ZH
EN
ES
Измерение изображения с помощью микроскопа
Измерение изображения с помощью микроскопа, Всего: 221 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Измерение изображения с помощью микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Приложения для обработки изображений документов, Аналитическая химия, Фотография, Сельское и лесное хозяйство, Электронные устройства отображения, Электрические провода и кабели, Жидкостные энергетические системы, Керамика, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Физика. Химия, Оптика и оптические измерения, Текстильные вспомогательные материалы, Качество воздуха, Текстильные волокна, Неразрушающий контроль, Обработка поверхности и покрытие, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Линейные и угловые измерения, Электрооборудование для работы в особых условиях, Микробиология, Механические испытания, Испытание металлов, Условия и процедуры испытаний в целом, Материалы для аэрокосмического строительства, Метрология и измерения в целом, Атомная энергетика, Угли, Технологические процессы древесины.
British Standards Institution (BSI), Измерение изображения с помощью микроскопа
- BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
- BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
- BS ISO 6196-5:1987 Микрографика. Словарный запас. Качество изображений, читаемость, проверка
- BS ISO 7565:1993 Микрографика. Считыватели прозрачных микроформ. Измерение характеристик
- BS ISO 11698-1:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Характеристики тестовых изображений
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках — специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект сетчатой двери
- BS ISO 11698-2:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Критерии качества и контроль
- BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- BS ISO 446:2004 Микрографика. Символ ISO и таблица испытаний ISO № 1. Описание и применение.
- BS ISO 14648-2:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ применения.
- BS ISO 14648-1:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения
- PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
- BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
- BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- BS ISO 6200:1999 Микрографика. Серебряно-желатиновые микроформы первичных документов первого поколения. Характеристики плотности и метод измерения
- BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
- BS IEC 62906-5-3:2021 Лазерные отображающие устройства. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев
- BS EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели. Методы измерения. Визуальное качество. Артефакты изображения
- BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
- BS IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, для сканирования лазерных дисплеев.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS EN 61988-2-3:2009 Плазменные панели. Методы измерения. Качество изображения. Дефекты и ухудшение качества.
- BS EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения качества изображения
- 18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
- 21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- BS ISO 14648-2:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ использования.
- BS ISO 14648-1:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- BS ISO 8126:2019 Отслеживаемые изменения. Микрографика. Дублирующая пленка, серебряная, диазо- и везикулярная. Технические характеристики и измерение визуальной плотности
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
International Organization for Standardization (ISO), Измерение изображения с помощью микроскопа
- ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
- ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
- ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
- ISO/TS 20793:2019 Фотография. Лентикулярная печать для изменения изображений. Измерение качества изображения.
- ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
- ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
- ISO 19232-5:2004 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Показатели качества изображения (тип дуплексной проволоки). Определение значения нерезкости изображения.
- ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.
- ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 4967:1998 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод по стандартным диаграммам.
- ISO/CD 22262-2:2011 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
- ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
Professional Standard - Machinery, Измерение изображения с помощью микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Измерение изображения с помощью микроскопа
- JIS B 7153:1995 Измерительные микроскопы
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS M 8816:1992 Топливо твердое минеральное. Методы микроскопического измерения мацералов и отражательной способности
Professional Standard - Finance, Измерение изображения с помощью микроскопа
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Измерение изображения с помощью микроскопа
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS X ISO 6196-5-2007(2012) Микрография-Словарь-Часть 5:Качество изображений, разборчивость, проверка
- KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS E 4005-2007(2012) Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS E 4005-1981 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
- KS D 0204-2007 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие-Измерение толщины покрытия-Микроскопический метод
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D 0204-1982 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
- KS C 7114-2008(2018) Плазменные панели дисплея (PDP) – метод измерения разрешения движущегося изображения.
- KS C 7116-2008(2018) Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Метод измерения прилипания изображения.
- KS X ISO 11698-1-2002(2012) Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
- KS X ISO 11698-1:2002 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
- KS X ISO 11698-1:2013 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
- KS C IEC 61988-2-3:2007 Плазменные панели-Часть 2-3:Методы измерения-Качество
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Измерение изображения с помощью микроскопа
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Измерение изображения с помощью микроскопа
- JJF 1819-2020 Спецификация калибровки для медицинских анализаторов микроизображений
Association Francaise de Normalisation, Измерение изображения с помощью микроскопа
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF EN ISO 4499-1:2020 Твердые металлы. Металлографическое определение микроструктуры. Часть 1: микрофотоснимки и описание.
- NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
- NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
- NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A04-106:1984 Железо и сталь. Методы определения содержания неметаллических включений в деформируемых сталях. Часть II: микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF C96-541-6-3*NF EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
- NF C93-548-2-3*NF EN 61988-2-3:2010 Плазменные панели дисплея. Часть 2-3. Методы измерения. Качество изображения: дефекты и ухудшение качества.
- NF C93-548-2-4*NF EN 61988-2-4:2012 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.
- NF EN 61988-2-4:2012 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.
未注明发布机构, Измерение изображения с помощью микроскопа
- BS ISO 6196-5:1987(2000) Микрографика. Словарь. Часть 5. Качество изображений, разборчивость, проверка.
- BS 3406-4:1993(1999) Методы определения распределения частиц по размерам. Часть 4. Руководство по методам микроскопии и анализа изображений.
