ZH
EN
ES

Измерение изображений микроскопа

Измерение изображений микроскопа, Всего: 235 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Измерение изображений микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Приложения для обработки изображений документов, Аналитическая химия, Фотография, Керамика, Электрические провода и кабели, Электронные устройства отображения, Жидкостные энергетические системы, Сельское и лесное хозяйство, Качество воздуха, Текстильные волокна, Неразрушающий контроль, Оптика и оптические измерения, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Испытание металлов, Обработка поверхности и покрытие, Условия и процедуры испытаний в целом, Материалы для аэрокосмического строительства, Физика. Химия, Угли, Атомная энергетика, Технологические процессы древесины, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Микробиология, Строительные материалы, Коррозия металлов.

British Standards Institution (BSI), Измерение изображений микроскопа

BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
BS ISO 11698-1:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Характеристики тестовых изображений
BS ISO 7565:1993 Микрографика. Считыватели прозрачных микроформ. Измерение характеристик
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках — специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект сетчатой двери
BS ISO 11698-2:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Критерии качества и контроль
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 14648-1:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения
BS ISO 14648-2:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ применения.
PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
BS ISO 6200:1999 Микрографика. Серебряно-желатиновые микроформы первичных документов первого поколения. Характеристики плотности и метод измерения
BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS IEC 62906-5-3:2021 Лазерные отображающие устройства. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев
BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
BS IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, для сканирования лазерных дисплеев.
18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения качества изображения
BS ISO 14648-1:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
BS ISO 14648-2:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ использования.
BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 8126:2019 Отслеживаемые изменения. Микрографика. Дублирующая пленка, серебряная, диазо- и везикулярная. Технические характеристики и измерение визуальной плотности
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS EN 62341-5-3:2013 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения прилипания и срока службы изображения
18/30382465 DC БС ЕН МЭК 62906-5-3. Лазерные отображающие устройства. Часть 5-3. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
14/30312971 DC БС ЕН 62341-6-3. Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения
20/30425220 DC БС ЕН МЭК 63145-21-20. Показ очков. Часть 21-20. Конкретные методы измерения качества изображения VR. Эффект экранной двери

International Organization for Standardization (ISO), Измерение изображений микроскопа

ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO/TS 20793:2019 Фотография. Лентикулярная печать для изменения изображений. Измерение качества изображения.
ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
ISO 19232-5:2004 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Показатели качества изображения (тип дуплексной проволоки). Определение значения нерезкости изображения.
ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.
ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 4967:1998 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод по стандартным диаграммам.
ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 4967:2013 Сталь.Определение содержания неметаллических включений.Микрографический метод по стандартным диаграммам.

Association Francaise de Normalisation, Измерение изображений микроскопа

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF EN ISO 4499-1:2020 Твердые металлы. Металлографическое определение микроструктуры. Часть 1: микрофотоснимки и описание.
NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A04-106:1984 Железо и сталь. Методы определения содержания неметаллических включений в деформируемых сталях. Часть II: микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
NF EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3: методы измерения качества изображения
NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа.
NF C96-541-5-3*NF EN 62341-5-3:2014 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения прилипания изображения и срока службы.
NF EN 62341-5-3:2014 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения срока службы и сохранения изображения.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Измерение изображений микроскопа

JJF 1819-2020 Спецификация калибровки для медицинских анализаторов микроизображений

Standard Association of Australia （SAA）, Измерение изображений микроскопа

IEC 63145-20-20:2019 Дисплей для очков. Часть 20-20. Основные методы измерения. Качество изображения.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Измерение изображений микроскопа

ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
ASTM C1678-10 Стандартная практика фрактографического анализа размеров зеркал излома керамики и стекла
ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM D5235-13 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM D5235-14 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM D5235-97 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5770-02 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-96 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-02(2007) Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM F3294-18 Стандартное руководство по проведению количественных измерений интенсивности флуоресценции в клеточных анализах с помощью широкопольной эпифлуоресцентной микроскопии
ASTM B487-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
ASTM C1356-96(2001) Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM B487-85(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
ASTM B651-83(2001) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(1995) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2006) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2015) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM D7971-15 Стандартное руководство по измерению округлости стеклянных сфер с помощью цифрового анализатора изображений с проточным потоком
ASTM B651-83(2010) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Измерение изображений микроскопа

JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS M 8816:1992 Топливо твердое минеральное. Методы микроскопического измерения мацералов и отражательной способности
JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

未注明发布机构, Измерение изображений микроскопа

BS 3406-4:1993(1999) Методы определения распределения частиц по размерам. Часть 4. Руководство по методам микроскопии и анализа изображений.
BS ISO 10550:1994(1999) Микрографика — Планетарные камеры — Тестовая мишень для проверки производительности

(U.S.) Ford Automotive Standards, Измерение изображений микроскопа

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОБЕЗУГЛЕГРУЖЕНИЯ ПРУЖИННЫХ СТАЛЕЙ

International Electrotechnical Commission (IEC), Измерение изображений микроскопа

IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках. Часть 21–20. Специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект экранной двери
IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Часть 5–7. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, при сканировании лазерных дисплеев.
IEC 62629-62-11:2022 Устройства отображения 3D. Часть 62-11. Методы измерения типа виртуального изображения. Оптические.
IEC 62341-5-3:2019 RLV Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения прилипания изображения и срока службы.
IEC 62341-5-3:2019 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения прилипания изображения и срока службы.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Измерение изображений микроскопа

KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 0204-2007 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие－Измерение толщины покрытия－Микроскопический метод
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 0204-1982 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS C 7114-2008(2018) Плазменные панели дисплея (PDP) – метод измерения разрешения движущегося изображения.
KS X ISO 11698-1-2002(2012) Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS X ISO 11698-1:2002 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS X ISO 11698-1:2013 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS X ISO 14648-2:2007 Микрографика. Контроль качества COM-регистраторов, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 2. Способ использования.
KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS D 0204-2007(2022) Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D 0204-2002 Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D 0204-2007(2017) Сталь－Определение содержания неметаллических включений－Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS X ISO 14648-1:2007 Микрографика. Контроль качества устройств записи COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 1. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
KS X ISO 14648-1-2007(2017) Микрографика. Контроль качества устройств записи COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 1. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
KS X ISO 14648-1-2007(2022) Микрографика. Контроль качества устройств записи COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Часть 1. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
KS I ISO 8672:2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.
KS I ISO 8672-2006(2017) Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).
KS X ISO 14648-2-2007(2022) Микрографика－Контроль качества COM-регистраторов, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения－Часть 2:Метод использования
KS X ISO 14648-2-2007(2017) Микрографика－Контроль качества COM-регистраторов, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения－Часть 2:Метод использования
KS X ISO 11698-2-2007(2012) Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 2. Критерии качества и контроль.

CZ-CSN, Измерение изображений микроскопа

CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа

农业农村部, Измерение изображений микроскопа

NY/T 2870-2015 Метод микроскопических изображений для быстрого определения линейной плотности волокон джута и кенафа.

VN-TCVN, Измерение изображений микроскопа

TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.

PT-IPQ, Измерение изображений микроскопа

NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
NP 3563-1988 Текстиль Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод

KR-KS, Измерение изображений микроскопа

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS I ISO 8672-2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.

European Committee for Standardization (CEN), Измерение изображений микроскопа

EN ISO 19232-5:2013 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение значения нерезкости изображения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа [Заменено: CEN EN 462-5]
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

CEN - European Committee for Standardization, Измерение изображений микроскопа

EN ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.

FI-SFS, Измерение изображений микроскопа

SFS 3458-1989 пластик. Микроскопическое определение содержания черной сажи в полиэтилене

Association of German Mechanical Engineers, Измерение изображений микроскопа

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, Измерение изображений микроскопа

DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
DS/EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
DS/EN ISO 2128:2010 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа.

SE-SIS, Измерение изображений микроскопа

SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
SIS SMS 2953-1971 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений.

PL-PKN, Измерение изображений микроскопа

PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.

