ZH
EN
ES

Измерительный микроскоп изображения

Измерительный микроскоп изображения, Всего: 221 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Измерительный микроскоп изображения, являются: Оптическое оборудование, Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Приложения для обработки изображений документов, Аналитическая химия, Фотография, Сельское и лесное хозяйство, Электронные устройства отображения, Электрические провода и кабели, Жидкостные энергетические системы, Керамика, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Физика. Химия, Оптика и оптические измерения, Текстильные вспомогательные материалы, Качество воздуха, Текстильные волокна, Неразрушающий контроль, Обработка поверхности и покрытие, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Линейные и угловые измерения, Электрооборудование для работы в особых условиях, Микробиология, Механические испытания, Испытание металлов, Условия и процедуры испытаний в целом, Материалы для аэрокосмического строительства, Метрология и измерения в целом, Атомная энергетика, Угли, Технологические процессы древесины.

British Standards Institution (BSI), Измерительный микроскоп изображения

BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
BS ISO 6196-5:1987 Микрографика. Словарный запас. Качество изображений, читаемость, проверка
BS ISO 7565:1993 Микрографика. Считыватели прозрачных микроформ. Измерение характеристик
BS ISO 11698-1:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Характеристики тестовых изображений
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках — специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект сетчатой двери
BS ISO 11698-2:2000 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого сканерами апертурных карт. Критерии качества и контроль
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 446:2004 Микрографика. Символ ISO и таблица испытаний ISO № 1. Описание и применение.
BS ISO 14648-2:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ применения.
BS ISO 14648-1:2001 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения
PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
BS ISO 6200:1999 Микрографика. Серебряно-желатиновые микроформы первичных документов первого поколения. Характеристики плотности и метод измерения
BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS IEC 62906-5-3:2021 Лазерные отображающие устройства. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев
BS EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели. Методы измерения. Визуальное качество. Артефакты изображения
BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
BS IEC 62906-5-7:2022 Лазерные дисплеи. Методы измерения качества изображения, на которое влияют спеклы, для сканирования лазерных дисплеев.
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS EN 61988-2-3:2009 Плазменные панели. Методы измерения. Качество изображения. Дефекты и ухудшение качества.
BS EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения качества изображения
18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 14648-2:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Способ использования.
BS ISO 14648-1:2002 Микрографика. Контроль качества регистраторов COM, генерирующих изображения с использованием единой внутренней системы отображения. Характеристики объекта тестирования программного обеспечения.
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
BS ISO 8126:2019 Отслеживаемые изменения. Микрографика. Дублирующая пленка, серебряная, диазо- и везикулярная. Технические характеристики и измерение визуальной плотности
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов

International Organization for Standardization (ISO), Измерительный микроскоп изображения

ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO/TS 20793:2019 Фотография. Лентикулярная печать для изменения изображений. Измерение качества изображения.
ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
ISO 19232-5:2004 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Показатели качества изображения (тип дуплексной проволоки). Определение значения нерезкости изображения.
ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.
ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 4967:1998 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод по стандартным диаграммам.
ISO/CD 22262-2:2011 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем

Professional Standard - Machinery, Измерительный микроскоп изображения

JB/T 9339-1999 Измерительный микроскоп
JB/T 9349-1999 Измерительные ножи для инструментального микроскопа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Измерительный микроскоп изображения

JIS B 7153:1995 Измерительные микроскопы
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS M 8816:1992 Топливо твердое минеральное. Методы микроскопического измерения мацералов и отражательной способности

Professional Standard - Finance, Измерительный микроскоп изображения

JRT 0267-2023

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Измерительный микроскоп изображения

KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS X ISO 6196-5-2007(2012) Микрография－Словарь－Часть 5:Качество изображений, разборчивость, проверка
KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS E 4005-2007(2012) Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS E 4005-1981 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS D 0204-2007 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие－Измерение толщины покрытия－Микроскопический метод
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 0204-1982 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS C 7114-2008(2018) Плазменные панели дисплея (PDP) – метод измерения разрешения движущегося изображения.
KS C 7116-2008(2018) Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Метод измерения прилипания изображения.
KS X ISO 11698-1-2002(2012) Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS X ISO 11698-1:2002 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS X ISO 11698-1:2013 Микрографика. Методы измерения качества изображения, получаемого с помощью сканеров апертурных карт. Часть 1. Характеристики тестовых изображений.
KS C IEC 61988-2-3:2007 Плазменные панели－Часть 2－3:Методы измерения－Качество

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Измерительный микроскоп изображения

JJG 571-2004 Читающий микроскоп и измерительный микроскоп
JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Измерительный микроскоп изображения

JJF 1819-2020 Спецификация калибровки для медицинских анализаторов микроизображений

Association Francaise de Normalisation, Измерительный микроскоп изображения

NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF EN ISO 4499-1:2020 Твердые металлы. Металлографическое определение микроструктуры. Часть 1: микрофотоснимки и описание.
NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A04-106:1984 Железо и сталь. Методы определения содержания неметаллических включений в деформируемых сталях. Часть II: микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF C96-541-6-3*NF EN 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
NF C93-548-2-3*NF EN 61988-2-3:2010 Плазменные панели дисплея. Часть 2-3. Методы измерения. Качество изображения: дефекты и ухудшение качества.
NF C93-548-2-4*NF EN 61988-2-4:2012 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.
NF EN 61988-2-4:2012 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.

未注明发布机构, Измерительный микроскоп изображения

BS ISO 6196-5:1987(2000) Микрографика. Словарь. Часть 5. Качество изображений, разборчивость, проверка.
BS 3406-4:1993(1999) Методы определения распределения частиц по размерам. Часть 4. Руководство по методам микроскопии и анализа изображений.
BS ISO 10550:1994(1999) Микрографика — Планетарные камеры — Тестовая мишень для проверки производительности

Standard Association of Australia （SAA）, Измерительный микроскоп изображения

IEC 63145-20-20:2019 Дисплей для очков. Часть 20-20. Основные методы измерения. Качество изображения.

IN-BIS, Измерительный микроскоп изображения

IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов

American Society for Testing and Materials (ASTM), Измерительный микроскоп изображения

ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM C1678-10 Стандартная практика фрактографического анализа размеров зеркал излома керамики и стекла
ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM D5235-13 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM D5235-14 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины

Professional Standard - Agriculture, Измерительный микроскоп изображения

NY/T 2338-2013 Быстрое определение тонины льняного волокна. Метод микроскопического изображения.
NY/T 2222-2012 Тест на средний диаметр и состав животного волокна. Анализатор микроскопических изображений.

TH-TISI, Измерительный микроскоп изображения

TIS 1083-1992 Стандарт для измерения толщины покрытия микроскопическим методом

International Electrotechnical Commission (IEC), Измерительный микроскоп изображения

IEC 63145-21-20:2022 Дисплей в очках. Часть 21–20. Специальные методы измерения качества изображения VR. Эффект экранной двери
IEC 62906-5-3:2021 Лазерные устройства отображения. Часть 5-3. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев.
IEC 62341-6-3:2017 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.
IEC 61988-2-3:2009 Плазменные панели дисплея. Часть 2-3. Методы измерения. Качество изображения. Дефекты и ухудшение качества.
IEC 62341-6-3:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображения.

(U.S.) Ford Automotive Standards, Измерительный микроскоп изображения

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОБЕЗУГЛЕГРУЖЕНИЯ ПРУЖИННЫХ СТАЛЕЙ

工业和信息化部, Измерительный микроскоп изображения

SJ/T 11727-2018 Метод измерения качества изображения портативного устройства отображения

Professional Standard - Petrochemical Industry, Измерительный микроскоп изображения

SH/T 0336-1994 Метод определения содержания примесей смазки (микроскопический метод)

Group Standards of the People's Republic of China, Измерительный микроскоп изображения

T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки
T/CSP 8-2021 Технология частиц — Анализ размера микропузырьков — Метод анализа погруженных динамических изображений.