- BS ISO 10550:1994(1999) Микрографика — Планетарные камеры — Тестовая мишень для проверки производительности
Standard Association of Australia (SAA), Измерение изображения с помощью микроскопа
- IEC 63145-20-20:2019 Дисплей для очков. Часть 20-20. Основные методы измерения. Качество изображения.
IN-BIS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов
American Society for Testing and Materials (ASTM), Измерение изображения с помощью микроскопа
- ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
- ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
- ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
- ASTM C1678-10 Стандартная практика фрактографического анализа размеров зеркал излома керамики и стекла
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
- ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
- ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
- ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM D5235-13 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM D5235-14 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
Professional Standard - Agriculture, Измерение изображения с помощью микроскопа
- NY/T 2338-2013 Быстрое определение тонины льняного волокна. Метод микроскопического изображения.
- NY/T 2222-2012 Тест на средний диаметр и состав животного волокна. Анализатор микроскопических изображений.
TH-TISI, Измерение изображения с помощью микроскопа
- TIS 1083-1992 Стандарт для измерения толщины покрытия микроскопическим методом
International Electrotechnical Commission (IEC), Измерение изображения с помощью микроскопа
- IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках. Часть 21–20. Специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект экранной двери
- IEC 62906-5-3:2021 Лазерные устройства отображения. Часть 5-3. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев.
- IEC 62341-6-3:2017 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
- IEC 61988-2-3:2009 Плазменные панели дисплея. Часть 2-3. Методы измерения. Качество изображения. Дефекты и ухудшение качества.
- IEC 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
(U.S.) Ford Automotive Standards, Измерение изображения с помощью микроскопа
工业和信息化部, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SJ/T 11727-2018 Метод измерения качества изображения портативного устройства отображения
Professional Standard - Petrochemical Industry, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SH/T 0336-1994 Метод определения содержания примесей смазки (микроскопический метод)
Group Standards of the People's Republic of China, Измерение изображения с помощью микроскопа
- T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
- T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки
- T/CSP 8-2021 Технология частиц — Анализ размера микропузырьков — Метод анализа погруженных динамических изображений.
CZ-CSN, Измерение изображения с помощью микроскопа
- CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа
- CSN ISO 1463:1993 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Измерение изображения с помощью микроскопа
- GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
- GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
- GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
- GB/T 6462-1986 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
农业农村部, Измерение изображения с помощью микроскопа
- NY/T 2870-2015 Метод микроскопических изображений для быстрого определения линейной плотности волокон джута и кенафа.
VN-TCVN, Измерение изображения с помощью микроскопа
- TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.
PT-IPQ, Измерение изображения с помощью микроскопа
- NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
- NP 3563-1988 Текстиль Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Измерение изображения с помощью микроскопа
KR-KS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
- KS C 7116-2008(2023) Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Метод измерения прилипания изображения.
European Committee for Standardization (CEN), Измерение изображения с помощью микроскопа
- EN ISO 19232-5:2013 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение значения нерезкости изображения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа [Заменено: CEN EN 462-5]
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
CEN - European Committee for Standardization, Измерение изображения с помощью микроскопа
- EN ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.
Danish Standards Foundation, Измерение изображения с помощью микроскопа
- DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
- DS/IEC 62906-5-3:2021 Лазерные устройства отображения. Часть 5-3. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев.
- DS/EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.
FI-SFS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SFS 3458-1989 пластик. Микроскопическое определение содержания черной сажи в полиэтилене
Association of German Mechanical Engineers, Измерение изображения с помощью микроскопа
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
SE-SIS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS 11 11 16-1987 Сталь - Метод оценки содержания неметаллических включений - Микроскопические методы - Ернконторецкая таблица включений II для оценки неметаллических включений
RO-ASRO, Измерение изображения с помощью микроскопа
- STAS 10552-1976 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ДЕЛЬТА-ФЕРРИТА В НАПЛАВЛЕННОМ МЕТАЛЛЕ ПРИ СВАРКЕ АУСТЕНИТНЫХ СТАЛЕЙ Микроскопический метод
- STAS 9070-1981 ШЕРСТЬ. Определение диаметра волокон и содержания сердцевинных волокон с помощью проекционного микроскопа.
ZA-SANS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
German Institute for Standardization, Измерение изображения с помощью микроскопа
- DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN 61988-2-4:2012-04 Панели плазменного дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения (IEC 61988-2-4:2011); Немецкая версия EN 61988-2-4:2011
PL-PKN, Измерение изображения с помощью микроскопа
- PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.
RU-GOST R, Измерение изображения с помощью микроскопа
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R ISO 4967-2015 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
ES-UNE, Измерение изображения с помощью микроскопа
- UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2–4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения (одобрено AENOR в январе 2012 г.)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Измерение изображения с помощью микроскопа
- GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
PH-BPS, Измерение изображения с помощью микроскопа
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Professional Standard - Nuclear Industry, Измерение изображения с помощью микроскопа
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа
Professional Standard - Commodity Inspection, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SN/T 3231-2012 Определение асбеста в тальке. Поляризационный микроскоп и рентгеноструктурный метод.
AENOR, Измерение изображения с помощью микроскопа
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
- UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
Lithuanian Standards Office , Измерение изображения с помощью микроскопа
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
- LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
- LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
AT-ON, Измерение изображения с помощью микроскопа
- OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
CH-SNV, Измерение изображения с помощью микроскопа
- SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Измерение изображения с помощью микроскопа
- EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.