RU-GOST R, Измерение изображений микроскопа

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R ISO 4967-2015 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
GOST R ISO 4967-2009 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GOST R 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Измерение изображений микроскопа

T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки

German Institute for Standardization, Измерение изображений микроскопа

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN EN 62341-6-3:2013-02 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения (IEC 62341-6-3:2012); Немецкая версия EN 62341-6-3:2012.
DIN 6868-157:2022-01 Обеспечение качества изображения в диагностических рентгеновских отделениях. Часть 157. Приемка рентгеновских изображений и испытание на постоянство систем отображения изображений в их среде.
DIN 22020-5:2005-02 Исследования сырья при добыче каменного угля. Микроскопические исследования каменного угля, кокса и брикетов. Часть 5. Измерения отражательной способности витринитов / Примечание: DIN 22020-5 (1986-09) остается действительным наряду с настоящим стандартом до 2005-07 гг. -31.
DIN 6868-157:2022 Обеспечение качества изображения в диагностических рентгеновских отделениях. Часть 157. Приемка рентгеновских изображений и испытание на постоянство систем отображения изображений в их среде.
DIN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021); Немецкая версия EN ISO 1463:2021.
DIN EN ISO 2128:2010-12 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

ES-UNE, Измерение изображений микроскопа

UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения (Одобрено AENOR в ноябре 2012 г.)
UNE-EN 62341-5-3:2013 Дисплеи на органических светоизлучающих диодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения прилипания изображения и срока службы (одобрено AENOR в январе 2014 г.).

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Измерение изображений микроскопа

GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
GB/T 10561-2005 Сталь.Определение содержания неметаллических включений.Микрографический метод по эталонным диаграммам.
GB/T 10561-2023 Стандартная классификация метода микроскопического исследования для определения содержания неметаллических включений в стали
GB/T 8014.3-2005 Анодирование алюминия и его сплавов. Метод измерения толщины анодно-оксидных покрытий. Часть 3: Метод расщепленного лучевого микроскопа.

Professional Standard - Nuclear Industry, Измерение изображений микроскопа

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

AENOR, Измерение изображений микроскопа

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
UNE-EN ISO 2128:2011 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

Lithuanian Standards Office , Измерение изображений микроскопа

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
LST ISO 8672:2001 Качество воздуха. Определение количественной концентрации аэрозольных неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра
LST EN ISO 2128:2011 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

AT-ON, Измерение изображений микроскопа

OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

CH-SNV, Измерение изображений микроскопа

SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
SNV 742 402.13-1970 Правила построения габаритных эскизов электронно-лучевых трубок, измерительных трубок и кинескопных трубок
VSM 34130-1934 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии
VSM 18653.1-1965 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии

NO-SN, Измерение изображений микроскопа

NS 1181-1979 Металлическое и оксидное покрытие. Измерение толщины путем микроскопического исследования поперечного сечения.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Измерение изображений микроскопа

EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.

Association for Information and Image Management (AIIM), Измерение изображений микроскопа

AIIM MS17-2001 Управление информацией и изображениями. Микрографика. Тестовая таблица и мишень для поворотной (проточной) микропленочной камеры. Описания и использование.

BE-NBN, Измерение изображений микроскопа

NBN F 51-005-1986 Высококачественное отображение рентгеновских изображений для неразрушающего контроля. Принцип и идентификация

工业和信息化部, Измерение изображений микроскопа

SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

YU-JUS, Измерение изображений микроскопа

JUS C.A3.013-1987 Определение содержания неметаллических включений в стали/. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
JUS U.M1.056-1993 Бетон. Определение содержания и факторного расстояния между порами газобетона с помощью линейного микроскопа.

TIA - Telecommunications Industry Association, Измерение изображений микроскопа

TIA/EIA-455-45-B-1992 Метод FOTP-45 для измерения геометрии оптического волокна с помощью лабораторного микроскопа (отозвано в мае 2003 г.)

IT-UNI, Измерение изображений микроскопа

UNI 6500-1969 Анодирование накладок из алюминия и его сплавов. Измерение толщины футеровки оптическим микроскопом

Professional Standard - Commodity Inspection, Измерение изображений микроскопа

SN/T 3131-2012 Определение асбеста в велосипедных тормозных накладках. Паларизованный световой микроскоп и рентгеновский дифракционный метод.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Измерение изображений микроскопа

EN 62341-5-3:2013 Дисплеи на органических светоизлучающих диодах (OLED). Часть 5-3. Методы измерения прилипания изображения и срока службы