÁGENES RADIOGRAFICAS PARA LES SAIS PRINCIPIOS E IDENTIFICACIÓN NO DESTRUCTIVOS

工业和信息化部, Medición de imágenes de microscopio.

  • SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

YU-JUS, Medición de imágenes de microscopio.

  • JUS C.A3.013-1987 Determinación del contenido de inclusiones no metálicas en acero/. Método micrográfico utilizando diagramas estándar.
  • JUS U.M1.056-1993 Hormigón: determinación del contenido y del factor de distancia de los poros del hormigón celular mediante análisis con microscopio lineal

TIA - Telecommunications Industry Association, Medición de imágenes de microscopio.

  • TIA/EIA-455-45-B-1992 Método FOTP-45 para medir la geometría de la fibra óptica utilizando un microscopio de laboratorio (retirado en mayo de 2003)

IT-UNI, Medición de imágenes de microscopio.

  • UNI 6500-1969 Rivestimenti per ossidazione anodica dell'alluminio e delle sue leghe Misura dello spessore degli strati mediante microscopio a sezione ottica

Professional Standard - Commodity Inspection, Medición de imágenes de microscopio.

  • SN/T 3131-2012 Determinación de amianto en gomas de frenos de bicicletas. Microscopio de luz palarizada y método de difracción de rayos X.

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Medición de imágenes de microscopio.

  • EN 62341-5-3:2013 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 5-3: Métodos de medición de la adherencia de imágenes y su vida útil




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