CZ-CSN, Измерительный микроскоп изображения

CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа
CSN ISO 1463:1993 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Измерительный микроскоп изображения

GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
GB/T 6462-1986 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.

农业农村部, Измерительный микроскоп изображения

NY/T 2870-2015 Метод микроскопических изображений для быстрого определения линейной плотности волокон джута и кенафа.

VN-TCVN, Измерительный микроскоп изображения

TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.

PT-IPQ, Измерительный микроскоп изображения

NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
NP 3563-1988 Текстиль Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Измерительный микроскоп изображения

IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Распределение частиц припоя по размерам – метод измерительного микроскопа

KR-KS, Измерительный микроскоп изображения

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS C 7116-2008(2023) Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Метод измерения прилипания изображения.

European Committee for Standardization (CEN), Измерительный микроскоп изображения

EN ISO 19232-5:2013 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение значения нерезкости изображения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа [Заменено: CEN EN 462-5]
EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).

CEN - European Committee for Standardization, Измерительный микроскоп изображения

EN ISO 19232-5:2018 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 5. Определение нечеткости изображения и значения основного пространственного разрешения с использованием дуплексных индикаторов качества изображения проволочного типа.

Danish Standards Foundation, Измерительный микроскоп изображения

DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
DS/IEC 62906-5-3:2021 Лазерные устройства отображения. Часть 5-3. Методы измерения качества изображения для лазерных проекционных дисплеев.
DS/EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.

FI-SFS, Измерительный микроскоп изображения

SFS 3458-1989 пластик. Микроскопическое определение содержания черной сажи в полиэтилене

Association of German Mechanical Engineers, Измерительный микроскоп изображения

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

SE-SIS, Измерительный микроскоп изображения

SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS 11 11 16-1987 Сталь - Метод оценки содержания неметаллических включений - Микроскопические методы - Ернконторецкая таблица включений II для оценки неметаллических включений

RO-ASRO, Измерительный микроскоп изображения

STAS 10552-1976 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ДЕЛЬТА-ФЕРРИТА В НАПЛАВЛЕННОМ МЕТАЛЛЕ ПРИ СВАРКЕ АУСТЕНИТНЫХ СТАЛЕЙ Микроскопический метод
STAS 9070-1981 ШЕРСТЬ. Определение диаметра волокон и содержания сердцевинных волокон с помощью проекционного микроскопа.

ZA-SANS, Измерительный микроскоп изображения

SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.

German Institute for Standardization, Измерительный микроскоп изображения

DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN 61988-2-4:2012-04 Панели плазменного дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения (IEC 61988-2-4:2011); Немецкая версия EN 61988-2-4:2011

PL-PKN, Измерительный микроскоп изображения

PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.

RU-GOST R, Измерительный микроскоп изображения

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R ISO 4967-2015 Сталь. Определение содержания неметаллических включений. Микрографический метод с использованием стандартных диаграмм.

ES-UNE, Измерительный микроскоп изображения

UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2–4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения (одобрено AENOR в январе 2012 г.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Измерительный микроскоп изображения

GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).

PH-BPS, Измерительный микроскоп изображения

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Nuclear Industry, Измерительный микроскоп изображения

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, Измерительный микроскоп изображения

SN/T 3231-2012 Определение асбеста в тальке. Поляризационный микроскоп и рентгеноструктурный метод.

AENOR, Измерительный микроскоп изображения

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).

Lithuanian Standards Office , Измерительный микроскоп изображения

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)

AT-ON, Измерительный микроскоп изображения

OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)

CH-SNV, Измерительный микроскоп изображения

SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Измерительный микроскоп изображения

EN 61988-2-4:2011 Плазменные панели дисплея. Часть 2-4. Методы измерения. Визуальное качество: артефакты изображения.